一种密封品检漏装置制造方法及图纸

一种密封品检漏装置，由气源、充压阀、第一平衡阀、第二平衡阀、差压压力传感器、基准件、基准件密封容器、被测件和被测件密封容器组成且通过气路管道相连，其中被测件管路与基准件管路并联且分别与差压压力传感器相连，在被测件管路和基准件管路上分别设置大漏率检测阀和配容容器；配容容器的容积相等且为被测件密封容器的容积减去被检件的体积；被测件密封容器与基准件密封容器的容积相等且能够放入被测件、基准件即可。本实用新型专利技术的优点是：该装置结构简单、操作方便、成本低；由于检测气路均采用气控阀，动作时不产生热量，保证了压差的检测精度；且检漏过程不破坏被测件，特别适用于电子芯片等密封品的检漏。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种检漏装置，特别是一种密封品检漏装置。
技术介绍
目前密封品检漏装置使用的方法主要有染料渗透检漏法、升温气泡发射检漏法、抽低气压气泡发射检漏法、背压双氟油气泡发射检漏法、氟碳气检漏法、重量增加检漏法、放射性同位素检漏法以及光学检漏法。这些方法工艺复杂、效率低、成本高，其中有的方法还属于破坏性检验方式。另外还有一种差压式气密检漏法，主要用于非密封品如汽车油箱、空调管路等的泄漏检测，该装置将被检器件通过充气口进行加压或抽真空，然后观测是否有压差判断是否有泄漏，但是不能用于密封品如电子芯片等的检漏。
技术实现思路
本技术的目的是针对上述问题，对现有的差压式气密检漏装置进行改进，提供一种结构简单、操作方便、成本低且不破坏被测件的密封品检漏装置。 本技术的技术方案 一种密封品检漏装置，由气源、充压阀、第一平衡阀、第二平衡阀、差压压力传感器、基准件、基准件密封容器、被测件和被测件密封容器组成且通过气路管道相连，其中第一平衡阀、被测件和被测件密封容器构成的管路与第二平衡阀、基准件和基准件密封容器构成的管路并联且分别与差压压力传感器相连，其特征在于在第一平衡阀、被测件和被测件密封容器构成的管路上设置第一大漏率检测阀和第一配容容器；在第二平衡阀、基准件和基准件密封容器构成的管路上设置第二大漏率检测阀和第二配容容器；第一、第二配容容器的容积相等且为被测件密封容器的容积减去被测件的体积；被测件密封容器与基准件密封容器的容积相等且能够放入被测件、基准件即可。 本技术的优点是该装置结构简单、操作方便、成本低；由于检测气路均采用了气控阀，动作时不产生热量，避免了因温度变化产生的测试误差，保证了压差的检测精度；且检漏过程不破坏被测件，特别适用于电子芯片等密封品的检漏。 附图说明附图1该密封品检漏装置气动回路示意图。 附图2压差与泄漏量对应关系曲线图。 图1中1.气源2.充压阀3.第一平衡阀4.第二平衡阀 5.第一配容容器6.第一大漏率检测阀7.差压压力传感器 8.第二大漏率检测阀9.第二配容容器10.被测件 11.被测件密封容器12.基准件13.基准件密封容器 具体实施方式 实施例一种密封品检漏装置，由气源1、充压阀2、第一平衡阀3、第二平衡阀4、差压压力传感器7、基准件12、基准件密封容器13、被测件10和被测件密封容器11组成且通过气路管道相连，其中第一平衡阀3、被测件10和被测件密封容器11构成的管路与第二平衡阀4、基准件12和基准件密封容器13构成的管路并联且分别与差压压力传感器7相连，在第一平衡阀3、被测件10和被测件密封容器11构成的管路上设置第一大漏率检测阀6和第一配容容器5；在第二平衡阀4、基准件12和基准件密封容器13构成的管路上设置第二大漏率检测阀8和第二配容容器9；第一配容容器5与第二配容容器9的容积相等且为被测件密封容器11的容积减去被测件10的体积；被测件密封容器11与基准件密封容器13的容积相等且为能够放入被测件10、基准件12即可。 本技术的检测方法首先将基准件12，即与被测件10相同且不漏的元器件，放入基准件密封容器13，将被测件10放入被测件密封容器11，检测分两步进行。1)小漏率检测关闭大漏率检测阀6、8，打开充压阀2、平衡阀3、4，气源1通过充压阀2、平衡阀3、4对放置被测件10和基准件12的两个密封容器11、13同时充气，且根据被测件10检漏要求来预先设定充压时间，然后关闭平衡阀3、4，如果被测件10有比较小的泄漏，即在充气时漏入被测件10内腔的气体流速缓慢而没有达到要求的测试压力时，则放置被测件10的密封容器11内的压力将逐渐下降，由差压压力传感器7可检测密封容器11、13之间的压差随时间的变化关系，便可以计算出泄漏率。但是如果被测件10的漏孔相对很大、泄漏很快时，在充气完成后漏入被测件10内腔的气体就已经达到要求的测试压力，关闭平衡阀3、4后不再会出现压力变化(不过此时充入两个密封容器11、13的气体质量是不相同的)。2)大漏率检测打开大漏率检测阀6、8，对称地接入分压用配容容器5、9，由于气体质量的不同，分压后将使差压压力传感器7两端产生压差，差压压力传感器7可检测到这个压差。根据上述两步检测得到的压差，就可以计算出被测件10的漏率。通常的作法是预先做出压差与泄漏量对应关系曲线图，如图2所示，即每一种密封品在差压检漏时，必须通过模拟被测件的不同漏率，绘制上述曲线图作为判定密封品是否合格的依据，来设定小漏率检测时合格品对应的压差允许值和大漏率检测时不合格品对应的压差报警值。图2中实线S-DET为小漏率检测时的曲线；虚线L-DET为大漏率检测时的曲线。一般在小漏率检测时，随着被测件10漏率的增大，测出的压差也逐渐增大；但被测件10漏率增大到一定数值以后，检测出的压差不但不增大反而变小，如图2中的实线曲线所示，即对应某个检测出的压差，被测件10的漏率有两个解，这是因为系统从充气起就开始有气体漏入被测件10的缘故。在大漏率检测时，差压压力传感器7有压差显示，说明被测件10有漏，但是测出压差，产品并不一定就不合格。例如被测件的允许漏率为1×10-4Pa.m3/s，小漏率检测时，检测到的压差相当于310Pa，同时310Pa的压差还可能对应一个4×10-4Pa.m3/s的较大泄漏。如果真的存在一个4×10-4Pa.m3/s的大漏，在做第二步大漏率检测时，就应该有460Pa的压差显示(在小漏率检测曲线上，找到310Pa和4×10-4Pa.m3/s的交点，然后往上做垂直线与大漏率检测曲线相交，然后做水平线与纵坐标轴相交得到460Pa)。所以在大漏率检测时，压差大于460Pa的时候，才能说产品不合格。不同的检漏仪器、不同的被测件、不同的测试条件下，即使相同的漏率，产生的压差并不相等，当测试压力、充压时间、小漏率检测时间和大漏率检测时间等条件改变后，需要重新绘制压差与泄漏量对应关系曲线图。 为检漏某密封继电器，按本技术的结构组成该检漏装置，充压阀2采用日本SMC公司的电磁阀，型号VT317；第一平衡阀3、第二平衡阀4均采用日本FUKUDA公司的气控阀，型号AV32B-040-NO；第一大漏率检测阀6、第二大漏率检测阀8均采用日本FUKUDA公司的气控阀，型号AV32B-040-NO；差压压力传感器7采用日本FUKUDA公司的差压压力传感器，型号VR-55；第一配容容器5、第二配容容器9采用铜材自制，其容积相同且为被测件密封容器11的容积减去该继电器的体积；被测件密封容器11、基准件密封容器13的容积相等，亦采用铜材自制，能够完全把该继电器放入即可。选择测试压力为100kPa、充压时间为15秒、小漏率检测时间为10秒、大漏率检测时间为1秒。检测结果为小漏率检测到的压差为2Pa、大漏率检测到的压差为1Pa，即该继电器是不漏的。权利要求1.一种密封品检漏装置，由气源、充压阀、第一平衡阀、第二平衡阀、差压压力传感器、基准件、基准件密封容器、被测件和被测件密封容器组成且通过气路管道相连，其中第一平衡阀、被测件和被测件密封容器构成的管路与第二平衡阀、基准件和基准件密封容器构成的管路并联且分别与差压压力传感器相连，其特征在于在第一平衡阀、被测件和本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种密封品检漏装置，由气源、充压阀、第一平衡阀、第二平衡阀、差压压力传感器、基准件、基准件密封容器、被测件和被测件密封容器组成且通过气路管道相连，其中第一平衡阀、被测件和被测件密封容器构成的管路与第二平衡阀、基准件和基准件密封容器构成的管路并联且分别与差压压力传感器相连，其特征在于：在第一平衡阀、被测件和被测件密封容器构成的管路上设置第一大漏率检测阀和第一配容容器；在第二平衡阀、基准件和基准件密封容器构成的管路上设置第二大漏率检测阀和第二配容容器；第一、第二配容容器的容积相等且为被测件密封容器的容积减去被测件的体积；被测件密封容器与基准件密封容器的容积相等且能够放入被测件、基准件即可。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈乃克，
申请(专利权)人：博益天津气动技术研究所有限公司，
类型：实用新型
国别省市：12[中国|天津]