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抗偏载测力环制造技术

技术编号:2561165 阅读:134 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种抗偏载测力环。本实用新型专利技术的抗偏载测力环包括上、下受力环(1,2),所述上、下受力环(1,2)通过至少两个支撑体(3)连接,所述支撑体(3)上设置有测变形传感器。本实用新型专利技术涉及一种测力环,能在不均衡受力条件下准确测力。(*该技术在2017年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测力环。
技术介绍
测力环已大量应用于工程测力领域,主要用于吊索及吊杆的受力测量。目前,大量的测力环的结构是在一个整体环上等角度的设置3个以上的测 力点,在测力点上安装能测量环体形变的传感器,从而构成一个测力环。这种 测力环是以环体整体或以测量点为中心的各段的平均变形为基础。然而在工程 测量中,大量的测力环境都是环体受力不均衡,因此,这种测力环在使用中存 在较大的误差。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种能在不均衡受力条件下准确测力 的抗偏载测力环。为解决上述的技术问题,本技术所采用的技术方案是一种抗偏载测力 环,包括上、下受力环,所述上、下受力环通过至少两个支撑体连接,所述支 撑体上设置有测变形传感器。支撑体可以为独立的结构,至少两个将上、下受力环连接;支撑体也可以 和上、下受力环制作成整体化的结构;支撑体还可以和上或下受力环制作成整 体再和下或上受力环连接。所述测变形传感器为测力传感器。进一步的说,所述测力传感器为设置在支撑体上的钢弦式传感器、光纤式传感器、应变片式传感器或压磁式传感器。更进一步的说,所述支撑体设置于上、下受力环之间。本技术的抗偏载测力环的有益效果在于本抗偏载测力环是通过测试 各支撑体上的变形情况来确定整体的受力的,通过传感器感测出支撑体上的变 形情况来确定该支撑体的受力大小。整个抗偏载测力环受到的力为各支撑体受 力的和,将各个支撑体所受到的力叠加起来就是整个环体的受力。这样,即使 上、下受力环受力不均衡,只要测出各支撑体的受力就可以准确的得出整个抗 偏载测力环的受力,从而实现了在不均衡受力条件下准确测力。下面结合说明书附图和具体实施方式对本技术作进一步的描述。附图说明图1为本技术实施例一的结构示意图。图2为本技术实施例二的结构式意图。具体实施方式实施例一一种抗偏载测力环,包括上受力环l、下受力环2,所述上受力环l、下受 力环2通过三个支撑体3连接,所述支撑体3内设置有钢弦式传感器。三个支 撑体设置在上下受力环上。支撑体为独立结构,上下受力环通过支撑体连接形 成抗偏载测力环。实施例二一种抗偏载测力环,包括上受力环l、下受力环2,所述上受力环l、下受 力环2通过三个支撑体3连接,所述支撑体3外侧设置有钢弦式传感器。三个 支撑体均匀的设置在上下受力环上,支撑体和上下受力环为整体结构。制作抗偏载测力环时将支撑体和上下受力环制作成一个整体。上述两个实施例中,支撑体还可以和上或下受力环制作成整体再和下或上 受力环连接;支撑体的数目可以根据具体的情况不同而不同;其中传感器可以 为光纤式、应变片式、压磁式传感器,为其他传感器时只需注意传感器的设置 位置,只要能保证测出每个支撑体的形变或受力情况,这些变形对本
的技术人员来说,这些改变都是显而易见的,因此这些变形仍然属于本实用新 型的保护范围。权利要求1.一种抗偏载测力环,包括上、下受力环(1,2),其特征在于,所述上、下受力环(1,2)通过至少两个支撑体(3)连接,所述支撑体(3)上设置有测变形传感器。2. 如权利要求1所述的抗偏载测力环,其特征在于,所述测变形传感器为测力传感器。3. 如权利要求2所述的抗偏载测力环,其特征在于,所述测力传感器为设置在支撑体(3)上的钢弦式传感器、光纤式传感器、应变片式传感器或压磁式 传感器。4. 如权利要求1所述的抗偏载测力环,其特征在于,所述支撑体(3)设置于上、下受力环(1, 2)之间。专利摘要本技术公开了一种抗偏载测力环。本技术的抗偏载测力环包括上、下受力环(1,2),所述上、下受力环(1,2)通过至少两个支撑体(3)连接,所述支撑体(3)上设置有测变形传感器。本技术涉及一种测力环,能在不均衡受力条件下准确测力。文档编号G01L1/00GK201069401SQ20072008052公开日2008年6月4日 申请日期2007年8月2日 优先权日2007年8月2日专利技术者杨绍荃 申请人:杨绍荃本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种抗偏载测力环,包括上、下受力环(1,2),其特征在于,所述上、下受力环(1,2)通过至少两个支撑体(3)连接,所述支撑体(3)上设置有测变形传感器。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:杨绍荃
申请(专利权)人:杨绍荃
类型:实用新型
国别省市:90[中国|成都]

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