【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学元件、系统，具体是指一种用于机载或星载对地观察超光谱成像仪中的折反射式凸面光栅成像光学系统。在折反射式成像光谱仪方面，Slutter，Warren S.在EP 0 862 050 A2专利中提出了采用Dyson光学系统结构的成像光谱仪，其光栅为凹球面反射光栅。这种采用Dyson系统成像光谱仪其物面与像面距折射透镜很近，从而给机械结构设计带来极大的不便，而且凹面光栅很难制成闪耀型光栅，衍射效率较凸面光栅为低。本专利技术的折反射式凸面光栅成像光学系统的结构如附图说明图1所示，它按顺序由凸球面反射光栅4和凹球面反射镜3构成一同轴形式的离轴三反镜成像光学系统，其特征在于在该系统前面增加了一折射透镜2。来自物方的光束1射经折射透镜2，射向凹球面反射镜3，经其反射至凸球面反射光栅4，再由凸球面反射光栅4射向凹球面反射镜3，再由凹球面反射镜3反射，经折射透镜2，在象方象平面5上成象。所说的折射透镜2必须满足以下要求1.折射透镜2的材料对成像光谱仪的工作波段必须是透明的；2.折射透镜2的前表面曲率半径R1＝(0.26～0.39)R4，其中R4是凹球面反射镜3的曲率半径。3.折射透镜2的后表面曲率中心与前表面曲率中心重合，也可以略有分开；4.折射透镜2的中心厚度不小于透镜口径的十分之一；5.折射透镜2与凸球面反射光栅4间隔距离为12mm～25mm。本专利技术的光学系统的最大优越性是在同轴形式的离轴三反镜成像光学系统前增加入了折射透镜，使系统的象差得到进一步校正，从而保证系统在保持同轴形式的情况下可以获得与离轴式成像光谱仪相当的像质，而系统的光学元件加...
【技术保护点】
一种折反射式凸面光栅成像光学系统，按顺序依次由凸球面反射光栅（４）和凹球面反射镜（３）构成一同轴形式的离轴三反镜成像光学系统， 其特征在于： ａ．在该系统前面增加了一折射透镜（２）； ｂ．来自物方的光束（１）经折射透镜（２），射向凹球面反射镜（３），经其反射至凸球面反射光栅（４），再由凸球面反射光栅（４）射向凹球面反射镜（３），再由凹球面反射镜（３）反射，经折射透镜（２），在象方象平面（５）上成象。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：沈蓓军，刘宝丽，刘银年，王建宇，薛永祺，
申请(专利权)人：中国科学院上海技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]
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