芯片功耗的测试电路及方法、芯片技术

本申请公开了一种芯片功耗的测试电路及方法、芯片。其中，该测试电路包括：控制器和多个子测试电路，多个子测试电路中任意一个子测试电路包括：电源开关模块，用于将电源模块提供的电压转换为目标电压；采样电阻的第一端与电源开关模块连接，采样电阻的第二端与待测试芯片连接；模数转换器与采样电阻并联连接，用于采集采样电阻两端的采样电压，并将采样电压发送至控制器；控制器依据采样电压和采样电阻的电阻值确定流入待测试芯片的电流，并依据电流确定待测试芯片的功耗。本申请解决了现有的芯片功耗测试方法测试精度低，测试成本高，而且无法自动完成各种芯片模式下和不同电压下自动的功耗测试的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
芯片功耗的测试电路及方法、芯片
本申请涉及芯片功耗测试领域，具体而言，涉及一种芯片功耗的测试电路及方法、芯片。
技术介绍
在现有的芯片功耗测试技术中，最常见功耗测试方法主要有以下几种：第一种方法是采用毫欧级电阻串联到电源通路上，随后手工设置好电压和芯片工作状态，使用万用表测试两端电压以进行电流及功耗计算，这种方法的缺陷在于使用手动测量的方法导致的工作繁杂，同时容易引入人为误差。另一种测试方法为：将万用表串联进入电源通路上，随后手工设置好电压和芯片工作状态，读取电流值，这种方法的缺陷在于万用表内阻将影响芯片输入电压。还一种功耗测试方法为：采用数字电压源和电流表配合搭建自动测试系统，这种方法多用于整机测试，该方法的缺陷在于由于芯片的供电电压种类较多，所以需要使用很多电压表、电流表以及纷繁杂乱的接线，从而导致测试成本的提高。进一步地，由于上述方法都缺少与被测芯片和电源设置交互的数据通道，因此，不能将供电电压、芯片工作模式、功耗自动联系起来，进而不能自动完成各种芯片模式下和不同电压下自动的功耗测试。针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
本申请实施例提供了一种芯片功耗的测试电路及方法、芯片，以至少解决现有的芯片功耗测试方法测试精度低，测试成本高，而且无法自动完成各种芯片模式下和不同电压下自动的功耗测试的技术问题。根据本申请实施例的一个方面，提供了一种芯片功耗的测试电路，包括：控制器和多个子测试电路，多个子测试电路中任意一个子测试电路包括：电源开关模块、采样电阻、数字电位计以及模数转换器，其中，电源开关模块，用于将电源模块提供的电压转换为目标电压，目标电压为待测试芯片所需要的电压；采样电阻的第一端与电源开关模块连接，采样电阻的第二端与待测试芯片连接；模数转换器与采样电阻并联连接，用于采集采样电阻两端的采样电压，并将采样电压发送至控制器；控制器依据采样电压和采样电阻的电阻值确定流入待测试芯片的电流，并依据电流确定待测试芯片的功耗；数字电位计与控制器连接，用于在控制器的控制下调节子测试电路的电阻值。可选地，电源开关模块包括：第一端口、第二端口、第三端口及第四端口，其中，电源开关模块通过第一端口与电源模块连接；控制器通过第二端口使能电源开关模块；电源开关模块通过第三端口输出目标电压；电源开关模块通过第四端口与待测试芯片连接，通过第四端口跟踪待测试芯片的输入电压。可选地，电源开关模块通过第四端口与数字电位计连接，通过第四端口获取目标电压，控制器将目标电压转换成数字电位计的寄存器值预先写入数字电位计。可选地，在电源开关模块通过第三端口输出目标电压后，控制器还用于通过模数转换器获取采样电阻的第二端的电压，并比对采样电阻的第二端的电压与目标电压，如果二者的差值大于预设阈值，调节数字电位计的阻值，直至差值小于预设阈值。可选地，在采样电阻的第二端的电压与目标电压的差值小于预设阈值之后，控制器还用于设定待测试芯片的工作模式。可选地，电源开关模块还用于通过第四端口实时采集待测试芯片的输入电压，如果待测试芯片的输入电压发生变化，调整通过第三端口输出的目标电压直至待测试芯片的输入电压恢复为发生变化之前的电压。可选地，控制器还用于按照预设顺序和/或预设时间间隔依次使能多个子测试电路的电源开关模块。根据本申请实施例的另一方面，还提供了一种芯片，其特征在于，包括以上的芯片功耗的测试电路。根据本申请实施例的另一方面，还提供了一种芯片功耗的测试方法，该方法通过以上的芯片功耗的测试电路测试待测试芯片的功耗，包括：将目标电压转换成数字电位计的寄存器值，并将寄存器值写入数字电位计；使能电源开关模块；获取采样电阻的第二端的电压，并比对采样电阻的第二端的电压与目标电压，如果二者的差值大于预设阈值，调节数字电位计的阻值，直至差值小于预设阈值；采集采样电阻两端的采样电压，依据采样电压和采样电阻的电阻值确定流入待测试芯片的电流，并依据电流确定待测试芯片的功耗。根据本申请实施例的再一方面，还提供了一种存储介质，存储介质包括存储的程序，其中，在程序运行时控制存储介质所在设备执行以上的芯片功耗的测试方法。根据本申请实施例的再一方面，还提供了一种处理器，处理器用于运行存储在存储器中的程序，其中，程序运行时执行以上的目标对象的芯片功耗的测试方法。在本申请实施例中提供了一种芯片功耗的测试电路，包括：控制器和多个子测试电路，多个子测试电路中任意一个子测试电路包括：电源开关模块、采样电阻、数字电位计以及模数转换器，其中，电源开关模块，用于将电源模块提供的电压转换为目标电压，目标电压为待测试芯片所需要的电压；采样电阻的第一端与电源开关模块连接，采样电阻的第二端与待测试芯片连接；模数转换器与采样电阻并联连接，用于采集采样电阻两端的采样电压，并将采样电压发送至控制器；控制器依据采样电压和采样电阻的电阻值确定流入待测试芯片的电流，并依据电流确定待测试芯片的功耗；数字电位计与控制器连接，用于在控制器的控制下调节子测试电路的电阻值，实现了提高芯片功耗测试的精度，降低芯片功耗测试的成本，并且将芯片功耗测试和芯片的工作模式结合起来的技术效果，进而解决了现有的芯片功耗测试方法测试精度低，测试成本高，而且无法自动完成各种芯片模式下和不同电压下自动的功耗测试技术问题。附图说明此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：图1是根据本申请实施例的一种芯片功耗测试电路的示意图；图2是根据本申请实施例的另一种芯片功耗测试电路的示意图；图3是根据本申请实施例的一种芯片功耗的测试方法的流程图。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。图1是根据本申请实施例的一种芯片功耗测试电路的示意图，如图1所示，该测试电路包括：控制器10和多个子测试电路12，多个子测试电路12中任意一个子测试电路12包括：电源开关模块120、采样电阻122、数字电位计124以及模数转换器1本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片功耗的测试电路，其特征在于，包括：控制器和多个子测试电路，所述多个子测试电路中任意一个子测试电路包括：电源开关模块、采样电阻、数字电位计以及模数转换器，其中，/n所述电源开关模块，用于将电源模块提供的电压转换为目标电压，所述目标电压为待测试芯片所需要的电压；/n所述采样电阻的第一端与所述电源开关模块连接，所述采样电阻的第二端与所述待测试芯片连接；/n所述模数转换器与所述采样电阻并联连接，用于采集所述采样电阻两端的采样电压，并将所述采样电压发送至所述控制器；/n所述控制器依据所述采样电压和所述采样电阻的电阻值确定流入所述待测试芯片的电流，并依据所述电流确定所述待测试芯片的功耗；/n所述数字电位计与所述控制器连接，用于在所述控制器的控制下调节所述子测试电路的电阻值。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片功耗的测试电路，其特征在于，包括：控制器和多个子测试电路，所述多个子测试电路中任意一个子测试电路包括：电源开关模块、采样电阻、数字电位计以及模数转换器，其中，
所述电源开关模块，用于将电源模块提供的电压转换为目标电压，所述目标电压为待测试芯片所需要的电压；
所述采样电阻的第一端与所述电源开关模块连接，所述采样电阻的第二端与所述待测试芯片连接；
所述模数转换器与所述采样电阻并联连接，用于采集所述采样电阻两端的采样电压，并将所述采样电压发送至所述控制器；
所述控制器依据所述采样电压和所述采样电阻的电阻值确定流入所述待测试芯片的电流，并依据所述电流确定所述待测试芯片的功耗；
所述数字电位计与所述控制器连接，用于在所述控制器的控制下调节所述子测试电路的电阻值。


2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述电源开关模块包括：第一端口、第二端口、第三端口及第四端口，其中，
所述电源开关模块通过所述第一端口与所述电源模块连接；
所述控制器通过所述第二端口使能所述电源开关模块；
所述电源开关模块通过所述第三端口输出所述目标电压；
所述电源开关模块通过所述第四端口与所述待测试芯片连接，通过所述第四端口跟踪所述待测试芯片的输入电压。


3.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述电源开关模块通过所述第四端口与所述数字电位计连接，通过所述第四端口获取所述目标电压，所述控制器将所述目标电压转换成所述数字电位计的寄存器值预先写入所述数字电位计。


4.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，在所述电源开关模块通过所述第三端口输出所述目标电压后，所述控制器还用于通过所述模数转换器获取所述采样电阻的第二端的电压，并比对所述采样电阻的第二端的电压与所...

【专利技术属性】
技术研发人员：李旭东，岳士丰，肖勇，
申请(专利权)人：硅谷数模苏州半导体有限公司，硅谷数模国际有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32