光通量计及总光通量的测量方法技术

本发明专利技术涉及光通量计及总光通量的测量方法。在反射镜（３）上形成能够连通半球部（１）的内表面侧和外部侧之间的光源窗（２）及照明窗（４）。光源窗（２）主要是用于安装被测量光源（ＯＢＪ）的开口。照明窗（４）是用于向半球部（１）的内表面照射来自用于测量自吸收所使用的校正光源（９）的光束的开口。根据在光源窗（２）上安装有非发光状态的被测量光源（ＯＢＪ）的情况下由校正光束所产生的照度、和在光源窗（２）上安装有校正用反射镜的情况下由校正光束所产生的照度，算出被测量光源（ＯＢＪ）的自吸收校正系数。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及 一种用于测量被测量光源所产生的总光通量 的光通量计及使用该光通量计的总光通量的测量方法，特别涉 及一种适于测量来自面光源的总光通量的结构。
技术介绍
作为用于测量光源的总光通量的代表性装置，已知有 包括积分球的球形光通量计。积分球在其内表面涂敷有漫反射才才泮牛(侈寸^口石克酸4贝、PTFE(polytetrafluoroethylene: 聚四氟乙燁)等)。在该积分球内配置净皮测量光源，通过使该#皮 测量光源所产生的光束在其内表面重复反射，使积分球内 表面的照度均匀。球形光通量计是利用该均匀的照度与被 测量光源的总光通量成比例的光通量计。通常，通过这种 球形光通量计所测量的总光通量为相对值，因此通过比较 产生的总光通量与使用已知的总光通量标准光源的情况下 的测量结果(标准值)，来测量被测量光源的总光通量的绝对 值。在这种球形光通量计中，无法避免用于在积分球内配置 被测量光源的支撑结构物、用于防止从被测量光源直接向用 于测量照度的受光部入射光的遮蔽板(baffle)等引起的光吸 收。另外，被测量光源自身也吸收光。"曰本工业标准JIS C-8152:照明用白色发光二极管(LED) 的测光方法，，中，公开有对这种光吸收使用用于校正被测量光 源的自吸收的系数。设置自吸收测量用光源(代表性的白色 LED(Light Emitting Diode:发光二极管))使得所产生的直接光不入射到受光部，通过在将被测量光源配置在积分球内的情况 和不将被测量光源配置在积分球内的情况下分别取得由来自自 吸收测量用光源的光束所产生的受光部的输出之比，来算出该 自吸收校正系数。然而，该方法无法校正支撑结构物、遮蔽板 等引起的光吸收。因此，为了避免这种由支撑结构物等引起的光吸收的影响，提出了特开平06-167388号公报所公开那样的半球形光通量 计(下面也称作"半球光通量计")。该半球光通量计具备代替 积分球、在半球状的内壁涂敷漫反射材料的积分半球；以及设 置成镜面覆盖积分半球的开口部的平面反射镜。而且，将被测 量光源设置在平面反射镜的中心使得其中心与积分半球的内部 半球的曲率中心 一 致。根据这种结构，被测量光源与通过平面反射镜产生的被测 量光源的虚像存在于积分球内(积分半球与积分半球的虚像的 合成空间)。即平面反射镜和积分半球能够实现宛若被测量光源 在积分球内空间中没有固定光源的支撑结构物地点亮的状态， 因此能够避免点亮工具等的支撑结构物所引起的光束吸收。然而，即使使用上述半球光通量计也无法避免被测量光源 自身的光吸收。特别在使用半球光通量计的情况下，由于被测 量光源安装在平面反射镜侧，因此能够将发光面积较大的面光 源作为被测量光源。这种情况下，也存在不能忽略被测量光源 自身引起的光吸收的量的情况。因此，在为了校正这种被测量光源自身的光吸收而设置了 如上所述的自吸收测量用光源的情况下，可能产生新的问题。 即在设置了自吸收测量用光源的情况下，该自吸收测量用光源 的虚像也存在于积分球内。如上所述，需要设置遮蔽板等使得 来自自吸收测量用光源的直接光不入射到受光部，而要避免从自吸收测量用光源及其虚像向受光部入射直接光，将导致遮蔽 板相对地变大。其结果是由于该遮蔽板和自吸收测量用光源引 起的积分球内的照度不均等，可能产生新的测量误差。
技术实现思路
本专利技术是为了解决上述问题而完成的，其目的在于提供一 种能够校正被测量光源等引起的光吸收的半球形的光通量计及 使用该光通量计的总光通量的测量方法。根据本专利技术的一个侧面，提供一种用于测量被测量光源所产生的总光通量的光通量计。光通量计包括半球部，在其内 表面形成有光漫反射层；板状反射镜，其配置为通过半球部的 实际的曲率中心，并且堵塞半球部的开口部；受光部，其用于 测量半球部内表面的照度；以及校正光源，其产生校正光束。 反射镜包括第一窗部，其形成在包括半球部的实际的曲率中 心的区域，并且能够安装被测量光源使得其产生的光束向半球 部的内表面照射；以及第二窗部，其形成在离开第一窗部规定 距离的位置上。校正光源，其被配置为通过第二窗部向半球部 内表面照射校正光束。最好是第 一 窗部构成为能够沿着与反射镜的镜面相同的 面安装大小与第一窗部的开口区域相同的校正用反射镜。光通 量计还包括校正系数算出部，其根据第 一照度和第二照度算出 被测量光源的光吸收所引起的校正系数，其中，所述第一照度 为在第一窗部安装非发光状态的被测量光源、并且校正光源是 发光状态的情况下所测量的照度，所述第二照度为在第一窗部 安装校正用反射镜、并且在校正光源是发光状态的情况下所测 量的照度。更好的是还具备总光通量算出部，其根据在第一窗部安装发光状态的被测量光源的情况下所测量的第三照度和校正系 数，算出被测量光源产生的总光通量。更好的是校正光源构成为通过第二窗部向半球部内表面 照射的校正光通量成为预先规定值。总光通量算出部根据第一 照度、第三照度、校正系数、和校正光通量，算出被测量光源 所产生的总光通量的绝对值。最好是受光部包括能够对不同波长测量半球部的内表面 的照度的分光部。校正系数算出部对不同波长算出校正系数。最好是受光部通过形成在半球部或反射镜上的第三窗部 来测量照度。光通量计还包括遮蔽部，该遮蔽部被配置在第一 窗部到第三窗部的if各径上。根据本专利技术的另一侧面，提供一种用于测量被测量光源所 产生的总光通量的测量方法。测量方法包括准备光通量计的步骤。光通量计包括在其内表面形成光漫反射层的半球部、和 配置为通过半球部的实际的曲率中心、并且堵塞半球部的开口 部的板状反射镜。反射镜具有第一窗部、和形成在离第一窗 部规定距离的位置上的第二窗部。测量方法还包括沿着与反 射镜的镜面相同的面对第一窗部安装大小与第一窗部的开口区 域相同的校正用反射镜的步骤；通过第二窗部向半球部的内表 面照射校正光束的步骤；测量半球部的内表面的照度作为第一 照度的步骤；以及在第一窗部安装被测量光源使得其光束的产 生方向朝向半球部的内表面的步骤。测量光源维持非发光状态。测量方法还包括通过第二窗部向半球部的内表面照射校正光 束的步骤；测量半球部的内表面的照度作为第二照度的步骤； 根据第 一照度和第二照度算出被测量光源的光吸收所引起的校 正系数的步骤；使被测量光源为发光状态，测量半球部内表面 的照度作为第三照度的步骤；以及根据第三照度和校正系数算出被测量光源所产生的总光通量的步骤。本专利技术的优点在于能够校正由被测量光源等引起的光吸收。根据结合附图进行理解的、与本专利技术有关的下面的详细说 明可以明确本专利技术的上述以及其他目的、特^正、侧面以及优点。附图说明图l是表示本专利技术的第一实施方式所涉及的光通量计的外 观图的图。图2是表示本专利技术的第一实施方式所涉及的光通量计的剖 面结构的概要图。图3是用于说明被测量光源的非安装状态的概要图。图4是表示本专利技术的第一实施方式所涉及的控制部中的控 制结构的概要图。图5A 图5C是示意性地表示使用本专利技术的第一实施方式所 涉及的光通量计的测量方式的图。图6是表示使用本专利技术的第一实施方式所涉及的光通量计 的总光通量的测量所涉及的处理过程的流程图。图7是表示白色LED的代表性结构的剖面图。图8是表示本专利技术的第二实施方式所涉及的光通量计的剖本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光通量计，用于测量从被测量光源产生的总光通量，该光通量计具备：　半球部，在其内表面形成光漫反射层；　板状反射镜，其被配置成通过上述半球部的实际的曲率中心，并且堵塞上述半球部的开口部；　受光部，其用于测量上述半球部的内表 面的照度；以及　校正光源，其产生校正光束，　其中，上述反射镜包括：　第一窗部，其形成在包括上述半球部的实际的曲率中心的区域，并且能够安装上述被测量光源使得其所产生的光束向上述半球部的内表面照射；以及　第二窗部，其形成 在离上述第一窗部规定距离的位置上，　上述校正光源被配置成通过上述第二窗部向上述半球部的内表面照射上述校正光束。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：大久保和明，
申请(专利权)人：大电子株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]