触控屏温度状态的检测方法、装置、触控芯片及电子设备制造方法及图纸

一种触控屏温度状态的检测方法、装置、触控芯片及电子设备，其中，触控屏温度状态的检测方法包括：根据每个温度监控节点在每个采样周期内的多个采样特征值，确定每个温度监控节点在对应采样周期内的原始特征值，所述温度监控节点选自触控阵列中的若干电容节点(S501)；根据所有温度监控节点在每个采样周期内的原始特征值，计算每个采样周期内的原始特征统计值，并基于对应采样周期内的原始特征统计值，检测所述触控屏的温度状态(S502)。触控屏温度状态的检测方法避免了消点、冒点等异常情形的出现，进一步避免正常的触控控制逻辑被干扰，提高了用户体验。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】触控屏温度状态的检测方法、装置、触控芯片及电子设备
本申请实施例涉及触控
，尤其涉及一种触控屏温度状态的检测方法、装置、触控芯片及电子设备。
技术介绍
随着人机界面技术的发展，触控技术因其操作的舒适性和方便性，得到了广泛的应用。而在具体应用时，在不同的应用场景下对触控性能也有不一样的要求，然而由于触控屏在不同的应用场景下，受不同程度的环境干扰影响，导致其触控性能受到了较大的影响。比如，由于环境温度的变化，导致触控屏的上电容节点受温度影响不一致，从而导致能检测到部分电容节点输出的特征值，并将依据这些特征值得到的坐标数据上报给主机。但是实际上，这些电容节点在触控屏上的位置实际上并未被手指接触或者其他引起电场变化的对象接触或者靠近。由此可见，由于受到温度变化的影响出现上述误报点的情形(又称之为冒点现象)，类似地再比如实际上有接触或者接近但并未上报坐标数据(又称之消点现象)，从而导致正常的触控控制逻辑被扰乱，最终导致用户体验较差。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例所解决的技术问题之一在于提供一种触控屏温度状态的检测方法、装置、触控芯片及电子设备，用以克服现有技术中的上述缺陷。本申请实施例提供了一种触控屏温度状态的检测方法，其包括：根据每个温度监控节点在每个采样周期内的多个采样特征值，确定每个温度监控节点在对应采样周期内的原始特征值，所述温度监控节点选自触控阵列中的若干电容节点；根据所有温度监控节点在每个采样周期内的原始特征值，计算每个采样周期内的原始特征统计值，并基于对应采样周期内的原始特征统计值，检测所述触控屏的温度状态。可选地，在本申请的任一实施例中，根据每个温度监控节点在每个采样周期内的多个采样特征值，计算每个温度监控节点在对应采样周期内的原始特征值，包括：对每个温度监控节点在每个采样周期内的多个采样特征值进行加和处理，以计算每个温度监控节点在对应采样周期内的原始特征值。可选地，在本申请的任一实施例中，根据所有温度监控节点在每个采样周期内的原始特征值，计算在每个采样周期内的原始特征统计值，包括：对所有温度监控节点在每个采样周期内的原始特征值进行预处理并根据预处理后的原始特征值，得到每个采样周期内的原始特征统计值。可选地，在本申请的任一实施例中，对所有温度监控节点在每个采样周期内的原始特征值进行预处理并根据预处理后的原始特征值，得到每个采样周期内的原始特征统计值，包括：对每个温度监控节点在对应采样周期内的原始特征值进行相邻差分，得到原始特征值变化量；根据所有温度监控节点在每个采样周期内的原始特征值变化量，计算每个采样周期内的原始特征统计值，并基于对应采样周期内的原始特征统计值，检测所述触控屏的温度状态。可选地，在本申请的任一实施例中，对所有温度监控节点在每个采样周期内的原始特征值进行预处理并根据预处理后的原始特征值，得到每个采样周期内的原始特征统计值，包括：对每个温度监控节点在对应采样周期内的原始特征值进行平滑处理得到平滑原始特征值；对每个温度监控节点在对应采样周期内的平滑原始特征值进行相邻差分，得到平滑原始特征值变化量；根据每个温度监控节点在对应采样周期内的所述原始特征值变化量以及所述平滑原始特征值变化量，计算每个采样周期内的原始特征统计值。可选地，在本申请的任一实施例中，根据每个温度监控节点在对应采样周期内的所述原始特征值变化量以及所述平滑原始特征值变化量，计算每个采样周期内的原始特征统计值，包括：根据每个温度监控节点在对应采样周期内的所述原始特征值变化量对所述平滑原始特征值变化量进行滤波处理，得到滤波原始特征变化量；根据所有温度监控节点在每个采样周期内的滤波原始特征变化量，计算每个采样周期内的原始特征统计值。可选地，在本申请的任一实施例中，基于对应采样周期内的原始特征统计值，检测所述触控屏的温度状态，包括：若对应采样周期内的原始特征统计值大于设定的第一阈值的次数大于第二阈值，且原始特征统计值中的最大值大于设定的第三阈值时，则所述触控屏处于升温状态。可选地，在本申请的任一实施例中，基于对应采样周期内的原始特征统计值，检测所述触控屏的温度状态，包括：若对应采样周期内的原始特征统计值小于设定的第四阈值的次数小于设定的第五阈值，且原始特征统计值中的最小值小于设定的第六阈值时，则所述触控屏处于降温状态。可选地，在本申请的任一实施例中，所述温度监控节点包括：选自触控屏触控阵列中位于左上角、左下角、右上角、右下角的电容节点。可选地，在本申请的任一实施例中，位于所述左上角、左下角的所述温度监控节点对应不同的驱动通道上；位于所述右上角、右下角的所述温度监控节点对应不同的驱动通道；位于所述左上角、右上角的所述温度监控节点对应不同的检测通道；位于所述左下角、右下角的所述温度监控节点对应不同的检测通道。可选地，在本申请的任一实施例中，所述温度监控节点还包括：选自触控屏触控阵列中位于中间位置电容节点。可选地，在本申请的任一实施例中，位于所述左上角、左下角的所述温度监控节点对应相同的驱动通道；位于所述右上角、右下角的所述温度监控节点对应相同的驱动通道；位于所述左上角、右上角的所述温度监控节点对应相同的检测通道；位于所述左下角、右下角的所述温度监控节点对应相同检测通道。可选地，在本申请的任一实施例中，所述温度监控节点选自触控屏触控阵列中位于驱动通道方向或者检测通道方向的电容节点。本申请实施例提供了一种触控屏温度状态的检测装置，其包括：特征值确定单元，用于根据每个温度监控节点在每个采样周期内的多个采样特征值，确定每个温度监控节点在对应采样周期内的原始特征值，所述温度监控节点选自触控阵列中的若干电容节点；温度状态检测单元，用于根据所有温度监控节点在每个采样周期内的原始特征值，计算每个采样周期内的原始特征统计值，并基于对应采样周期内的原始特征统计值，检测所述触控屏的温度状态。本申请实施例提供了一种触控芯片，其包括本申请任一实施例中所述的检测装置。本申请实施例提供了一种电子设备，其包括本申请任一实施例中所述的触控芯片。本申请实施例提供的技术方案中，根据每个温度监控节点在每个采样周期内的多个采样特征值，确定每个温度监控节点在对应采样周期内的原始特征值，所述温度监控节点选自触控阵列中的若干电容节点；再根据所有温度监控节点在每个采样周期内的原始特征值，计算每个采样周期内的原始特征统计值，并基于对应采样周期内的原始特征统计值，检测所述触控屏的温度状态，从而根据所述触控屏的温度状态，避免了消点、冒点等异常情形的出现，进一步避免正常的触控控制逻辑被干扰。附图说明后文将参照附图以示例性而非限制性的方式详细描述本申请实施例的一些具体实施例。附图中相同的附图标记标示了相同或类似的部件或部分。本领域技术人员应该理解，这些附图未必是按比例绘制的。附图中：图1为本申请实施例中温度监控节点的第一配置示意图；图2为本申请实施例中温度监控节本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触控屏温度状态的检测方法，其特征在于，包括：/n根据每个温度监控节点在每个采样周期内的多个采样特征值，确定每个温度监控节点在对应采样周期内的原始特征值，所述温度监控节点选自触控阵列中的若干电容节点；/n根据所有温度监控节点在每个采样周期内的原始特征值，计算每个采样周期内的原始特征统计值，并基于对应采样周期内的原始特征统计值，检测所述触控屏的温度状态。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】一种触控屏温度状态的检测方法，其特征在于，包括：
根据每个温度监控节点在每个采样周期内的多个采样特征值，确定每个温度监控节点在对应采样周期内的原始特征值，所述温度监控节点选自触控阵列中的若干电容节点；
根据所有温度监控节点在每个采样周期内的原始特征值，计算每个采样周期内的原始特征统计值，并基于对应采样周期内的原始特征统计值，检测所述触控屏的温度状态。


根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据每个温度监控节点在每个采样周期内的多个采样特征值，计算每个温度监控节点在对应采样周期内的原始特征值，包括：对每个温度监控节点在每个采样周期内的多个采样特征值进行加和处理，以计算每个温度监控节点在对应采样周期内的原始特征值。


根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所有温度监控节点在每个采样周期内的原始特征值，计算在每个采样周期内的原始特征统计值，包括：对所有温度监控节点在每个采样周期内的原始特征值进行预处理并根据预处理后的原始特征值，得到每个采样周期内的原始特征统计值。


根据权利要求3所述的方法，其特征在于，对所有温度监控节点在每个采样周期内的原始特征值进行预处理并根据预处理后的原始特征值，得到每个采样周期内的原始特征统计值，包括：
对每个温度监控节点在对应采样周期内的原始特征值进行相邻差分，得到原始特征值变化量；
根据所有温度监控节点在每个采样周期内的原始特征值变化量，计算每个采样周期内的原始特征统计值。


根据权利要求3所述的方法，其特征在于，对所有温度监控节点在每个采样周期内的原始特征值进行预处理并根据预处理后的原始特征值，得到每个采样周期内的原始特征统计值，包括：
对每个温度监控节点在对应采样周期内的原始特征值进行平滑处理得到平滑原始特征值；
对每个温度监控节点在对应采样周期内的平滑原始特征值进行相邻差分，得到平滑原始特征值变化量；
根据每个温度监控节点在对应采样周期内的所述原始特征值变化量以及所述平滑原始特征值变化量，计算每个采样周期内的原始特征统计值。


根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据每个温度监控节点在对应采样周期内的所述原始特征值变化量以及所述平滑原始特征值变化量，计算每个采样周期内的原始特征统计值，包括：
根据每个温度监控节点在对应采样周期内的所述原始特征值变化量对所述平滑原始特征值变化量进行滤波处理，得到滤波原始特征变化量；
根据所有温度监控节点在每个采样周期内的滤波原始特征变化量，计算每个采样周期内的...

【专利技术属性】
技术研发人员：周威，
申请(专利权)人：深圳市汇顶科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44