一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器制造技术

本发明专利技术公开了一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器，该探针包括第一接触部、弹性部、联结部和第二接触部；弹性部包括第一直线部、第一弯曲部和第二直线部；第一直线部沿与轴向方向垂直的方向上延伸且一端与第一接触部的另一端连接；第二直线部沿与轴向方向垂直的方向上延伸且一端与联结部连接；第一弯曲部为类C形结构，其一端部与第一直线部连接，另一端部与第二直线部连接；第一直线部、第二直线部之间的距离小于第一弯曲部沿轴向方向上的最大内径；联结部沿轴向方向上延伸连接第二直线部和第二接触部；本发明专利技术提供的探针可在增大横截面积同时减小弹性部的弹力，防止探针及其接触对象因过大的弹力/夹持力而发生损坏。

【技术实现步骤摘要】
一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器
本专利技术属于信号传输及测试
，更具体地，涉及一种适用于高速率信号传输、大电流测试使用环境的测试设备上使用的弹性扁平探针及连接器。
技术介绍
在液晶面板、集成电路等电子部件的制造工序中需要对产品进行导通检测和动作特性检查，具体的检测方法是使用探针将与电子部件模块的主体基板连接的FPC接触电极或所安装的基板对基板连接器等电极部和检查装置连接起来，由此进行这些检测。目前经常用的探针具有能够与电子部件的电极端子和被连接电子部件的电极端子分别接触一对触头，以及一对触头之间连接的弹性部。探针通过弹性部确保触头与电子部件的电极端子和被连接电子部件的电极端子之间的接触压力，提高针对电子部件的电极端子和被连接电子部件的电极端子的接触可靠性。除了接触可靠性这一指标之外，为了满足高速、大电流信号传输的使用要求，要求探针的导电电阻越小越好。申请公布号CN111033273A的专利技术专利“探针、检查工具、检查单元和检查装置”，为了降低导通路径的电阻，对导通路径过长的蛇形状的弹性部进行了改进，根据说明书0047段的记载，其通过削减弹性部的路径的长度并增大弹性部的路径的截面面积的方式来降低两个接触部之间的导通路径的电阻；毫无疑问，该弹性部结构确实能够有效降低探针的电阻，但与此同时，增大弹性部的路径的截面面积加之削减弹性部的路径长度将显著提高弹性部的弹力，在使用过程中，为了保证被测对象物与探针接触良好，配套的夹持结构需要提供较大的夹持力，很有可能会压坏被测对象。因此，在探针的结构设计过程中需要考虑弹性部的横截面积(导电电阻)与其提供的弹力之间的相对平衡，在增大横截面积以减小导电电阻提高过流能力的同时，减小弹性部的弹力，防止探针及其接触对象因过大的弹力/夹持力而发生损坏。
技术实现思路
针对现有技术的至少一个缺陷或改进需求，本专利技术提供了一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器，其目的在于解决现有探针存在的增加横截面积且减小导通路径导致的探针弹力过大，容易损坏探针以及接触对象的问题。为实现上述目的，按照本专利技术的一个方面，提供了一种适用于大电流高速信号测试的探针，其包括第一接触部、弹性部、联结部和第二接触部；所述第一接触部的一端具有可与被测对象物的接触端子相匹配的第一触点部；所述弹性部可在受力时沿着探针的轴向方向上变形，包括配置于所述轴向方向的同一侧的第一直线部、第二弯曲部、第一弯曲部、第三弯曲部和第二直线部；所述第一直线部沿与所述轴向方向垂直的方向上延伸且一端与所述第一接触部的另一端连接；所述第二直线部沿与所述轴向方向垂直的方向上延伸且一端与所述联结部连接；所述第一弯曲部为类C形结构，其一端部通过第二弯曲部与第一直线部的另一端连接，另一端部通过第三弯曲部与第二直线部的另一端连接；第一直线部、第二直线部之间的距离小于第一弯曲部沿轴向方向上的最大内径，第二弯曲部、第一弯曲部、第三弯曲部的曲率中心依次交替配置于弹性部的不同侧；所述联结部沿轴向方向上延伸，用于连接第二直线部和第二接触部；所述第二接触部配置于第二弹性部的另一端且具有至少一个第二触点部。总体而言，通过本专利技术所构思的以上技术方案与现有技术相比，能够取得下列有益效果：(1)本专利技术提供的适用于大电流高速信号测试的探针，其弹性部包括配置于探针的轴向方向的同一侧的第一直线部、第二弯曲部、第一弯曲部、第三弯曲部和第二直线部；第一弯曲部为类C形结构，其一端部通过第二弯曲部与第一直线部的另一端连接，另一端部通过第三弯曲部与第二直线部的另一端连接；第一直线部、第二直线部之间的距离小于第一弯曲部沿轴向方向上的最大内径，第二弯曲部、第一弯曲部、第三弯曲部的曲率中心依次交替配置于弹性部的不同侧；由此，在增大弹性部的横截面积以缩小导电电阻的同时，该弹性部可在保证第一接触部与被检测对象的端子接触良好的前提下尽可能减小探针的弹力，防止探针(第一接触部)及其接触对象因过大的弹力/夹持力而发生损坏。(2)本专利技术提供的适用于大电流高速信号测试的探针，当第一弹性部沿垂直于轴向方向上的延伸长度为定值时，通过调整第一弯曲部与第一直线部、第二直线部之间的长度比例来调节探针的弹力大小，以达到在增大第一弹性部的横截面积的同时适当缩小探针弹力的目的。(3)本专利技术提供的适用于大电流高速信号测试的探针，弹性部的有效宽度与探针沿垂直轴向方向上的最大宽度的比值控制在1:300～1:10的范围内，通过增大弹性部的有效导通宽度/横截面积来减小探针的电阻以增大其过流能力，提高信号传输速度。(4)本专利技术提供的适用于大电流高速信号测试的探针，通过第二接触部中设置的第一限位部以及在第一接触部上设置的第二限位部对收纳于壳体内部的探针进行固定，防止探针上下活动，并防止第一接触部在弹性部的作用下发生左右倾斜，确保第一接触部与被测对象物的准确对接。(5)本专利技术提供的适用于大电流高速信号测试的探针，其结构简单，设置简便，通过增大弹性部的横截面积降低探针的导电电阻，为高速率信号的传输和大电流测试环境下的应用提供了可能；并且在实现探针两接触部可靠连接的基础上尽可能减小探针的弹力，防止探针损坏，拓展了探针的应用范围，降低了探针的应用成本，具有较好的应用前景和推广价值。附图说明图1是现有探针的结构示意图；图2是本专利技术实施例提供的连接器的剖面结构示意图；图3是本专利技术实施例提供的探针的三维结构示意图；图4是本专利技术实施例提供的探针的平面结构示意图；图5是本专利技术实施例提供的具有不同形状的多个第一接触部的正视图；图6是本专利技术实施例提供的弹性部的细节结构图；图7为第一弯曲部呈圆形时的局部结构示意图，其中，图7(a)示出了第一弯曲部的外径L3小于第一直线部、第二直线部沿探针宽度方向上的延伸长度L4的情况，图7(b)示出了第一弯曲部的外径L3大于第一直线部、第二直线部沿探针宽度方向上的延伸长度L4的情况；图8为第一弯曲部呈椭圆形时的局部结构示意图，其中，图8(a)示出了第一弯曲部沿探针宽度方向上的最大外径L5小于第一弯曲部沿探针长度方向上的最大外径L6的情况，图8(b)示出了第一弯曲部沿探针宽度方向上的最大外径L5大于第一弯曲部沿探针长度方向上的最大外径L6的情况；图9是本专利技术实施例提供的探针在未受力状态以及受轴向力状态下的结构变形示意图；在所有附图中，同样的附图标记表示相同的技术特征，具体为：1探针2第一接触部21第一触点部3弹性部31第一端部32第二端部4第二接触部41第二触点部42第二限位部43第一限位部9联结部33、34带状弹性片331、341第一端部332、342第二端部51间隙61、71第一直线部62、72第二弯曲部63、73第一弯曲部64、74第三弯曲部65、75第二直线部W1、W6、W7本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种适用于大电流高速信号测试的探针，其特征在于，包括第一接触部、弹性部、联结部和第二接触部；/n所述第一接触部的一端具有可与被测对象物的接触端子相匹配的第一触点部；所述弹性部可在受力时沿着探针的轴向方向上变形，包括配置于所述轴向方向的同一侧的第一直线部、第一弯曲部和第二直线部；/n所述第一直线部沿与所述轴向方向垂直的方向上延伸且一端与所述第一接触部的另一端连接；所述第二直线部沿与所述轴向方向垂直的方向上延伸且一端与所述联结部连接；所述第一弯曲部为类C形结构，其一端部与第一直线部的另一端连接，另一端部与第二直线部的另一端连接；第一直线部、第二直线部之间的距离小于第一弯曲部沿轴向方向上的最大内径；/n所述联结部用于连接第二直线部和第二接触部；所述第二接触部配置于第二弹性部的另一端且具有至少一个第二触点部。/n

【技术特征摘要】
1.一种适用于大电流高速信号测试的探针，其特征在于，包括第一接触部、弹性部、联结部和第二接触部；
所述第一接触部的一端具有可与被测对象物的接触端子相匹配的第一触点部；所述弹性部可在受力时沿着探针的轴向方向上变形，包括配置于所述轴向方向的同一侧的第一直线部、第一弯曲部和第二直线部；
所述第一直线部沿与所述轴向方向垂直的方向上延伸且一端与所述第一接触部的另一端连接；所述第二直线部沿与所述轴向方向垂直的方向上延伸且一端与所述联结部连接；所述第一弯曲部为类C形结构，其一端部与第一直线部的另一端连接，另一端部与第二直线部的另一端连接；第一直线部、第二直线部之间的距离小于第一弯曲部沿轴向方向上的最大内径；
所述联结部用于连接第二直线部和第二接触部；所述第二接触部配置于第二弹性部的另一端且具有至少一个第二触点部。


2.如权利要求1所述的探针，其特征在于，所述第二接触部包括沿垂直于轴向方向上延伸的第一限位部以及设置在所述第一限位部远离第二弹性部的一侧的凸出的第二触点部；所述第一限位部上开设有一个或多个中空通槽。


3.如权利要求1所述的探针，其特征在于，所述第一弯曲部呈圆形，该第一弯曲部的外径与第一直线部或第二直线部沿垂直于所述轴向方向上的延伸长度为定值，且第一弯曲部的外径与所述定值的比值为1:40～39:40。


4.如权利要求1所述的探针，其特征在于，所述第一弯曲部呈椭圆形，该第一弯曲部沿垂直于所述轴向方向上的第一最大外径与第一直线部或第二直线部沿垂直于所述轴向方向上的延伸长度为定值；
当该第一弯曲部沿轴向方向上的第二最大外径大于所述第一最大外径时，该第一最大外径与所述定值的比值为1:30～19:20；
当该第一弯曲部沿轴向方向上...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈前祎，
申请(专利权)人：武汉精毅通电子技术有限公司，武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42