【技术实现步骤摘要】
一种用于北斗导航芯片的插口测试装置
本专利技术属于插口测试装置
,更具体地说,特别涉及一种用于北斗导航芯片的插口测试装置。
技术介绍
北斗芯片包含了RF射频芯片,基带芯片及微处理器的芯片组,相关设备通过北斗芯片,可以接受由北斗卫星发射的信号,从而完成定位导航的功能。例如申请号:CN201510257895.1本专利技术涉及电连接器接触件插拔特性测试仪,包括控制单元,控制单元包括步进电机驱动器和控制器,控制器通过步进电机驱动器向步进电机提供指令,其特征在于该测试仪还包括安装基座、驱动单元、测试单元和夹持单元;所述驱动单元安装在安装基座上,测试单元可以在安装基座的直线导轨上滑动,控制单元控制驱动单元动作;所述安装基座包括底板、垫条、直线导轨、导轨滑块和立板;所述驱动单元包括滚珠丝杠、丝杠螺母、游动平台驱动托座、左丝杠支座、右丝杠支座、弹性联轴器、步进电机安装座和步进电机;所述测试单元包括数显式插拔力计和游动平台,所述夹持单元包括A夹具和B夹具。基于上述专利的检索,以及结合现有技术中的设备发现,在生产北斗导航芯片时需要对芯片的插口进行拔插测试,而在拔插测试时一般会用到拔插测试装置。但是现有的拔插测试装置在实际的使用过程中还存在以下不足,如:1、拔插测试装置在使用时通常是由转轮通过连杆带动往复滑动机构进行往复滑动,进而实现夹持公母插口之间的拔插测试,但是往复滑动机构在长时间的滑动过程中很容易使滑筒发生磨损,而磨损后的滑筒又不易被人们发现,使得公母插口在拔插时会发生吃单边现象,进而降低了拔插测试装置的测试 ...
【技术保护点】
1.一种用于北斗导航芯片的插口测试装置,其特征在于:包括主体(1),所述主体(1)左侧上部通过转轴转动连接有转轮(2),且转轮(2)下部转轴外部设有主动带轮(3);所述主体(1)上端面中部设有两块矩形支撑件(4),且两块矩形支撑件(4)之间呈前后对称状设有两根限位滑杆;两块所述矩形支撑件(4)上部通过限位滑杆滑动连接有往复滑动机构(5),且往复滑动机构(5)与转轮(2)之间通过连杆相连接;所述往复滑动机构(5)上部设有一个夹持机构(6),所述夹持机构(6)包括支撑块(601)、转动杆(602)、夹块(603)、滑套(604)和限位齿轮(605),两个所述夹持机构(6)中支撑块(601)的数量均为两个,且两个夹持机构(6)中的两个支撑块(601)分别固定在往复滑动机构(5)上端面和升降板(802)上端面,每前后相邻两个所述支撑块(601)之间均通过轴承转动连接有一根转动杆(602),且转动杆(602)外部设有两处反向螺纹,所述转动杆(602)外部通过两处反向螺纹连接有两块夹块(603),且两块夹块(603)相对面均粘贴有防滑胶垫,每块所述夹块(603)下端均设有一个T型滑块,且每块夹块( ...
【技术特征摘要】
1.一种用于北斗导航芯片的插口测试装置,其特征在于:包括主体(1),所述主体(1)左侧上部通过转轴转动连接有转轮(2),且转轮(2)下部转轴外部设有主动带轮(3);所述主体(1)上端面中部设有两块矩形支撑件(4),且两块矩形支撑件(4)之间呈前后对称状设有两根限位滑杆;两块所述矩形支撑件(4)上部通过限位滑杆滑动连接有往复滑动机构(5),且往复滑动机构(5)与转轮(2)之间通过连杆相连接;所述往复滑动机构(5)上部设有一个夹持机构(6),所述夹持机构(6)包括支撑块(601)、转动杆(602)、夹块(603)、滑套(604)和限位齿轮(605),两个所述夹持机构(6)中支撑块(601)的数量均为两个,且两个夹持机构(6)中的两个支撑块(601)分别固定在往复滑动机构(5)上端面和升降板(802)上端面,每前后相邻两个所述支撑块(601)之间均通过轴承转动连接有一根转动杆(602),且转动杆(602)外部设有两处反向螺纹,所述转动杆(602)外部通过两处反向螺纹连接有两块夹块(603),且两块夹块(603)相对面均粘贴有防滑胶垫,每块所述夹块(603)下端均设有一个T型滑块,且每块夹块(603)左右两侧均设有一个滑套(604),每前后相邻两个所述支撑块(601)之间均呈对称状设有与滑套(604)滑动相连接的滑杆,所述转动杆(602)外部前侧还设有限位齿轮(605),所述转动杆(602)两端均设有手轮,且转动杆(602)外周面前后两侧均呈环形阵列状设有两块矩形转动板;所述往复滑动机构(5)为T型支块结构;所述主体(1)上端面右侧设有前后调节机构(7),前后调节机构(7)上部设有高度调节机构(8);所述高度调节机构(8)上也设有一个夹持机构(6),且两个夹持机构(6)前侧均设有一个防松动机构(9);所述主体(1)后端面左侧上部设有传动机构(10),且主体(1)左端面位于通风口处转动连接有清扫机构(11);所述清扫机构(11)通过传动机构(10)与主动带轮(3)相连接。
2.如权利要求1所述一种用于北斗导航芯片的插口测试装置,其特征在于:所述往复滑动机构(5)包括滑筒(501)、和白色粉末(502),所述往复滑动机构(5)下部一侧面呈对称状开设有两个通孔,且每个通孔内均安装有一个滑筒(501),每个所述滑筒(501)内部均开设有环形腔体,且环形腔体内部填充有白色粉末(502),所述往复滑动机构(5)上端面中部开设有T型滑槽,所述滑筒(501)外周面与环形腔体外周面之间厚度为滑筒(501)的最大磨损厚度。
3.如权利要求1所述一种用于北斗导航芯片的插口测试装置,其特征在于:当左侧一个所述夹持机构(6)与往复滑动机构(5)处于安装状态时,左侧两块夹块(603)下端T型滑块均与往复滑动机构(5)上的T型滑槽滑动相连接。
4.如权利要求1所述一种用于北斗导航芯片的插口测试装置,其特征在于:所述前后调节机构(7)包括矩形支板(701)、螺纹杆(702)和螺母(703),所述前后调节机构(7)前后两侧通过两根滑杆滑动连接有固定在主体(1)上端面的两块矩形支板(701),且两块矩形支板(701)之间通过轴承转动连接有螺纹杆(702),所述螺纹杆(702)外部通...
【专利技术属性】
技术研发人员:余超,李晨霖,
申请(专利权)人:无锡湖山智能科技有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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