【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及原子力显微镜的扫描探头。
技术介绍
原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)是人类在纳米尺度进行科学研究时使用的一种专业形貌测量仪器。原子力显微镜最基本的工作原理是对力敏感的易弯曲悬臂上的尖端对样品表面作光栅扫描,悬臂与样品表面间力的作用造成悬臂的微小偏转。这种偏转被检测并用作反馈信号。通过保持力的恒定,可获得恒力形貌像。 为了探测悬臂的微偏转,科学家们曾开发出许多不同的方法,其中光杠杆法是一种非常简单而有效的方法。该方法具有性能稳定、精度高,而且是线性放大等优点,现有的AFM扫描探头一般都是基于这一方法设计的。这种扫描探头通常都是由激光器、反射镜、带有针尖的微悬臂、四象限光电位置检测器组成的。 这种探头在使用时需要操作者用肉眼观察激光光点是否打在微悬臂上。微悬臂的尺寸通常是230微米长,40微米宽,用肉眼观察很困难。只有熟练的操作者才能掌握调节激光的方法。为此,在探头外部配置体视镜和监视器来辅助观察,可以达到放大观察的目的。但由于微悬臂尺寸太小,每次观察微悬臂时都要移动体视镜镜头,调节非常麻烦。而且监视器的体积较大,使得整套原子力显微镜系统显得很臃肿。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有原子力显微镜扫描探头不便观察及调节激光光点的缺陷,提出一种观察调节激光光点更为方便的原子力显微镜探头。 为实现上述目的,本专利技术采取如下的技术方案 本专利技术在带有针尖的微悬臂上方安置放大镜组件。放大镜组件包括放大镜片和调焦镜筒。放大镜片采用标准的10×消色差物镜和标准的10×/18广角目镜。调焦镜筒是 ...
【技术保护点】
一种原子力显微镜的扫描探头,包括激光器[1],反射镜[2],反射镜[3],四象限光电位置检测器[4],微悬臂[5],其特征在于,还包括放大镜组件和CCD[10],放大镜组件包括放大镜片和调焦镜筒[8];放大镜片包括物镜[7]和目镜[9],放大镜组件安装在带有针尖的微悬臂[5]正上方,调焦镜筒[8]固定在扫描探头壳体[11]的顶部,可调节伸缩,调焦镜筒[8]的下部和上部通过螺纹口分别连接物镜[7]和目镜[9];目镜[9]上有C型接口与CCD[10]相连,CCD[10]的输出端可以从扫描探头外部通过视频采集卡连接到电脑上,也可以先接到电视机盒上再通过USB口与电脑相连。
【技术特征摘要】
1.一种原子力显微镜的扫描探头,包括激光器[1],反射镜[2],反射镜[3],四象限光电位置检测器[4],微悬臂[5],其特征在于,还包括放大镜组件和CCD[10],放大镜组件包括放大镜片和调焦镜筒[8];放大镜片包括物镜[7]和目镜[9],放大镜组件安装在带有针尖的微悬臂[5]正上方,...
【专利技术属性】
技术研发人员:原剑,林云生,左燕生,韩立,
申请(专利权)人:中国科学院电工研究所,
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]
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