光学测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种光学测试治具，用以测试一镜头组件，其包括有一校正基准装置及一相对应的测试装置，而校正基准装置具有至少一光源及一调正幕，且测试装置具有一用以固定镜头组件的固定机构、一调整镜头组件焦距的驱动机构、及一设置于镜头组件与调正幕间的近摄滤镜，其中近摄滤镜用以缩短校正基准装置与测试装置间的相对距离，而驱动机构通过蜗轮带动齿轮组以调整镜头组件的焦距。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种光学测试治具，用以测试一镜头组件，其特征在于，包括有：　　　　一校正基准装置，其具有至少一光源及一调正幕；以及　　　　一测试装置，对应于该校正基准装置，该测试装置包括有：　　　　一固定机构，该镜头组件固定于该固定机构，并且该镜头组件对应于该调正幕；　　　　一驱动机构，连结于该镜头组件，用以调整该镜头组件的焦距；以及　　　　一近摄滤镜，设置于该镜头组件与该调正幕间的光轴位置，用以缩短该校正基准装置与该测试装置间的相对距离。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吕俊彦，梁仕儒，陈耀礼，
申请(专利权)人：华晶科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]