【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
【技术保护点】
一种检测构件(1)、尤其是分层系统(1)的微结构变化的方法,通过至少两次,尤其更多次测量所述构件(1)的至少一种材料参数,其中,采用一种测量方法确定一种从参数组电容、热导率、单位热容量、珀尔帖系数、磁导率、铁电现象、热电现象、超声波或机械压头试验中选出的材料参数。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员:迈克尔丹克特,马丁费尔德赫格,斯蒂芬艾尔米施,马赛厄斯奥克斯纳,埃卡特舒曼,沃纳斯坦姆,
申请(专利权)人:西门子公司,
类型:发明
国别省市:DE[德国]
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