光纤测温系统的现场标定装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种用于对处于强电磁场环境的变电站内光纤测温系统的探测光纤进行现场温度值标定的装置。该装置能够在变电站强电磁环境中，通过调整控制电路，控制半导体致冷器的工作状态，就可在密闭容器内产生多个高精度温度恒定值，该温度值同时通过显示装置显示，也可通过打印装置打印。该方法是将光纤测温装置待标定的一段探测光纤置于一个通过控制电路控制的，具有恒定温度值的装置内，从而使待标定的探测光纤段处于一个已知的标准温度环境中，通过将光纤测温装置显示的该段探测光纤的温度值调整至该标准温度值即完成对装置的标定。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光纤测温系统的现场标定方法和装置，特别涉及一种专门用于对处于 强电磁场环境的光纤测温系统探测光纤段进行现场温度值标定的方法和装置。
技术介绍
随着社会的飞速发展，特别是城市化进程的加快，城市基础建设滞后城市发展，特别 是冬、夏季的用电高峰，电力系统超负荷运转，输配电系统的安全，特别密集电缆的运行 安全需要引起特别的关注，电缆安全运行的一个主要表征就是其运行温度。传统热电耦、 铂电阻等点式温度探测装置由金属材料构成，直接用于电力系统测温会带来本征的不安全性，而且随着探测点数的急剧增加，这类手段越来越不具备经济性。而现有的光纤测温系统本身不带电，而且又是良好绝缘的玻璃构成，本征上安全。但由于被测电器设备的调整，附着于其上的探测光纤也跟随着调整，从而引起探测光纤的截断、接续等，需要对整个测温系统重新标定。因此，研究强电磁场环境下的光纤测温系统的现场标定的方法和装置具有重要的使用意义和经济价值。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供光纤测温系统的现场标定的装置及方法，该装置重量 轻、可交直流两种供电方式，具有很好的抗电磁干扰能力，能够提供2个以上高精度的恒 定温度点，该方法操作简单。为解决上述技术问题，本专利技术光纤测温系统的现场标定的装置及方法采用如下技术方 案光纤测温系统的现场标定装置，用于对处于强电磁场环境的光纤测温系统的探测光纤 进行现场温度值标定的，该装置包括密闭容器，其内部装设有测温装置及待标定的探测光 纤；半导体制冷器，其与所述密闭容器相连，控制电路，用于控制半导体制冷器，使其加热或制冷密闭容器内的空气； 所述测温装置将探测到的密闭容器内的温度反馈给控制装置； 显示装置，其与控制电路相连，用于显示控制电路的温度。 作为本专利技术优选方案之一，该装置进一步包括与控制电路相连的打印装置，用于实时打印。作为本专利技术优选方案之一，所述半导体制冷器通过螺钉与密闭容器固定。 作为本专利技术优选方案之一，所述探测光纤标定段长度为8-10米。本专利技术进一步包括光纤测温系统的现场标定装置的使用方法，该方法包括以下步骤: 步骤一，将待标定的一段探测光纤置于密闭容器l内；步骤二，控制电路设定一个标准的温度值，比较测温装置探测到的密闭器l内的温度； 步骤三，控制电路控制半导体致冷器的工作状态，使密闭容器l内的温度达到并恒定在设定的标准温度值，从而使待标定的探测光纤段处于已知的温度环境中，并将测得的该段探测光纤的温度值调整至该温度值即完成标定。 作为本专利技术的优选方案之一，该方法进一步包括通过附加高精度玻璃温度计实现装置精度的自校验步骤a. 将高精度玻璃温度计置入本标定装置的密闭容器l内；b. 打开本标定装置的电源，经过30分钟的恒定时间，检査本标定装置显示的温度是否 与置入标定装置密闭容器1内的玻璃温度计读数一致；c. 如不一致，通过本装置的程序设定，将本标定装置的显示读数与玻璃温度计的读数一 致，完成标定。本专利技术能够在变电站强电磁环境中，通过调整控制电路，控制半导体致冷器的工作状 态，可在密闭容器内产生多个高精度温度恒定值，该温度值同时通过显示装置显示，也可 通过打印装置打印。附图说明图1是本专利技术光纤测温系统的现场标定装置结构示意图2是本专利技术光纤测温系统的现场标定装置连接关系示意图3是本专利技术控制电路温度设置面板示意图4是本专利技术显示装置示意图。附图标记如下1、密闭容器 2、探测光纤3、半导体致冷器 4、测温装置5、控制电路 6、显示装置7、打印装置具体实施例方式本专利技术光纤测温系统的现场标定装置包括如下结构，下文中参照附图将对此进行详细 描述。如图1至图2所示，本专利技术包括密闭容器l，密闭容器l内放置待标定探测光纤2， 半导体致冷器3受控制电路5控制，测温装置4探测密闭容器1内的实际温度，并送至控 制电路5，通过显示装置6显示，也可通过打印装置7实时打印。密闭容器1可以放置8至10米的待标定的探测光纤2，其内部温度由控制电路5的 设置决定。密闭容器1内装有测温装置4，测温装置4将探测到的密闭容器1的温度反馈给控制 电路5。密闭容器1的上面装有用螺钉固定的半导体致冷器3，半导体致冷器3在控制电路5 的控制下加热或制冷密闭容器1内的空气，密闭容器1内的空气将热量传递给探测光纤2 使其温度与密闭容器1内的温度一致。该光纤测温系统的现场标定装置能够提供2个以上高精度(《土0.5。C)的恒定温度值。具体的操作本光纤测温系统的现场标定装置的步骤如下首先将待标定探测光纤2放入本装置密闭容器1内，然后打开图3中的电源按钮， 电源指示灯亮，本标定装置开始工作，按一下图3上的设置按钮，本装置处于标定温度设 定状态，通过调节图3上的增、减按钮，调整设定温度值至欲标定的恒定温度值后，再 次按一下图3上的设置按钮，本标定装置处于正常工作状态，待图4所示的显示装置达到 设定温度值后15分钟，密闭容器内的温度达到恒定，此时标定装置显示的温度值就是待 标定探测光纤2的温度值，将光纤测温系统测到的该段探测光纤2的温度值调整为标定装 置显示的温度值即完成一次标定，根据需要可打印该温度值，根据实际情况工作需要，可 对测温系统的多个位置处的多段探测光纤按上述过程进行标定。该方法是将光纤测温系统待标定的一段探测光纤，置于一个通过控制电路控制的具有 恒定温度值的装置内，从而使待标定的探测光纤段处于一个已知的标准温度环境中。然后 通过将光纤测温系统显示的该段探测光纤的温度值调整至该标准温度值即完成对系统的 标定。根据需要可对探测光纤多处进行标定；该方法也可现场校验使用了一段时间后光纤 测温系统的相关测温段的位置精度和测温精度。该标定装置的恒温环境由一定形状、 一定体积的密闭容器构成，该密闭容器的温度由 半导体致冷器3、测温装置4、控制电路5、显示装置6 (如图4所示)和打印装置7构成， 通过控制电路5可以设定密闭容器1的温度，并通过显示装置6 (数码管)实时显示密闭 容器l内的温度，而且可以通过打印机实时打印该温度。控制电路5根据欲设定密闭容器1内的恒定温度与测温装置4测定值之间差的符号 决定半导体是出于加热还是制冷工作状态，根据差值的大小决定驱动半导体致冷器3驱 动电流的大小，直至密闭容器内的温度与设定的温度一致；测温装置测的密闭容器内的 温度同时通过显示装置实时显示；打印装置可根据需要将测得的密闭容器的温度值打印 出来。为了便于随时校验该装置的准确性，该装置还通过附加高精度玻璃温度计实现装置精度的自校验功能。将经过权威部分鉴定过的高精度玻璃温度计置入本标定装置的密闭容器1内，打开本标定装置的电源，经过30分钟的恒定时间，检查本标定装置显示的温度是否与置入标定装置密闭容器l内的玻璃温度计读数一致，如不一致，通过本装置的程序设定，将本标定装置的显示读数与玻璃温度计的读数一致，完成标定。该装置也可现场校验使用了一段时间后光纤测温系统的相关测温段的位置精度和测温精度，将光纤测温系统的一段探测光纤置入本标定装置的密闭容器1内，打开本标定装置的电源，经过30分钟的恒定时间，检查光纤测温系统测得的温度包的位置是否与置入标定装置的密闭容器1内的探测光纤上的位置标志一致，该温包的温度值守否与本标定装置显示的温度一致，如有差别，将光纤测温系统的读数分别调至光纤的实际位置本文档来自技高网...

【技术保护点】
光纤测温系统的现场标定装置，用于对处于强电磁场环境的光纤测温系统的探测光纤进行现场温度值标定的，其特征在于：　该装置包括密闭容器，其内部装设有测温装置及待标定的探测光纤；　半导体制冷器，其与所述密闭容器相连，　控制电路，用于控制半导体制冷器，使其加热或制冷密闭容器内的空气；　所述测温装置将探测到的密闭容器内的温度反馈给控制装置；　显示装置，其与控制电路相连，用于显示控制电路的温度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：关宏，姚建歆，吴海生，张悦，王康，俞志峰，
申请(专利权)人：上海市电力公司，上海腾隆电力科技有限公司，上海欧忆光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]