【技术实现步骤摘要】
一种花岗石长度校检梯形块
本技术属于量具校正
，尤其涉及一种花岗石长度校检梯形块。
技术介绍
随着花岗石行业的发展，人们对于精度的要求越来越高，怎样提高检测的准确性，降低测量误差，提高产品的精度，在实践中不断改进检测工具。现有的检测尺精度低，误差高，长期使用的量具误差变大后，满足不了加工需求要及时更换新的量具。因此，专利技术一种花岗石长度校检梯形块显得非常必要。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本技术提供一种花岗石长度校检梯形块，以解决现有的花岗石检测精度低，误差高，长期使用的量具误差变大，满足不了加工需求要及时更换新的量具的问题。一种花岗石长度校检梯形块，包括标尺本体，减重孔，第一凸台，第一凹槽，第二凸台，第二凹槽，第三凸台，第三凹槽和第四凸台，所述的标尺本体设置为长方体；所述的减重孔采用多个；所述的第一凸台，第一凹槽，第二凸台，第二凹槽，第三凸台，第三凹槽和第四凸台自左向右依次设置在标尺本体的顶部。所述的第一凸台，第二凸台，第三凸台和第四凸台的尺寸分别为200mm、300mm、400mm和500mm，可用于校检外卡精度误差。所述的第一凹槽，第二凹槽和第三凹槽的尺寸分别为100mm、200mm和300mm，可用于校检内卡精度误差。所述的减重孔设置为圆形通孔，自左向右依次开设在标尺本体上，减轻了标尺本体的整体重量，使得标尺体积轻盈，易拿取和挂放。与现有技术相比，本技术具有如下有益效果：1.本技术，第一凹槽，第二凹槽和第三凹槽的标准可用于...
【技术保护点】
1.一种花岗石长度校检梯形块，其特征在于：包括标尺本体（1），减重孔（2）， 第一凸台（3），第一凹槽（4）， 第二凸台（5），第二凹槽（6）， 第三凸台（7），第三凹槽（8）和第四凸台（9），所述的标尺本体（1）设置为长方体；所述的减重孔（2）采用多个；所述的第一凸台（3），第一凹槽（4）， 第二凸台（5），第二凹槽（6）， 第三凸台（7），第三凹槽（8）和第四凸台（9）自左向右依次设置在标尺本体（1）的顶部。/n
【技术特征摘要】
1.一种花岗石长度校检梯形块，其特征在于：包括标尺本体（1），减重孔（2），第一凸台（3），第一凹槽（4），第二凸台（5），第二凹槽（6），第三凸台（7），第三凹槽（8）和第四凸台（9），所述的标尺本体（1）设置为长方体；所述的减重孔（2）采用多个；所述的第一凸台（3），第一凹槽（4），第二凸台（5），第二凹槽（6），第三凸台（7），第三凹槽（8）和第四凸台（9）自左向右依次设置在标尺本体（1）的顶部。
2.如权利要求1所述的花岗石长度校检梯形块...
【专利技术属性】
技术研发人员：孟凡刚，李伟，曾繁民，
申请(专利权)人：济南晶磊精密机械有限公司，
类型：新型
国别省市：山东;37
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。