带温度调节模块的LED测试探针结构制造技术

一种带温度调节模块的LED测试探针结构，包括温度调节模块和探针模块，所述温度调节模块设于所述探针模块上方，对被测产品进行温度调节。本实用新型专利技术在传统测试探针结构上安装有加热或制冷模块，带来的有益效果是，使得LED在测试时可以获得不同的温度，实现了LED更宽的测试场景。

【技术实现步骤摘要】
带温度调节模块的LED测试探针结构
本技术涉及用于分光机的探针结构，尤其是一种带温度调节模块的LED测试探针结构。
技术介绍
目前在LED测试中一般在室温下进行，随着LED产品应用于如汽车、水族养殖灯对性能要求高的场合，需要在多个温度下测试LED的性能，传统测试已不能满足。
技术实现思路
本技术的目的是针对上述问题，向社会提供一种可以根据客户不同温度要求而进行相应温度下测试的带温度调节模块的LED测试探针结构。本技术的技术方案实现是：一种带温度调节模块的LED测试探针结构，包括温度调节模块和探针模块，所述温度调节模块设于所述探针模块上方，对被测产品进行温度调节。作为对本技术的改进，在所述温度调节模块上设有放置被测产品的缺口。作为对本技术的改进，所述温度调节模块还设有用于实现温度闭环控制的温度探头。作为对本技术的改进，所述探针模块还包括提供探针上下移动的动力元件。作为对本技术的改进，所述探针模块内还设有用于探针上下移动时进行缓冲的行程缓冲件。作为对本技术的改进，所述探针模块还包括导向件，用于给所述探针模块导向。作为对本技术的改进，所述温度调节模块是半导体制冷片、电热冷却器或陶瓷发热体。作为对本技术的改进，所述温度调节模块是外置冷源或热元，所述外置冷源或热元通过流体管道将能量输送至产品载具。作为对本技术的改进，在所述温度调节模块上固定设有隔热板。本技术在传统测试探针结构上安装有加热或制冷模块，带来的有益效果是，使得LED在测试时可以获得不同的温度，实现了LED更宽的测试场景。附图说明图1是本技术一种实施例的立体结构示意图。具体实施方式在本技术的描述中，需要理解的是，术语中“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“连接”、“相连”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以是通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术的具体含义。此外，在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”、“若干”的含义是两个或两个以上。请参见图1，本技术提供了一种带温度调节模块的LED测试探针结构，包括温度调节模块1和探针模块2，所述温度调节模块1设于所述探针模块2上方，对被测产品进行温度调节。所述温度调节模块包括产品载具11、半导体制冷片12（当然，半导体制冷片12也可用其制热或制冷，或即可制热又可制冷的器件代替）和隔热板3；探针模块2包括弹簧21、气缸22和滑轨23，由于探针模块2是现有技术，在这里不再赘述。使用时，温度调节模块2的能量传导到产品治具11，被测产品放置于产品载具11中，探针模块2通过气缸22驱动，经线性滑轨23导向接通产品引角，通过对加热或制冷时间的控制，可以使得产品载具11获得不同的温度，实现不同温度条件对被测产品（LED）的测试。优选的，在所述温度调节模块1上设有放置被测产品的缺口111。优选的，所述温度调节模块1还设有用于实现温度闭环控制的温度探头（未画出）。优选的，所述探针模块2还包括提供探针上下移动的动力元件（本实施例中为气缸）。优选的，所述探针模块2内还设有用于探针上下移动时进行缓冲的行程缓冲件（未画出）。所述探针模块2还包括导向件（未画出），用于给所述探针模块2导向。优选的，所述温度调节模块1是半导体制冷片、电热冷却器或陶瓷发热体。优选的，所述温度调节模块1是外置冷源或热元，所述外置冷源或热元通过流体管道将能量输送至产品载具。在所述温度调节模块1上固定设有隔热板112。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种带温度调节模块的LED测试探针结构，其特征在于，包括温度调节模块（1）和探针模块（2），所述温度调节模块（1）设于所述探针模块（2）上方，对被测产品进行温度调节。/n

【技术特征摘要】
1.一种带温度调节模块的LED测试探针结构，其特征在于，包括温度调节模块（1）和探针模块（2），所述温度调节模块（1）设于所述探针模块（2）上方，对被测产品进行温度调节。


2.根据权利要求1所述的带温度调节模块的LED测试探针结构，其特征在于，在所述温度调节模块（1）上设有放置被测产品的缺口。


3.根据权利要求1或2所述的带温度调节模块的LED测试探针结构，其特征在于，所述温度调节模块（1）还设有用于实现温度闭环控制的温度探头。


4.根据权利要求1或2所述的带温度调节模块的LED测试探针结构，其特征在于，所述探针模块（2）还包括提供探针上下移动的动力元件。


5.根据权利要求1或2所述的带温度调节模块的LED测试探针结构，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊亚俊，幸雄，段雄斌，何选民，
申请(专利权)人：深圳市标谱半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44