一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器制造技术

本发明专利技术公开了一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器，属于信号传输及测试技术领域，其通过优选设置第二接触部的结构，并对应两接触部设置具有至少两个带状弹性片的弹性部，以及对应设置带状弹性片的结构，使得两接触部能可靠导通，并在工作时稳定抵接相应的部件。本发明专利技术的适用于大电流高速信号测试的探针及连接器，其结构简单，设置简便，利用各部件的对应设置，能在实现探针两接触部可靠连接的基础上，降低探针的导通电阻，为高速率信号的传输和大电流测试环境下的应用提供了可能，拓展了探针的应用范围，降低了探针的应用成本，具有较好的应用前景和推广价值。

【技术实现步骤摘要】
一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器
本专利技术属于信号传输及测试
，具体涉及一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器。
技术介绍
在液晶面板、集成电路等电子部件模块的制造工序中，往往需要进行导通检测和动作特性检查等过程，这通常需要使用探针将电子部件模块的主体基板与FPC接触电极对应连接，或者将基板的电极部与检测装置对应连接，进而完成相应的检测工作。目前，常用的探针具有能够与电子部件的电极端子和被连接电子部件的电极端子分别接触的一对触头，以及一对触头之间连接的弹性部。探针通过弹性部确保触头与电子部件的电极端子和被连接电子部件的电极端子之间的接触压力，提高针对电子部件的电极端子和被连接电子部件的电极端子的接触可靠性。该弹性部的外形多为S形、蛇形，由直线部和弯曲部交替连接组成；并且为了较好的发挥弹性部的弹簧特性，该弯曲部的数量至少为两个，因此弹性部的直线距离较长；由于测试过程中信号需要经过弹性部在两个触头之间传输，弹性部的长度较长将导致信号传输路径长，信号在传输过程中衰减严重，信号质量变差，因此无法满足高速信号传输的使用要求；此外，此类探针的导电电阻过大，会严重限制高速信号的传输速度。基于上述缺陷，目前常用的探针的最大过流能力小于2.5A，一般只能应用于信号传输速率不大于1.2Gbps的测试环境中。
技术实现思路
针对现有技术的以上缺陷或改进需求中的一种或者多种，本专利技术提供了一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器，可有效实现探针工作时两接触部与对应部件的抵紧，提升探针抵接连通的可靠性，并有效实现探针在高速信号传输、大电流作用环境下的应用。为实现上述目的，本专利技术的一个方面，提供一种适用于大电流高速信号测试的探针，包括在探针纵向上间隔设置的第一接触部和第二接触部，其特征在于，还包括将两接触部对应连接的弹性部，各部件一体成型；所述第一接触部为沿探针纵向延伸的板状结构，其一端为触点部，另一端为与所述弹性部一端连接的连接端；所述第二接触部呈L型结构，其包括沿探针横向延伸的第一支部和沿探针纵向延伸的第二支部；所述第一支部背离所述第一接触部的一侧设置有至少一个触点部；所述弹性部包括至少两个间隔设置的带状弹性片；所述带状弹性片包括沿探针纵向延伸的直线部和沿探针横向延伸的曲线部，所述直线部的一端连接在所述连接端的端部，另一端与所述曲线部的一端连接，且所述曲线部的另一端连接在所述第二支部上；所述弹性部中最外侧的两个所述直线部在探针横向上间隔大于预设阈值，且所述弹性部中最外侧的两个所述曲线部在探针纵向上间隔大于预设阈值。作为本专利技术的进一步改进，所述曲线部包括多个连续设置的弯曲部，且相邻两弯曲部的曲率中心分设于该曲线部沿探针纵向的两侧。作为本专利技术的进一步改进，所述探针导通路径的最小有效横截面积位于弹性部或者两接触部，且该最小有效横截面积对应的宽度与探针宽度之间的比值介于1:200～1:10之间。作为本专利技术的进一步改进，所述弹性部的有效横截面积不大于两接触部的横截面积最小值；所述探针的宽度为0.5～10mm，所述带状弹性片的设置数量为2～6个，且每根带状弹性片的宽度范围为0.05～1mm。作为本专利技术的进一步改进，所述探针的设置厚度为0.05mm～3mm，且探针导通路径的最小有效横截面积为0.005mm2～18mm2。作为本专利技术的进一步改进，各所述曲线部平行设置；所述曲线部包括两个弯曲部，且两所述弯曲部的弯曲弧度角分别介于90°～175°之间和5°～90°之间。作为本专利技术的进一步改进，所述带状弹性片的设置数量多于两个，且弹片间隙的最大宽度由内至外依次递减。作为本专利技术的进一步改进，所述带状弹性片包含至少一个带状通槽，所述带状通槽将所述带状弹性片分为多个带状子弹性片。作为本专利技术的进一步改进，所述第二支部背离所述第一支部的一端沿探针纵向延伸形成有第一限位部，用于该探针在针模中应用时的限位；且所述第一支部背离所述第二支部的一侧两端分别形成有第二限位部，用于该探针与端盖匹配时的限位。作为本专利技术的进一步改进，各所述直线部沿探针纵向的长度随着与所述第二支部横向距离的增大而增大，且任意两直线部之间的长度差值等于对应连接所述两直线部的曲线部在所述第二支部上连接位置的纵向距离。作为本专利技术的进一步改进，相邻两所述带状弹性片之间的最小间隙宽度范围为0.06～0.5mm，最大间隙宽度范围为0.06～5mm。本专利技术的另一个方面，提供一种连接器，其包括所述探针，还包括能够收纳所述探针的针模和可将所述探针限位封装于所述针模内的端盖。上述改进技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。总体而言，通过本专利技术所构思的以上技术方案与现有技术相比，具有以下有益效果：(1)本专利技术的适用于大电流高速信号测试的探针，其通过优选设置第二接触部的结构为L型，并对应第一接触部和第二接触部设置具有至少两个带状弹性片的弹性部，且对应优选带状弹性片具有沿探针横向的曲线部和沿探针纵向的直线部，进而实现两接触部的对应连接，使得当第一接触部的端部受力工作时，弹性部可以将其承受的作用力分散并对其施以一个反作用力，以及将一部分作用力传递到第二接触部上，使得两接触部的触点部均可稳定抵接相应的部件，从而有效提升探针工作时的连接稳定性，提升探针测试的质量；(2)本专利技术的适用于大电流高速信号测试的探针，其通过优选设置弹性部的有效横截面积，使得弹性部的有效横截面积不大于两接触部的横截面积最小值，即只需要控制弹性部的有效横截面积尽可能大，便能有效降低探针的导通电阻，为大电流应用环境下高速信号的传输提供了条件；同时，考虑到弹性部在横截面积较大时其变形所需要的作用力会增大、探针工作不便的问题，本专利技术中通过将弹性部分隔为多个带状弹性片的形式，以此分散弹性部所承受的作用力，保证探针的正常工作；然而，若弹性部分隔而成的带状弹性片太多，即弹片间隙的总宽度会太大，这样虽然能有效分散接触部工作时传递的作用力，但是也会加大探针的整体长度，不利于探针与相关配套设备的配合使用；基于上述理由，本专利技术中的探针通过优选设计，实现了弹性部有效横截面积、带状弹性片数量、带状弹性片宽度、弹片间隙宽度等参数之间的对应平衡，使得探针在保证正常使用的情况下，尽可能地降低了导通电阻，为探针在大电流高速信号测试下的应用提供了保证；(3)本专利技术的适用于大电流高速信号测试的探针，其通过优选设置探针导通路径上弹性部的有效横截面积，使得上述横截面积在小于两接触部最小横截面积的前提下尽可能大，进而减少两接触部之间的导通电阻，为探针在高速信号传输以及大电流环境下的工作提供了可能，充分扩展了探针的应用领域，提升了探针的测试效率；(4)本专利技术的适用于大电流高速信号测试的探针及连接器，其通过第二接触部上第一限位部、第二限位部的对应设置，有效实现了探针在实际应用时与针模、端盖的限位，保证了探针设置、应用的可靠性，进一步提升了探针应用时测试结果的准确性；(5)本专利技术的适用于大电流高速信本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种适用于大电流高速信号测试的探针，包括在探针纵向上间隔设置的第一接触部和第二接触部，其特征在于，还包括将两接触部对应连接的弹性部，各部件一体成型；/n所述第一接触部为沿探针纵向延伸的板状结构，其一端为触点部，另一端为与所述弹性部一端连接的连接端；/n所述第二接触部包括沿探针横向延伸的第一支部和沿探针纵向延伸的第二支部；所述第一支部背离所述第一接触部的一侧设置有至少一个触点部；/n所述弹性部包括至少两个间隔设置的带状弹性片；所述带状弹性片包括沿探针纵向延伸的直线部和沿探针横向延伸的曲线部，所述直线部的一端连接在所述连接端的端部，另一端与所述曲线部的一端连接，且所述曲线部的另一端连接在所述第二支部上；/n所述弹性部中最外侧的两个所述直线部在探针横向上间隔大于预设阈值，且所述弹性部中最外侧的两个所述曲线部在探针纵向上间隔大于预设阈值。/n

【技术特征摘要】
1.一种适用于大电流高速信号测试的探针，包括在探针纵向上间隔设置的第一接触部和第二接触部，其特征在于，还包括将两接触部对应连接的弹性部，各部件一体成型；
所述第一接触部为沿探针纵向延伸的板状结构，其一端为触点部，另一端为与所述弹性部一端连接的连接端；
所述第二接触部包括沿探针横向延伸的第一支部和沿探针纵向延伸的第二支部；所述第一支部背离所述第一接触部的一侧设置有至少一个触点部；
所述弹性部包括至少两个间隔设置的带状弹性片；所述带状弹性片包括沿探针纵向延伸的直线部和沿探针横向延伸的曲线部，所述直线部的一端连接在所述连接端的端部，另一端与所述曲线部的一端连接，且所述曲线部的另一端连接在所述第二支部上；
所述弹性部中最外侧的两个所述直线部在探针横向上间隔大于预设阈值，且所述弹性部中最外侧的两个所述曲线部在探针纵向上间隔大于预设阈值。


2.根据权利要求1所述的适用于大电流高速信号测试的探针，其中，所述曲线部包括多个连续设置的弯曲部，且相邻两弯曲部的曲率中心分设于该曲线部沿探针纵向的两侧。


3.根据权利要求1或2所述的适用于大电流高速信号测试的探针，其中，所述探针导通路径的最小有效横截面积位于弹性部或者两接触部，且该最小有效横截面积对应的宽度与探针宽度之间的比值介于1:100～1:10之间。


4.根据权利要求3所述的适用于大电流高速信号测试的探针，其中，所述弹性...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈前祎，
申请(专利权)人：武汉精毅通电子技术有限公司，武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42