激光功率表制造技术

本实用新型专利技术是一种测量激光功率的电子测量仪表，特别涉及对其结构的改进。包括有壳体、电路、表头、插头、连线、手柄，探头端开有孔，探头内装有硅光电检测器，外用探头封盖封闭。探头与手柄转动连接。壳体内装有表头及电路板。本实用新型专利技术能方便检测ＶＣＤ、ＣＤ、ＤＶＤ等半导体激光头发出的激光强度大小，探头可弯一定角度，可达到直接放置测试部位，使用非常方便。本实用新型专利技术无需外接电池，使用寿命长，成本大幅度降低。（*该技术在2010年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本技术是一种测量激光功率的电子测量仪表，特别涉及对其结构的改进。现有的激光功率表，其结构为光电型，探头部分为圆筒形，不可折叠；其结构的缺点是，仪表体积大，电路结构复杂，包括取样、滤波、反馈、保护等电路，还需外接电源，对测量半导体激光等很不方便，而且价格较高。本技术的目的是，克服上述激光功率表结构的缺点，提供一种体积小，结构简单，操作方便的激光功率表。本技术的目的是这样实现的。激光功率表，包括有壳体、表头、插头1、连线2、探头4、电路，探头端开有孔7，探头内装有硅光电检测器5连线穿过手柄3，一端连接插头，另一端连接硅光电检测器；探头与手柄转动连接；插头与电路连接。表头可为50μA微安级，电路部分为，表头M的正端接电容C1的一端，负端接电容C1的另一端；电容C1与二极管D1、二极管D2、电容C2、电容C3并联；200Ω可变电阻W1一端接拨动开关B，另一端与820Ω电阻R1串联接表头负端；200Ω可变电阻W2一端接拨动开关B，另一端与电阻100Ω R2串联接表头负端；200Ω可变电阻W3一端接拨动开关B，另一端与10Ω电阻R3串联接表头负端；硅光电电池BS与表头两端并联。硅光电检测器外可用探头封盖6封闭。本技术的工作原理是，硅光电传感器受到激光辐射时，两端得到光电流，达到数毫安，不需外接电源，足以推动微安级的表头。为防止打坏表针，本技术提供了分流电路，以得到不同量程的不同刻度。二极管D1、二极管D2可使表头不过压；电容C1可抗高频脉冲干扰；电容C2、电容C3使表针平稳摆动，指示值不抖晃。本技术能方便检测VCD、CD、DVD等半导体激光头发出的激光强度大小，可以直接替代同类型的进口功率表。由于本仪表的探头可以弯折一定的角度，可达到直接放置测试部位，使用非常方便。本表除测试激光外，还可用作红外线的相对测量，如遥控器、电子行业用的红外线等。本技术无需外接电池，使用寿命长，而且电路比原有技术的简单，成本大幅度降低。本技术由以下实施例及其附图给出。附附图说明图1是本技术探头部分结构示意图。附图2是电路原理图。1插头、2连线、3手柄、4探头、5硅光电检测器、6探头封盖、7孔。实施例激光功率表，包括有壳体、电路、表头、插头1、连线2、探头4，探头端开有孔7，探头内装有硅光电检测器5连线穿过手柄3，一端连接插头，另一端连接硅光电检测器；探头与手柄转动连接；插头与电路连接。硅光电检测器外用探头封盖6封闭。表头为50μA微安级，电路部分为，表头M的正端接电容C1的一端，负端接电容C1的输出另一端；电容C1与二极管D1、二极管D2、电容C2、电容C3并联；200Ω可变电阻W1一端接拨动开关B，另一端与820Ω电阻R1串联接表头负端；200Ω可变电阻W2一端接拨动开关B，另一端与电阻100Ω R2串联接表头负端；200Ω可变电阻W3一端接拨动开关B，另一端与10Ω电阻R3串联接表头负端；硅光电电池BS经插座ck与表头两端并联。调节R1+W1=996Ω，为0.3mw量程；R2+W2=230Ω，为1mw量程；R3+W3=71Ω， 为3mw量程；电容C2取值4.7μF/16v；电容C3取值22μF/16v。权利要求1.一种激光功率表，包括有壳体、表头、插头(1)、连线(2)、探头(4)、电路，其特征在于探头端开有孔(7)，探头内装有硅光电检测器(5)；连线穿过手柄(3)，一端连接插头，另一端连接硅光电检测器；探头与手柄转动连接；插头与电路连接。2.按照权利要求1所述的激光功率表，其特征在于表头为50μA微安级，电路部分为，表头M的正端接电容C1的一端，负端接电容C1的另一端；电容C1与二极管D1、二极管D2、电容C2、电容C3并联；可变电阻W1一端接拨动开关B，另一端与电阻R1串联接表头负端；可变电阻W2一端接拨动开关B，另一端与电阻R2串联接表头负端；可变电阻W3一端接拨动开关B，另一端与电阻R3串联接表头负端；硅光电电池BS与表头两端并联3.按照权利要求1所述的激光功率表，其特征在于硅光电检测器外用探头封盖(6)封闭。专利摘要本技术是一种测量激光功率的电子测量仪表,特别涉及对其结构的改进。包括有壳体、电路、表头、插头、连线、手柄,探头端开有孔,探头内装有硅光电检测器,外用探头封盖封闭。探头与手柄转动连接。壳体内装有表头及电路板。本技术能方便检测VCD、CD、DVD等半导体激光头发出的激光强度大小,探头可弯一定角度,可达到直接放置测试部位,使用非常方便。本技术无需外接电池,使用寿命长,成本大幅度降低。文档编号G01J1/42GK2434660SQ00218038公开日2001年6月13日 申请日期2000年6月15日 优先权日2000年6月15日专利技术者李德海 申请人:上海胜龙电器实业有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种激光功率表，包括有壳体、表头、插头（１）、连线（２）、探头（４）、电路，其特征在于探头端开有孔（７），探头内装有硅光电检测器（５）；连线穿过手柄（３），一端连接插头，另一端连接硅光电检测器；探头与手柄转动连接；插头与电路连接。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：李德海，
申请(专利权)人：上海胜龙电器实业有限公司，
类型：实用新型
国别省市：31[中国|上海]