电抗器制造技术

提供一种抑制部分芯间的间隙中树脂材料发生变形的电抗器。包括：芯10，所述芯10包含介隔间隙G而配置的至少一对部分芯即T字形芯12a、12b；线圈20，安装于T字形芯12a、12b的一部分；以及芯壳体62，所述芯壳体62由树脂材料一体地形成，且是覆盖T字形芯12a、12b的芯模部6，芯壳体62具有在与间隙G对应的位置介于T字形芯12a、12b之间的连结部621，连结部621包括贯通孔622以及一对连接部624，所述一对连接部624夹隔贯通孔622而相向，并将T字形芯12a、12b间连接。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】电抗器
本专利技术涉及一种电抗器。
技术介绍
电抗器用于各种电气设备，包括具有芯及卷绕于芯周围的线圈的电抗器本体、以及收容电抗器本体的壳体。芯在多数情况下是组合多个部分芯而构成，所述情况下，有时在部分芯彼此之间设置磁间隙。所述间隙有时是由空隙来形成，有时是介入间隔件等树脂材料。现有技术文献专利文献专利文献1：日本专利特开2016-66751号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的问题为了确保与线圈绝缘，通过模压成型来将芯的全部或一部分埋设于树脂材料的内部。所述情况下，部分芯间的磁间隙中，内部不存在芯而为全部被树脂材料填充的实心，因此树脂材料为厚壁。但是，此种间隙的实心部分附近的树脂材料容易因所谓的缩痕而变形。即，若对与所述实心部分邻接的芯的突起部分周围加以覆盖的树脂材料由于从有流动性的高温状态变为硬化的低温时的收缩而成为薄壁，则产生弯曲或凹陷，从而发生部分芯彼此的位置偏离正常位置等变化。另一方面，若使间隙的树脂材料为薄壁，则此部位的强度变弱，因而容易变形，部分芯彼此的位置不稳定。若部分芯的位置改变，则芯与线圈、线圈彼此的距离改变，出现产生彼此的接触而无法确保绝缘的情况。本专利技术是为了解决如上所述的课题而成，其目的在于提供一种抑制部分芯间的间隙中树脂材料发生变形的电抗器。解决问题的技术手段本专利技术的电抗器包括：芯，所述芯包含介隔间隙而配置的至少一对部分芯；线圈，安装于所述芯的一部分；以及芯模部，所述芯模部由树脂材料形成，且覆盖所述一对部分芯，所述芯模部具有在与所述间隙对应的位置介于所述一对部分芯之间的连结部，所述连结部包括贯通孔以及一对连接部，所述一对连接部夹隔所述贯通孔而相向，并将所述一对部分芯间连接。专利技术的效果根据本专利技术，可提供一种抑制部分芯间的间隙中树脂材料发生变形的电抗器。附图说明[图1]是实施方式的电抗器的平面图。[图2]是实施方式的电抗器的正面侧立体图。[图3]是表示电抗器本体及壳体的分解立体图。[图4]是电抗器本体的分解立体图。[图5]是埋入了T字形芯的芯壳体的立体图。[图6]是图5的平面图。[图7]是沿着图5及图6的箭头B-B'的剖面图。[图8]是沿着图1的箭头A-A'的剖面图。[图9]是表示具有厚壁的连结部的芯壳体的例子的平面图。[图10]是表示具有薄壁的连结部的芯壳体的例子的平面图。[图11]是表示连结部的另一形态的立体图。[图12]是表示连结部的又一形态的立体图。[图13]是表示芯的另一构成例的平面图。[图14]是表示贯通孔的一端部扩大的例子的立体图。[图15]是表示贯通孔的一端部扩大的例子的图14的箭头B-B'的剖面图(A)、表示贯通孔的两端部扩大的例子的剖面图(B)、表示贯通孔的内表面倾斜的例子的剖面图(C)。[图16]是表示在芯模部设置限制部的例子的立体图。[图17]是图16的侧视图。[图18]是表示在连结部形成有连通口的例子的剖面图。具体实施方式以下，参照附图来对本实施方式的电抗器进行说明。此外，本说明书中，将沿着图1所示的z轴的一方向设为“上”侧，将其反方向设为“下”侧。为了说明各构件的构成，“下”也称为“底”。沿着z轴的方向是电抗器的“高度方向”。另外，将沿着图1所示的x轴的一方向及其反方向设为“宽度方向”，将沿着y轴的一方向及其反方向设为“深度方向”。将“宽度方向”、“深度方向”形成的平面设为“水平方向”。这些方向是用于描述电抗器的各构成的位置关系的表述，并不限定将电抗器设置于设置对象时的位置关系或方向。[构成]如图1的平面图、图2的正面侧立体图所示，电抗器100包括电抗器本体1、壳体3、母线4、端子台5。[电抗器本体]如图1的平面图及图3的分解立体图所示，本实施方式的电抗器本体1俯视时整体呈具有一对长边与一对短边的大致圆角长方形。圆角长方形是角圆滑的长方形。如图4的分解立体图所示，电抗器本体1具有芯10及线圈20。[芯]芯10为压粉磁芯、铁氧体磁芯或层叠钢板等磁性体，其内部成为由后述的线圈20产生的磁通的通道而形成磁路。本实施方式的芯10包含介隔间隙而配置的至少一对部分芯。更具体来说，如图4所示，芯10具有两个I字形芯11a、11b及两个T字形芯12a、12b作为部分芯。I字形芯11a、11b为大致长方体形状。T字形芯12a、12b通过在大致长方体形状的部分的相向侧面形成中央突起部Pa、Pb而呈大致T字形状。芯10通过使I字形芯11a、11b的一表面与T字形芯12a、12b的两端部经由未图示的粘合剂对接粘合而形成环状芯。更具体来说，本实施方式中，中央突起部Pa、Pb位于环状的内侧，因此整体形成大致θ状。此外，I字形芯11a、11b的一表面与T字形芯12a、12b的两端部也可不使用粘合剂而直接接触来对接，也可设置磁间隙。磁间隙可通过介入间隔件而形成，也可由空隙形成。进而，本实施方式具有由树脂材料形成且覆盖部分芯的芯模部6。芯模部6具有芯壳体61a、61b、62。芯壳体61a是在内部收容I字形芯11a的绝缘性的树脂成型品。芯壳体61b是在内部收容I字形芯11b的绝缘性的树脂成型品。芯壳体62是在内部收容T字形芯12a、12b的绝缘性的树脂成型品。芯壳体61a、61b、62介于芯10与线圈20之间来确保绝缘。芯壳体61a通过在将I字形芯11a安置于模具内的状态下注入树脂材料并固化，而一体地形成。芯壳体61b通过在将I字形芯11b安置于模具内的状态下注入树脂材料并固化，而一体地形成。芯壳体62通过在将T字形芯12a、12b安置于模具内的状态下注入树脂材料并固化，而一体地形成。所谓一体地形成，是指在树脂材料中埋设有部分芯。此外，一体地形成既包含在独立地形成多个将部分芯埋设于树脂材料中而成者后使其合体的情况，也包含以将多个部分芯统一埋设于树脂材料中的方式无接缝而连续地形成的情况。其中，覆盖I字形芯11a、11b的芯壳体61a、61b在相当于I字形芯11a、11b与T字形芯12a、12b的接合面的部分设置有开口。覆盖T字形芯12a、12b的芯壳体62在相当于T字形芯12a、12b与I字形芯11a、11b的接合面的部分设置有开口。在这些芯壳体61a、61b、62的开口，当将芯10组合为大致θ形状时，形成有互相嵌合的嵌合部。如图3及图4所示，在芯壳体61a、61b的外侧面形成有用于固定于壳体3的安装部15。安装部15是向外方突出的板状的舌片，形成有插入螺栓B的安装孔16。螺栓B是具有螺纹的紧固件。安装部15在芯壳体61a的I字形的两端形成有两个，在芯壳体61b的I字形的中央形成有一个。这些安装部15是与芯壳体61a、61b的成型加工一同形成。作为部分芯的一对T字形芯12a与T字形芯12b是介隔间隙G而配置。即，T字形芯12a的中央突起部Pa的端面、与T字形芯12本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电抗器，其特征在于包括：/n芯，所述芯包含介隔间隙而配置的至少一对部分芯；/n线圈，安装于所述芯的一部分；以及/n芯模部，所述芯模部由树脂材料一体地形成，且覆盖所述一对部分芯，/n所述芯模部具有在与所述间隙对应的位置介于所述一对部分芯之间的连结部，/n所述连结部包括：/n贯通孔；以及/n一对连接部，所述一对连接部夹隔所述贯通孔而相向，并将所述一对部分芯间连接。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180117 JP 2018-0059891.一种电抗器，其特征在于包括：
芯，所述芯包含介隔间隙而配置的至少一对部分芯；
线圈，安装于所述芯的一部分；以及
芯模部，所述芯模部由树脂材料一体地形成，且覆盖所述一对部分芯，
所述芯模部具有在与所述间隙对应的位置介于所述一对部分芯之间的连结部，
所述连结部包括：
贯通孔；以及
一对连接部，所述一对连接部夹隔所述贯通孔而相向，并将所述一对部分芯间连接。


2.根据权利要求1所述的电抗器，其特征在于：所述芯为环状，
所述连结部配置于环状的所述芯的内周侧。


3.根据权利要求1或2所述的电抗器，其特征在于包括：
收容体，收容具有所述芯、所述线圈及所述芯模部的电抗器本体；以及
填充成形部，包含介于所述电抗器本体与所述收容体之间的填充材，且
所述一对连接部的其中一者具有连通于所述贯通孔的开口。


4.根据权利要求3所述的电抗器，其特征在于：所述芯模部具有壁部，所述壁部竖立设置于夹隔所述开口而相向的位置。


5.根据权利要求3或4所述的电抗器，其特征在于：所述芯模部具有倾斜部，所述倾斜部是通过树脂材料的厚度朝向所述开口变薄而形成。


6.根据权利要求1至5中任一项所述的电抗器，其特征在于：所述一对连接部的其中一者具有一对相向连接部...

【专利技术属性】
技术研发人员：铃木浩太郎，植草易央，
申请(专利权)人：株式会社田村制作所，
类型：发明
国别省市：日本;JP