本发明专利技术所提供的一种摆锤冲击试验机低温自动上料对中装置，其中包含气动机械手、步进电机、砧座、低温箱、机械手支架、传动轴、外部的电气程序控制系统、试样，其特点是：其中还包含试样定位圆盘、试样缺口定位座、低温箱舱盖、试样扶正装置；由于结构上的改进整个过程实现了自动化，有以下几方面优点：１．节约了大量的人力成本提高了工作效率；２．人员不会短距离接触低温环境，从而避免了冻伤手指的情况，提高了安全系数；３．人员不存在放试样于砧座的情况，从而避免了万一摆锤失控从高处落下砸伤手指的情况，进一步提高了安全系数；４．可以保证上料对中动作在国家标准所规定的时间内完成。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种摆锤冲击试验机，特别是涉及摆锤冲击试验机低温自动 上料对中装置及方法。
技术介绍
传统的摆锤冲击试验机做低温试验时，通常采用手工方法，即用试样夹 具从低温箱内取出恒温待测试样，放入冲击砧座上，然后进行冲击过程。 这种方法对于成批试验时的缺点是1. 劳动强度大；2. 短距离接触低温环境容易造成冻伤手指现象；3. 在放试样于砧座时万一摆锤失控从高处落下砸伤手指；4. 手工取试样送到砧座对中放试样再开始冲击试样，即试样从离开低温 箱到完成试样冲击，所花时间难以保证国家标准所规定的时间限度。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，提供一种摆锤冲击试验机低温自动上料对中装置及 方法，来提高整个试验过程的自动化程度、试验的精准度和安全系数。为达到上述目的，本专利技术所提供的一种摆锤冲击试验机低温自动上料对 中装置，其中包含气动机械手、步进电机、砧座、低温箱、机械手支架、传 动轴、外部的电气程序控制系统、试样，其特征在于其中还包含试样定位 圆盘、试样缺口定位座、低温箱舱盖、试样扶正装置；所述的外部的电气程序控制系统通过电气控制总线分别与气动机械手、 步进电机、低温箱舱盖、试样扶正装置相连；所述的低温箱舱盖设置在低温箱顶部，其位置与气动机械手下降并进入 低温箱的位置相对应；所述的试样定位圆盘设置在低温箱中，传动轴穿透试样定位圆盘的圆心 并与试样定位圆盘固定在一起；所述的试样缺口定位座有若干个，分别设在试样定位圆盘的圆周上，并间隔等角度排列，试样摆放在试样缺口定位座上； 所述的砧座有两个；所述的试样扶正装置设置在两个砧座侧上方。 所述的试样扶正装置包含转角气缸、摆臂、顶头； 所述的转角气缸设有输出轴，输出轴从转角气缸底部伸出； 所述的摆臂一端垂直连接着转角气缸的输出轴，另一端连接着顶头； 所述的摆臂的旋转角度为0 -90度。 所述的顶头材料采用塑料。所述的气动机械手的下端设有夹子，夹子内侧表面材料采用塑料。 所述的气动机械手的下端设有夹子，夹子内侧喷涂非金属材料作为保护层。一种采用摆锤冲击试验机低温自动上料对中装置的自动上料对中方法， 其中包含以下步骤步骤l:采用摆锤冲击试验机低温自动上料对中装置自动上料； 所述的步骤1包含以下几个步骤步骤l丄所述的外部的电气程序控制系统向步进电机发出旋转指令，步 进电机驱动传动轴带动试样定位圆盘旋转，使一个带有试样的试样缺口定位 座旋转到位，提供给气动机械手抓取试样；步骤1.2:所述的外部的电气程序控制系统向低温箱舱盖发送打开指令， 低温箱舱盖打开；步骤1.3:所述的外部的电气程序控制系统向气动机械手发送下降指令， 气动机械手下降到适合抓取试样的位置；步骤1.4:所述的外部的电气程序控制系统向气动机械手发送抓取指令， 气动机械手夹子抓取试样；步骤1.5:所述的外部的电气程序控制系统向气动机械手发送上升指令， 气动机械手上升到气动机械手的初始位置；步骤1.6:所述的外部的电气程序控制系统向低温箱舱盖发送关闭指令， 低温箱舱盖自动关闭；步骤2:采用摆缍冲击试验机低温自动上料对中装置自动对中；所述的步骤2包含以下几个步骤步骤2丄所述的外部的电气程序控制系统向气动机械手发送前进指令， 气动机械手沿水平方向从初始位置前进水平终端位置，即到两个砧座中间位 置的对应的上方位置；步骤2.2:所述的外部的电气程序控制系统向气动机械手发送下降指令， 气动机械手下降到两个砧座的中间位置；步骤2.3:所述的外部的电气程序控制系统向气动机械手发送松开指令， 气动机械手夹子松开试样，试样被放在了两个砧座的中间位置；步骤2.4:所述的外部的电气程序控制系统向气动机械手发送上升指令， 气动机械手上升到水平终端位置；步骤2.5:所述的外部的电气程序控制系统向试样扶正装置发送旋转摆动指令，所述的试样扶正装置的转角气缸的输出轴带动摆臂旋转摆动，顶头将试样紧贴两个砧座居中位置；步骤2.6:所述的外部的电气程序控制系统向气动机械手发送退回指令， 气动机械手沿水平方向从水平终端位置退回到初始位置。步骤3:若是抓取下一个试样，重复步骤l。本专利技术提供，由于结构上的改进整个过程实现了自动化，有以下几方面优点 .l.节约了大量的人力成本提高了工作效率；2. 人员不会短距离接触低温环境，从而避免了冻伤手指的情况，提高了 安全系数；3. 人员不存在放试样于砧座的情况，从而避免了万一摆锤失控从高处落 下砸伤手指的情况，进一步提高了安全系数；4. 可以保证上料对中动作在国家标准所规定的时间内完成。附图说明图1为本专利技术所提供的摆锤冲击试验机低温自动上料对中装置示意图； 图2为本专利技术所提供的试样扶正装置示意图；图3为本专利技术所提供采用摆锤冲击试验机低温自动上料对中装置的自动上料对中方法的步骤图。具体实施方式以下根据图1~图3说明本专利技术的一种较佳的实施方式 一种摆锤冲击试验机低温自动上料对中装置，其中包含气动机械手1、步进电机2、砧座6、低温箱8、机械手支架9、传动轴IO、外部的电气程序 控制系统(图中未示出)、试样12，其特征在于其中还包含试样定位圆盘3、 试样缺口定位座4、低温箱舱盖5、试样扶正装置7;所述的外部的电气程序控制系统通过电气控制总线分别与气动机械手 1、步进电机2、低温箱舱盖5、试样扶正装置7相连；所述的低温箱舱盖5设置在低温箱8顶部，其位置与气动机械手1下降 并进入低温箱的位置相对应；所述的试样定位圆盘3设置在低温箱8中，传动轴10穿透试样定位圆盘 3的圆心并与试样定位圆盘3固定在一起；所述的试样缺口定位座4有40个，分别设在试样定位圆盘3的圆周上， 并间隔等角度排列，试样12摆放在试样缺口定位座4上；所述的砧座6有两个；所述的试样扶正装置7设置在两个砧座6侧上方。 所述的试样扶正装置7包含转角气缸71、摆臂72、顶头73; 所述的转角气缸71设有输出轴74，输出轴74从转角气缸71底部伸出； 所述的摆臂72 —端垂直连接着转角气缸71的输出轴74，另一端连接着 顶头73;所述的摆臂72的旋转角度为0-90度。 所述的顶头73材料采用塑料。所述的气动机械手1的下端设有气动机械手夹子11，气动机械手夹子11 内侧表面材料采用塑料。所述的气动机械手1的下端设有气动机械手夹子11，气动机械手夹子11 内侧喷涂非金属材料作为保护层。本专利技术中采用的步进电机2型号为85BYGH450B，气动机械手1采用 SQJXZH-40，气动机械手1、低温箱舱盖5和试样扶正装置7由压縮气源(图中未示出)提供动力，压縮气源(图中未示出)采用的是小型空气压缩机0.3-0.7MPa，压縮气源由外部的电气程序控制系统驱动的5个电磁阀(图中 未示出)控制，5个电磁阀分别对应以下动作气动机械手1的上升下降、 气动机械手夹子11的抓取试样12和松开试样12、气动机械手1水平方向的 前进后退、低温箱舱盖5的打开和关闭、试样扶正装置7的摆臂72的旋转摆 动。一种采用摆锤冲击试验机低温自动上料对中装置的自动上料对中方法， 具体操作如下步骤1:采用摆锤冲击试验机低温自动上料对中装置自动上料，其中包含以下几个步骤-步骤l丄所述的外部的电气程序控制系统向步进电机2发出旋转指令，即外部的电气程序控制系统通过电气控制总线向步进电机2发送旋转指令对 应的电信号，对应的步进本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种摆锤冲击试验机低温自动上料对中装置，其中包含气动机械手（１）、步进电机（２）、砧座（６）、低温箱（８）、机械手支架（９）、传动轴（１０）、外部的电气程序控制系统、试样（１２），其特征在于：其中还包含试样定位圆盘（３）、试样缺口定位座（４）、低温箱舱盖（５）、试样扶正装置（７）；所述的外部的电气程序控制系统通过电气控制总线分别与气动机械手（１）、步进电机（２）、低温箱舱盖（５）、试样扶正装置（７）相连；所述的低温箱舱盖（５）设置在低温箱（８）顶部，其位置与气动机械手（１）下降并进入低温箱的位置相对应；所述的试样定位圆盘（３）设置在低温箱（８）中，传动轴（１０）穿透试样定位圆盘（３）的圆心并与试样定位圆盘（３）固定在一起；所述的试样缺口定位座（４）有若干个，分别设在试样定位圆盘（３）的圆周上，并间隔等角度排列，试样（１２）摆放在试样缺口定位座（４）上；所述的砧座（６）有两个；所述的试样扶正装置（７）设置在两个砧座（６）侧上方。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：钱进军，聂德品，
申请(专利权)人：上海华龙测试仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]
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