圆弧型雷达物位计制造技术

技术编号:25686358 阅读:22 留言:0更新日期:2020-09-18 20:59
本实用新型专利技术提供了一种圆弧型雷达物位计,包括:物位计壳体、收发器、处理电路和探针;物位计壳体包括相对设立的第一端和第二端;收发器设置于物位计壳体内;收发器用于发射雷达发射信号并且接收在目标物处反射的雷达返回信号;处理电路连接至收发器,并且处理电路构造成基于雷达发射信号与雷达返回信号之间的关系以确定物位。探针设置在所述物位计壳体内,并从第一端延伸至第二端,探针构造成朝向所述目标物引导雷达发射信号、并将反射的雷达返回信号引导回到所述收发器。其中,第二端靠近所述目标物的端面为弧面,这样可以减少物体的凝结物或粉尘附着在第二端靠近目标物的端面,以提高测量精度。

【技术实现步骤摘要】
圆弧型雷达物位计
本技术涉及机械电子
,特别涉及一种圆弧型雷达物位计。
技术介绍
测量贮存在储罐中的物体、流体、颗粒状化合物或其它材料的水平是基本的工业需求。历史上使用过几种技术,最近十年雷达成为用于高质量测量的主导方法。这些雷达器件利用天线向被监视的材料发射电磁波并接收在被监视的材料的表面上反射的电磁回声。当前,大量的用于雷达物位测量的物位计在全世界范围内被安装,并且,在物位计中,雷达方法具有正在增长的百分比,并且圆弧型雷达物位计在物料测量领域的应用越来越多。现代工业物位测量应用中,脉冲圆弧型雷达物位计作为一种非接触式圆弧型雷达物位计,在物位测量中有广泛的应用。脉冲圆弧型雷达物位计的原理是脉冲电磁波经由天线装置发射,到达被测物表面,并在被测物表面反射后被天线接收,通过发射和接收电磁波的时间差就能计算出仪表到被测物表面之间的距离。其天线装置作为电磁波的发射和接收部分,影响发射和接收信号的强弱,决定了仪表工作是否正常。在测量过程中,环境条件会对其产生一定的影响,当部分被测介质出现挥发、结晶现象或环境中有粉尘时,凝结物或粉尘会在圆弧型雷达物位计的测量端上附着,电磁波经过测量端时,便会在测量端上的附着层进行反射,使电磁波不能正常发射到被测物表面或不能接收到从被测物表面反射回来的电磁波,影响了电磁波的发射和接收,使测量受影响。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种圆弧型雷达物位计,以解决现有的圆弧型雷达物位计中容易被待测物体的凝结物或粉尘附着,从而影响测量精度的技术问题。为解决上述技术问题,本技术提供了一种圆弧型雷达物位计,用于测量储罐内目标物的物位,包括:物位计壳体,包括相对设立的第一端和第二端;收发器,设置于所述物位计壳体内,所述收发器用于向所述目标物发射雷达发射信号,并用于接收经所述目标物反射的雷达返回信号;处理电路,所述处理电路连接至所述收发器,并且所述处理电路构造成基于所述雷达发射信号与所述雷达返回信号之间的关系以确定物位;以及,探针,所述探针设置在所述物位计壳体内,并从所述第一端延伸至所述第二端,所述探针构造成朝向所述目标物引导所述雷达发射信号、并将所述反射的雷达返回信号引导回到所述收发器;其中,所述第二端的端面为弧面。可选地,在所述圆弧型雷达物位计中,所述物位计壳体为中空圆柱结构,所述中空圆柱结构的所述第一端和所述第二端直径大于所述物位计壳体中部的直径。可选地,在所述圆弧型雷达物位计中,所述圆弧型雷达物位计还包括连接件,所述连接件用于与所述储罐连接,所述连接件位于所述第一端和所述第二端之间。可选地,在所述圆弧型雷达物位计中,所述连接件与所述物位计壳体可拆卸连接。可选地,在所述圆弧型雷达物位计中,所述连接件与所述储罐之间设有密封件。可选地,在所述圆弧型雷达物位计中,所述储罐上设有安装孔,所述安装孔内设内螺纹;所述连接件上设有外螺纹,所述外螺纹与所述内螺纹连接。可选地,在所述圆弧型雷达物位计中,所述连接件上设有固定槽,所述固定槽为沿所述物位计壳体周向设立的环形槽,所述固定槽用于与所述储罐卡接。可选地,在所述圆弧型雷达物位计中,所述储罐上设有安装孔,所述固定槽与所述安装孔的边缘卡接,且所述固定槽与所述安装孔的边缘过盈配合。可选地,在所述圆弧型雷达物位计中,所述第二端的材料采用PTFE、PP、PE、F46和偏氟材料中的一种可选地,在所述圆弧型雷达物位计中,所述第一端的材料采用PTFE、PP、PE、F46、偏氟材料或不锈钢中的一种。与现有技术相比,本技术的优点在于:将物位计壳体的第二端设置为弧面,由于弧面不容易聚集物体的凝结物或粉尘,这样就可以防止所述第二端的端面不会被所述物体的凝结物或粉尘附着,这样在所述探针朝向所述目标物引导所述雷达发射信号、并将所述反射的雷达返回信号引导回到所述收发器的过程中,所述第二端的端面上没有附着物体的凝结物或粉尘,这样不会影响信号的发送和接收,以提高测量的准确性。附图说明图1是本技术实施例提供的圆弧型雷达物位计的一种结构示意图;图2是本技术实施例提供的又一圆弧型雷达物位计的一种结构示意图。其中,附图1-2的附图标记说明如下:10-圆弧型雷达物位计;11-物位计壳体;111-第一端;112-第二端;12-连接件;121-外螺纹;122-固定槽;13-弧面。具体实施方式以下结合附图和具体实施例对本技术提出的圆弧型雷达物位计作进一步详细说明。根据权利要求书和下面说明,本技术的优点和特征将更清楚。需说明的是,附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例,仅用以方便、明晰地辅助说明本技术实施例的目的。本技术的目的在于提供一种圆弧型雷达物位计,所述圆弧型雷达物位计用于安装在储罐上,通过向储罐中所存储的物质发射脉冲信号以测量物质的物位。请参考图1,图1是本实施例提供的圆弧型雷达物位计的一种结构示意图,本实施例公开了一种圆弧型雷达物位计10,包括:物位计壳体11、收发器(图中未示出)、处理电路(图中未示出)和探针(图中未示出);所述物位计壳体11包括相对设立的第一端111和第二端112;所述收发器设置于所述物位计壳体11内,所述收发器用于向所述目标物发射雷达发射信号,并用于接收在经所述目标物处反射的雷达返回信号;所述处理电路连接至所述收发器,并且所述处理电路构造成基于所述雷达发射信号与所述雷达返回信号之间的关系以确定物位。所述探针设置在所述物位计壳体11内,并从所述第一端111延伸至所述第二端112,所述探针构造成朝向所述目标物引导所述雷达发射信号、并将所述反射的雷达返回信号引导回到所述收发器。其中,所述第二端112的端面为弧面13。将所述圆弧型雷达物位计10安装于所述储罐上时,所述物位计壳体11竖向布置,以使所述探针竖向布置,并且所述第二端112延伸至所述储罐内部。即所述圆弧型雷达物位计10在使用时,所述弧面13朝向所述目标物。优选的,处理电路还被配置为定期地重复储罐中的表面波的量级的确定和滤波的适配。处理电路还被配置为当所确定的储罐中的表面波的量级超过定义的阈值时发出警报信号。处理电路优选地适用于以至少0.5Hz的频率(并且最优选地以至少1Hz的频率)来确定局部和瞬间填充物位。将物位计壳体11的第二端112靠近所述目标物的端面设置为弧面13,由于弧面13不容易聚集物体的凝结物或粉尘,这样就可以防止所述第二端112靠近所述目标物的端面上时不会被所述物体的凝结物或粉尘附着,这样在所述探针朝向所述目标物引导所述雷达发射信号、并将所述反射的雷达返回信号引导回到所述收发器的过程中,所述第二端112靠近所述目标物的端面上没有附着物体的凝结物或粉尘,这样不会影响信号的发送和接收,以提高测量的准确性。其中,所述物位计壳体11为中空圆柱结构,由于储罐上的安装雷达物位计的安装孔和其他安装雷达物位计的安装位一般为圆本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种圆弧型雷达物位计,用于测量储罐内目标物的物位,其特征在于,包括:/n物位计壳体,包括相对设立的第一端和第二端;/n收发器,设置于所述物位计壳体内,所述收发器用于向所述目标物发射雷达发射信号,并用于接收经所述目标物反射的雷达返回信号;/n处理电路,所述处理电路连接至所述收发器,并且所述处理电路构造成基于所述雷达发射信号与所述雷达返回信号之间的关系以确定物位;以及,/n探针,所述探针设置在所述物位计壳体内,并从所述第一端延伸至所述第二端,所述探针构造成朝向所述目标物引导所述雷达发射信号、并将所述雷达返回信号引导回到所述收发器;/n其中,所述第二端的端面为弧面。/n

【技术特征摘要】
1.一种圆弧型雷达物位计,用于测量储罐内目标物的物位,其特征在于,包括:
物位计壳体,包括相对设立的第一端和第二端;
收发器,设置于所述物位计壳体内,所述收发器用于向所述目标物发射雷达发射信号,并用于接收经所述目标物反射的雷达返回信号;
处理电路,所述处理电路连接至所述收发器,并且所述处理电路构造成基于所述雷达发射信号与所述雷达返回信号之间的关系以确定物位;以及,
探针,所述探针设置在所述物位计壳体内,并从所述第一端延伸至所述第二端,所述探针构造成朝向所述目标物引导所述雷达发射信号、并将所述雷达返回信号引导回到所述收发器;
其中,所述第二端的端面为弧面。


2.如权利要求1所述的圆弧型雷达物位计,其特征在于,所述物位计壳体为中空圆柱结构,所述中空圆柱结构的所述第一端和所述第二端直径大于所述物位计壳体中部的直径。


3.如权利要求1或2所述的圆弧型雷达物位计,其特征在于,所述圆弧型雷达物位计还包括连接件,所述连接件用于与所述储罐连接,所述连接件位于所述第一端和所述第二端之间。


4.如权利要求3所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员:林家军
申请(专利权)人:佑富上海智能传感技术有限公司
类型:新型
国别省市:上海;31

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1