一种管道相控阵检测校准专用试块制造技术

技术编号:25538316 阅读:37 留言:0更新日期:2020-09-04 17:28
本实用新型专利技术公开了一种管道相控阵检测校准专用试块,包括多个不同材质的试块装入不同盒体内,多个盒体自上而下依次堆叠在一起,盒体的前后两侧分别设有滑道,滑道的左右两端分别嵌入有第一滑动轴和第二滑动轴,两个相邻盒体之间的第一铰接片和第二铰接片的中央铰接在一起形成X形铰接结构,底部盒体的第一滑动轴和第二滑动轴伸出X形铰接结构的部分上设有相对移动驱动结构,使得第一滑动轴向第二滑动轴沿着滑道移动,X形铰接结构中第一铰接片和第二铰接片产生错动,将上盒体依次推高,使得盒体内的试块暴露出来,方便取出所需材质的试块,以便于进行管道相控阵检测头的校准。

【技术实现步骤摘要】
一种管道相控阵检测校准专用试块
本技术涉及管道相控阵检测校准专用试块的
,尤其涉及一种管道相控阵检测校准专用试块。
技术介绍
相控阵技术的基本思想来自于雷达电磁波相控阵技术。相控阵雷达是由许多辐射单元排成阵列组成,通过控制阵列天线中各单元的幅度和相位,调整电磁波的辐射方向,在一定空间范围内合成灵活快速的聚焦扫描的雷达波束。超声相控阵换能器由多个独立的压电晶片组成阵列,按一定的规则和时序用电子系统控制激发各个晶片单元,来调节控制焦点的位置和聚焦的方向。在使用时,一般会在检测前用试块对相控阵检测头件校准,由于补偿法的使用,一般来说,通过特定材质的试块就可以获得较为准确的校准,但是有些管道,例如核电站的相关管道,需要检测精度较高,因此需要更为准确的校准,这就要求使用对应该管道材质的试块进行校准,但是多个试块不便于携带和存放,因此拟对这个部分进行改进,以更好满足市场需求。
技术实现思路
针对以上现有存在的问题,本技术提供一种管道相控阵检测校准专用试块,为了提高校准精度,以使得检测不同材质时,依照对应该材质的试块进行校准,特别设置多个不同材质的试块分别装入不同盒体内,在盒体间设置X形铰接结构,形成一个剪式升降的结构,在底部盒体的第一滑动轴和第二滑动轴上设置一个由丝杠带动移动的结构,丝杠转动转换为多个盒体依次推高,使得盒体内的试块暴露出来,方便取出所需材质的试块,以便于进行管道相控阵检测头的校准。本技术的技术方案在于:本技术提供一种管道相控阵检测校准专用试块,包括试块和盒体,所述试块的下侧设有盒体,所述盒体包括多个上盒体和一个底部盒体,多个所述上盒体和所述底部盒体自上而下依次堆叠在一起,所述盒体的前后两侧分别设有滑道,所述滑道的左右两端分别嵌入有第一滑动轴和第二滑动轴,所述第一滑动轴与上方相邻盒体的第二滑动轴之间铰接有第一铰接片,所述第二滑动轴与上方相邻盒体的第一滑动轴之间铰接有第二铰接片,两个相邻盒体之间的第一铰接片和第二铰接片的中央铰接在一起形成X形铰接结构,所述底部盒体的第一滑动轴和第二滑动轴伸出X形铰接结构的部分上设有相对移动驱动结构,使得第一滑动轴向第二滑动轴沿着滑道移动,所述X形铰接结构中第一铰接片和第二铰接片产生错动,将上盒体依次推高,使得盒体内的试块暴露出来。进一步地,所述相对移动驱动结构包括螺接块、固定铰接块、丝杠和手柄,所述螺接块和固定铰接块之间设有丝杠,所述丝杠的左端与固定铰接块铰接在一起,所述丝杠的右端贯穿螺接块并与螺接块螺纹连接在一起且伸出螺接块的端部上设有手柄,通过转动手柄,所述丝杠转动带动螺接块靠向固定铰接块,多个X形铰接结构依次滑动,将上盒体都推高。进一步地,不同所述盒体内的试块材质不同。本技术由于采用了上述技术,使之与现有技术相比具体的积极有益效果为:为了提高校准精度,以使得检测不同材质时,依照对应该材质的试块进行校准,特别设置多个试块和多个盒体,每个试块对应装入一个盒体内,不同盒体内的试块材质不同,而为了方便这些试块的存放和移动,将盒体依次堆叠起来,在盒体间设置X形铰接结构,形成一个剪式升降的结构,而为了方便试块从盒体内取出,在底部盒体的第一滑动轴和第二滑动轴上设置一个由丝杠带动移动的结构,通过转动手柄,丝杠转动带动螺接块靠向固定铰接块,使得第一滑动轴向第二滑动轴沿着滑道移动,X形铰接结构中第一铰接片和第二铰接片产生错动,将上盒体依次推高,使得盒体内的试块暴露出来,方便取出所需材质的试块,以便于进行管道相控阵检测头的校准。附图说明图1是本技术的结构示意图;图2是本技术的主视图;图3是本技术的右视图。图中:1-试块,2-上盒体,3-底部盒体,4-手柄,5-螺接块,6-第一滑动轴,7-滑道,8-丝杠,9-第一铰接片,10-第二铰接片,11-固定铰接块,12-第二滑动轴。具体实施方式实施例一:如附图1-附图3所示,本技术提供一种管道相控阵检测校准专用试块,包括多个试块1和多个盒体,每个试块1对应装入一个盒体内,不同盒体内的试块1材质不同,盒体包括多个上盒体2和一个底部盒体3,多个上盒体2和底部盒体3自上而下依次堆叠在一起,盒体的前后两侧分别设有滑道7,滑道7的左右两端分别嵌入有第一滑动轴6和第二滑动轴12,第一滑动轴6与上方相邻盒体的第二滑动轴12之间铰接有第一铰接片9,第二滑动轴12与上方相邻盒体的第一滑动轴6之间铰接有第二铰接片10,两个相邻盒体之间的第一铰接片9和第二铰接片10的中央铰接在一起形成X形铰接结构,底部盒体3的第一滑动轴6和第二滑动轴12伸出X形铰接结构的部分上设有螺接块5和固定铰接块11,螺接块5和固定铰接块11之间设有丝杠8,丝杠8的左端与固定铰接块11铰接在一起,丝杠8的右端贯穿螺接块5并与螺接块5螺纹连接在一起且伸出螺接块5的端部上设有手柄4,通过转动手柄4,丝杠8转动带动螺接块5靠向固定铰接块11,使得第一滑动轴6向第二滑动轴12沿着滑道7移动,X形铰接结构中第一铰接片9和第二铰接片10产生错动,将上盒体2依次推高,使得盒体内的试块1暴露出来,方便取出所需材质的试块1,以便于进行管道相控阵检测头的校准。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种管道相控阵检测校准专用试块,包括试块和盒体,所述试块的下侧设有盒体,其特征在于:所述盒体包括多个上盒体和一个底部盒体,多个所述上盒体和所述底部盒体自上而下依次堆叠在一起,所述盒体的前后两侧分别设有滑道,所述滑道的左右两端分别嵌入有第一滑动轴和第二滑动轴,所述第一滑动轴与上方相邻盒体的第二滑动轴之间铰接有第一铰接片,所述第二滑动轴与上方相邻盒体的第一滑动轴之间铰接有第二铰接片,两个相邻盒体之间的第一铰接片和第二铰接片的中央铰接在一起形成X形铰接结构,所述底部盒体的第一滑动轴和第二滑动轴伸出X形铰接结构的部分上设有相对移动驱动结构,使得第一滑动轴向第二滑动轴沿着滑道移动,所述X形铰接结构中第一铰接片和第二铰接片产生错动,将上盒体依次推高,使得盒体内的试块暴露出来。/n

【技术特征摘要】
1.一种管道相控阵检测校准专用试块,包括试块和盒体,所述试块的下侧设有盒体,其特征在于:所述盒体包括多个上盒体和一个底部盒体,多个所述上盒体和所述底部盒体自上而下依次堆叠在一起,所述盒体的前后两侧分别设有滑道,所述滑道的左右两端分别嵌入有第一滑动轴和第二滑动轴,所述第一滑动轴与上方相邻盒体的第二滑动轴之间铰接有第一铰接片,所述第二滑动轴与上方相邻盒体的第一滑动轴之间铰接有第二铰接片,两个相邻盒体之间的第一铰接片和第二铰接片的中央铰接在一起形成X形铰接结构,所述底部盒体的第一滑动轴和第二滑动轴伸出X形铰接结构的部分上设有相对移动驱动结构,使得第一滑动轴向第二滑动轴沿着滑道移动,所述X形铰接结构...

【专利技术属性】
技术研发人员:韩晓耕张勇刘金新宋雪玮管华礼
申请(专利权)人:天津欣维检测技术有限公司
类型:新型
国别省市:天津;12

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