一种电容式触控屏扫描频率自动跳频性能测试装置制造方法及图纸

技术编号:25331643 阅读:31 留言:0更新日期:2020-08-18 23:11
本实用新型专利技术公开了一种电容式触控屏扫描频率自动跳频性能测试装置,电容式触控屏包括有触控感应板,触控感应板包括有触控芯片,测试装置包括有计算机、触控调试板、低频信号发生器、手机、充电器、第一接线柱和第二接线柱,第一接线柱和第二接线柱电性连接于触控感应板的同一感应通道,第一接线柱通过导线电性连接于低频信号发生器,充电器的输出线缆插接于手机,且由充电器对手机进行充电,充电器输出线缆的地线与第二接线柱电性连接,触控调试板电性连接于触控芯片与计算机之间,第二接线柱接入的电信号作为干扰信号并加载于触控感应板。本实用新型专利技术能够实现触控芯片根据外部共模干扰情况自动调整工作频率的性能测试。

【技术实现步骤摘要】
一种电容式触控屏扫描频率自动跳频性能测试装置
本技术涉及电容式触控屏的测试装置,尤其涉及一种电容式触控屏扫描频率自动跳频性能测试装置。
技术介绍
现有的触控
中,显示屏干扰和电源共模干扰是影响触控性能的重要原因,当触控芯片的工作频率与干扰频率一样或接近时,触控性能将受到很大干扰,严重时,出现跳点,消点现象,导致触摸无法正常工作,为了克服这些干扰,提高触控抗扰性能,现在触控芯片一般会增加噪声扫描和根据外部共模干扰情况自动调整扫描工作频率的功能。然而目前的测试技术仅仅对触控产品的抗干扰能力做简单的测试,它不能反应出触控产品的真正跳频性能,更不能客观的量化出触控产品在受到多大频率、多大干扰幅度才会跳转到新的工作频率,另外对跳频过程中的反应时间,频率选择是否合理等性能也不能直观可视。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题在于,针对现有技术的不足,提供一种电容式触控屏扫描频率自动跳频性能测试装置,该测试装置利用充电器固定干扰频率群结合低频信号发生器产生可调的干扰信号,进而实现触控芯片根据外部共模干扰情况自动调整工作频率的性能测试。为解决上述技术问题,本技术采用如下技术方案。一种电容式触控屏扫描频率自动跳频性能测试装置,所述电容式触控屏包括有触控感应板,所述触控感应板包括有触控芯片,所述测试装置包括有计算机、触控调试板、低频信号发生器、手机、充电器、第一接线柱和第二接线柱,所述第一接线柱和第二接线柱电性连接于所述触控感应板的同一感应通道,所述第一接线柱通过导线电性连接于所述低频信号发生器,所述充电器的输出线缆插接于所述手机,且由所述充电器对所述手机进行充电,所述充电器输出线缆的地线与所述第二接线柱电性连接,所述触控调试板电性连接于所述触控芯片与所述计算机之间,所述第二接线柱接入的电信号作为干扰信号并加载于所述触控感应板,所述低频信号发生器用于生成多个频段的频率信号并通过所述第一接线柱加载于所述触控感应板,当所述充电器和/或所述低频信号发生器启动时,所述计算机通过所述触控调试板和所述触控芯片采集所述触控感应板产生的干扰数据和跳频数据。优选地,所述第一接线柱和第二接线柱之间设有预设距离。优选地,所述第一接线柱和第二接线柱之间的间距为50mm。优选地,所述第一接线柱和第二接线柱均是直径为8mm的铜柱。优选地,所述触控芯片通过I2C接口连接于所述触控调试板。优选地,所述触控调试板通过USB线缆连接于所述计算机。本技术公开的电容式触控屏扫描频率自动跳频性能测试装置,结合了具有固定干扰频率群的充电器或电源,以及频率和幅度灵活可调的低频信号发生器,进而模拟出电容式触控产品真实的应用场景,更加准确地检测出被测电容式触控产品的抗干扰能力。相比现有技术而言,本技术可以较为准确的量化出触控产品在固定频率下能抵抗的最大干扰信号,以及干扰信号不影响到触控产品正常工作的频率带宽,较好地实现了触控产品根据外部共模干扰情况自动调整工作频率的性能测试。附图说明图1为电容式触控屏扫描频率自动跳频性能测试装置的组成框图;图2为本技术优选实施例中干扰测试过程的测试干扰示意图;图3为本技术优选实施例中的跳频过程示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本技术作更加详细的描述。本技术公开了一种电容式触控屏扫描频率自动跳频性能测试装置,请参见图1,所述电容式触控屏包括有触控感应板100,所述触控感应板100包括有触控芯片,所述测试装置包括有计算机1、触控调试板2、低频信号发生器3、手机4、充电器5、第一接线柱6和第二接线柱7,所述第一接线柱6和第二接线柱7电性连接于所述触控感应板100的同一感应通道,所述第一接线柱6通过导线电性连接于所述低频信号发生器3,所述充电器5的输出线缆插接于所述手机4,且由所述充电器5对所述手机4进行充电,所述充电器5输出线缆的地线与所述第二接线柱7电性连接,所述触控调试板2电性连接于所述触控芯片与所述计算机1之间,所述第二接线柱7接入的电信号作为干扰信号并加载于所述触控感应板100,所述低频信号发生器3用于生成多个频段的频率信号并通过所述第一接线柱6加载于所述触控感应板100,当所述充电器5和/或所述低频信号发生器3启动时,所述计算机1通过所述触控调试板2和所述触控芯片采集所述触控感应板100产生的干扰数据和跳频数据。上述测试装置,结合了具有固定干扰频率群的充电器或电源,以及频率和幅度灵活可调的低频信号发生器,进而模拟出电容式触控产品真实的应用场景,更加准确地检测出被测电容式触控产品的抗干扰能力。相比现有技术而言,本技术可以较为准确的量化出触控产品在固定频率下能抵抗的最大干扰信号,以及干扰信号不影响到触控产品正常工作的频率带宽,较好地实现了触控产品根据外部共模干扰情况自动调整工作频率的性能测试。基于上述原理可见,本技术测试装置利用充电器固定干扰频率群结合低频信号发生器产生可调的干扰信号,进而实现触控芯片根据外部共模干扰情况自动调整工作频率的性能测试。作为一种优选设置,所述第一接线柱6和第二接线柱7之间设有预设距离。进一步地,所述第一接线柱6和第二接线柱7之间的间距为50mm。所述第一接线柱6和第二接线柱7均是直径为8mm的铜柱。其中8mm的直径可以更好地模拟人体手指。为了实现可靠的信号传输,本实施例中,所述触控芯片通过I2C接口连接于所述触控调试板2。进一步地,所述触控调试板2通过USB线缆连接于所述计算机1。本技术公开的电容式触控屏扫描频率自动跳频性能测试装置,其具体的测试过程以及工作原理请参见如下实施例:实施例一首先,建立电路结构,请参见图1,触控芯片设计在触控感应板上,通常有若干个驱动通道(tx通道)和感应通道(rx通道),先将触控感应板上的触控芯片通过I2C接口连接到触控调试板上,触控调试板通过USB线连接到计算机上;触控感应板在相同感应通道上放置两个直径为8mm的铜柱,两个铜柱相距50mm左右;铜柱通过导线连接到低频信号发生器的信号输出端,另外一个铜柱通过导线连接到一个正在给手机充电的充电电源线的地线上,充电器是指各个待测试的不同共模干扰的充电器或触控产品实际使用的电源;所述计算机安装有预设的测试工具软件。测试开始,先关闭低频信号发生器的输出信号,充电器给手机正常充电,打开触控调试板电源和开启计算机里的触控测试工具软件。在测试工具软件中会出现触控感应板上的各个结点的电容数据,再打开噪声扫描功能,此时,如图2所示,可以看到触控芯片工作频率范围的各个频点的干扰情况。请参见图2,从图2测试干扰示意图可以看出,触控芯片的工作频率在15KHz左右,在1K到150KHz的范围内,充电器或电源的共模干扰在很多频段都存在,各个频段的干扰情况不一样,同时也存在一些干扰比较小的频段,即干净频段。其次,开启低频信号发生器的输出信号功能,频率设置范围为触控产品当前工作频率的正负5KHz,本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电容式触控屏扫描频率自动跳频性能测试装置,所述电容式触控屏包括有触控感应板,所述触控感应板包括有触控芯片,其特征在于,所述测试装置包括有计算机、触控调试板、低频信号发生器、手机、充电器、第一接线柱和第二接线柱,所述第一接线柱和第二接线柱电性连接于所述触控感应板的同一感应通道,所述第一接线柱通过导线电性连接于所述低频信号发生器,所述充电器的输出线缆插接于所述手机,且由所述充电器对所述手机进行充电,所述充电器输出线缆的地线与所述第二接线柱电性连接,所述触控调试板电性连接于所述触控芯片与所述计算机之间,所述第二接线柱接入的电信号作为干扰信号并加载于所述触控感应板,所述低频信号发生器用于生成多个频段的频率信号并通过所述第一接线柱加载于所述触控感应板,当所述充电器和/或所述低频信号发生器启动时,所述计算机通过所述触控调试板和所述触控芯片采集所述触控感应板产生的干扰数据和跳频数据。/n

【技术特征摘要】
1.一种电容式触控屏扫描频率自动跳频性能测试装置,所述电容式触控屏包括有触控感应板,所述触控感应板包括有触控芯片,其特征在于,所述测试装置包括有计算机、触控调试板、低频信号发生器、手机、充电器、第一接线柱和第二接线柱,所述第一接线柱和第二接线柱电性连接于所述触控感应板的同一感应通道,所述第一接线柱通过导线电性连接于所述低频信号发生器,所述充电器的输出线缆插接于所述手机,且由所述充电器对所述手机进行充电,所述充电器输出线缆的地线与所述第二接线柱电性连接,所述触控调试板电性连接于所述触控芯片与所述计算机之间,所述第二接线柱接入的电信号作为干扰信号并加载于所述触控感应板,所述低频信号发生器用于生成多个频段的频率信号并通过所述第一接线柱加载于所述触控感应板,当所述充电器和/或所述低频信号发生器启动时,所述计算机通过所述触控调试板和所述触控芯片采集所述触控感应板...

【专利技术属性】
技术研发人员:李兵张弛
申请(专利权)人:深圳贝特莱电子科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:广东;44

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