【技术实现步骤摘要】
本技术涉及光学元件,具体涉及一种超薄型透射式光学狭缝。在非干涉型光谱仪器中,仪器的光谱分辨率与狭缝有关。在单色仪与分光光度计一类仪器中通常采用宽度可调式的机械狭缝,而在成像光谱仪一类仪器中通常采用宽度固定的机械狭缝。但不管是可调式的,还是固定式的,对狭缝的厚度都要求做的很薄,这是因为光束经过狭缝时,将有一部分光线由狭缝厚度的小断面反射进入仪器中,这部分光线不仅增加仪器中的杂散光的强度,而且会使谱线的轮廓扩散。另外,在成像光谱仪的应用中,入射狭缝直接成像在光电探测器上,狭缝的边缘质量会影响系统的信噪比。而且很薄的机械狭缝加工困难,很易损坏。本技术的目的是提供一种狭缝边缘清晰,厚度超薄,且加工方便的透射式光学狭缝。本技术的目的是通过如下技术方案实现的即以光学研磨抛光后的石英材料为基板,在基板的二侧镀增透膜,在对着物方的增透膜上镀带狭缝的黑铬膜层,对着像方的增透膜上镀带狭缝的钝化膜层,二侧狭缝的大小与方位一致,并严格对齐,狭缝的条数、宽度及形状可根据需要而定。 附图说明图1为技术的工作原理图;图2为单缝光学狭缝剖面结构示意图;图3为单缝光学狭缝平面示意图。以下结合附图对本技术实施方式作详细说明见图1,以光学研磨抛光后的石英材料为基板1,在基板的二侧镀增透膜2,将需要的狭缝3形状尺寸输入计算机画出放大的图形,用光学方法精缩为同样大小的负片母版,再复制到基片的二个面上,在基片的二个面上形成狭缝图案,二面上的狭缝应严格对齐,然后对狭缝以外的部分,即非通光部分进行喷丸处理,最后对处理过的部分一面镀黑铬膜层4,另一面也镀黑铬然后进行喷丸处理成钝化膜层5。一种超薄型透 ...
【技术保护点】
一种超薄型透射式光学狭缝,其特征在于:它是以光学研磨抛光后的石英材料为基板(1),在基板的二侧镀增透膜(2),在对着物方的增透膜上镀带狭缝(3)的黑铬膜层(4),对着像方的增透膜上镀带狭缝的钝化膜层(5),二侧狭缝的大小与方位一致,所说的狭缝的条数、宽度及形状可根据需要而定。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:胥学荣,
申请(专利权)人:中国科学院上海技术物理研究所,
类型:实用新型
国别省市:31[中国|上海]
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