检验方法、检验系统和存储介质技术方案

本申请公开了一种检验方法、检验系统和存储介质，检验方法包括：根据电子装置保存的全部标志位结果检验待校验的功能测试项是否通过，标志位结果用于标志与标志位对应的功能测试项是否通过；在待校验的功能测试项通过时，清除电子装置保存的全部标志位结果，并将电子装置保存的全部标志位结果保存至外部设备；在复验电子装置并且功能测试项不需要复测时，将外部设备保存的全部标志位结果写入电子装置中以复验电子装置。如此，在复验电子装置并且功能测试项不需要复测时，外部设备保存的全部标志位结果写入电子装置中，无需复测功能测试项以在电子装置中写入新的标志位结果，可以使电子装置复验可以较快地通过，节约了测试时间和成本。

【技术实现步骤摘要】
检验方法、检验系统和存储介质
本申请涉及检测
，特别涉及一种检验方法、检验系统和存储介质。
技术介绍
在手机等电子装置生产的过程中，通常需要对电子装置的功能或性能进行测试，以保证出厂后的电子装置的品质。在电子装置测试过程中，一般将测试结果保存在电子装置中，以使校验时确定电子装置全部的测试项目是否通过。在一些相关技术中，校验电子装置的全部测试项目通过后，将电子装置中保存的测试结果清除。在复测电子装置中的某个测试项时，若该测试项不合格，在再次校验电子装置时，由于电子装置中的测试结果被清除，需要重新测试所有的测试项目，增加了测试时间和测试成本。
技术实现思路
本申请提供一种检验方法、检验系统和存储介质。本申请实施方式的检验方法用于电子装置，所述检验方法包括：根据电子装置保存的全部标志位结果检验待校验的功能测试项是否通过，所述标志位结果用于标志与标志位对应的功能测试项是否通过；在所述待校验的功能测试项通过时，清除所述电子装置保存的全部标志位结果，并将所述电子装置保存的全部标志位结果保存至外部设备；在复验所述电子装置并且所述功能测试项不需要复测时，将所述外部设备保存的全部标志位结果写入所述电子装置中以复验所述电子装置。本申请实施方式的检验系统包括检验模块、处理模块和写入模块，检验模块用于根据电子装置保存的全部标志位结果检验待校验的功能测试项是否通过，所述标志位结果用于标志与标志位对应的功能测试项是否通过。处理模块用于在所述待校验的功能测试项通过时，清除所述电子装置保存的全部标志位结果，并将所述电子装置保存的全部标志位结果保存至外部设备；写入模块用于在复验所述电子装置并且所述功能测试项不需要复测时，将所述外部设备保存的全部标志位结果写入所述电子装置中以复验所述电子装置。本申请另一种实施方式的检验系统包括：一个或多个处理器、存储器；和一个或多个程序，其中所述一个或多个程序被存储在所述存储器中，并且被所述一个或多个处理器执行，所述程序包括用于执行根据以上实施方式所述的检验方法的指令。一种包含计算机可执行指令的非易失性计算机可读存储介质，当所述计算机可执行指令被一个或多个处理器执行时，使得所述处理器执行以上实施方式所述的检验方法。本申请实施方式的检验方法、检验系统和存储介质中，在复验电子装置并且功能测试项不需要复测时，外部设备保存的全部标志位结果写入电子装置中，无需复测功能测试项以在电子装置中写入新的标志位结果，可以使电子装置复验可以较快地通过，节约了测试时间和成本。本申请的附加方面的优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。附图说明本申请的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1是本申请实施方式的电子装置的连接示意图；图2是本申请实施方式的检验方法的流程示意图；图3是本申请实施方式的检验系统的模块示意图；图4是本申请实施方式的检验方法的场景示意图；图5是本申请实施方式的检验方法的流程示意图；图6是本申请实施方式的检验方法的流程示意图；图7是本申请实施方式的检验方法的流程示意图；图8是本申请实施方式的检验方法的流程示意图。具体实施方式下面详细描述本申请的实施方式，所述实施方式的示例在附图中示出，其中相同或类似的标号自始至终表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本申请的实施方式，而不能理解为对本申请的实施方式的限制。请参阅图1及图2，本申请实施方式的检验方法用于电子装置100，检验方法包括：S10，根据电子装置100保存的全部标志位结果检验待校验的功能测试项是否通过，标志位结果用于标志与标志位对应的功能测试项是否通过；S20，在待校验的功能测试项通过时，清除电子装置100保存的全部标志位结果，并将电子装置100保存的全部标志位结果保存至外部设备300；S30，在复验电子装置100并且功能测试项不需要复测时，将外部设备300保存的全部标志位结果写入电子装置100中以复验电子装置100。请结合图3，本申请实施方式的检验方法可以由检验系统200执行。具体地，本申请实施方式的检验系统200包括检验模块210、处理模块220和写入模块230。步骤S10可以由检验模块210执行，步骤S20可以由处理模块220执行，步骤S30可以由写入模块230执行。或者说，检验模块210用于根据电子装置100保存的全部标志位结果检验待校验的功能测试项是否通过，标志位结果用于标志与标志位对应的功能测试项是否通过。处理模块220用于在待校验的功能测试项通过时，清除电子装置100保存的全部标志位结果，并将电子装置100保存的全部标志位结果保存至外部设备300。写入模块230用于在复验电子装置100并且功能测试项不需要复测时，将外部设备300保存的全部标志位结果写入电子装置100中以复验电子装置100。本申请实施方式的检验方法和检验系统200中，在复验电子装置100并且功能测试项不需要复测时，外部设备300保存的全部标志位结果写入电子装置100中，无需复测功能测试项以在电子装置100中写入新的标志位结果，可以使电子装置100复验可以较快地通过，节约了测试时间和成本。具体地，电子装置100例如为手机、平板电脑、智能穿戴设备等移动终端。一般地，在电子装置100出厂前，需要对电子装置100的各个部位进行测试，测试项可以分别功能测试项目和非功能测试项。功能测试项一般指的是对电子装置100的某些功能进行的测试，以保证电子装置100可以执行预定的功能。例如，功能测试项包括显示屏测试，可以测试显示屏的亮度是否可以调节。又如功能测试项包括扬声器电测，在该测试中，可以测试扬声器是否可以发出声音，并且扬声器的声音是否可以调节。功能测试项对应有标志位，在功能测试项测试后，需要在对应的标志位标志测试结果。非功能测试项一般指的是对电子装置100的某些品质进行的测试，以保证电子装置100的整体品质较佳。例如，非功能测试项包括电子装置100的外壳外观测试，在该测试中，可以检测电子装置100的外观是否有损坏等情况。又如，非功能测试项包括电子装置100的包装测试，在该测试中，可以测试电子装置100的包装是否完好。非功能测试项没有对应标志位，在非功能测试项测试后，不需要在标志位标志测试结果。在电子装置100的测试中，对于一些或者全部的功能测试项，在功能测试项测试后，在电子装置100的标志位可以标志测试结果，例如，标志位可以标志“1”代表功能测试项通过，标志“0”代表功能测试项不通过。标志位为空的时候，代表对应的功能测试项没有测试。一般地，在产线中，一个测试项对应一个工位，在电子装置100依次经过全部功能测试项的工位完成后，需要对电子装置100再次校验，以确认待校本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检验方法，用于电子装置，其特征在于，所述检验方法包括：/n根据电子装置保存的全部标志位结果检验待校验的功能测试项是否通过，所述标志位结果用于标志与标志位对应的功能测试项是否通过；/n在所述待校验的功能测试项通过时，清除所述电子装置保存的全部标志位结果，并将所述电子装置保存的全部标志位结果保存至外部设备；/n在复验所述电子装置并且所述功能测试项不需要复测时，将所述外部设备保存的全部标志位结果写入所述电子装置中以复验所述电子装置。/n

【技术特征摘要】
1.一种检验方法，用于电子装置，其特征在于，所述检验方法包括：
根据电子装置保存的全部标志位结果检验待校验的功能测试项是否通过，所述标志位结果用于标志与标志位对应的功能测试项是否通过；
在所述待校验的功能测试项通过时，清除所述电子装置保存的全部标志位结果，并将所述电子装置保存的全部标志位结果保存至外部设备；
在复验所述电子装置并且所述功能测试项不需要复测时，将所述外部设备保存的全部标志位结果写入所述电子装置中以复验所述电子装置。


2.根据权利要求1所述的检验方法，其特征在于，所述检验方法包括：
在所述待校验的功能测试项通过时，将识别码写入所述电子装置中。


3.根据权利要求1或2所述的检验方法，其特征在于，所述检验方法包括：
确认所述电子装置的非功能测试项是否通过；
在所述非功能测试项没有通过时，复验所述电子装置。


4.根据权利要求3所述的检验方法，其特征在于，确认所述电子装置的非功能测试项是否通过包括：
确认所述电子装置储存的测试内容是否清除；
在所述非功能测试项没有通过时，复验所述电子装置，包括：
在所述测试内容没有清除时，复验所述电子装置。


5.根据权利要求3所述的检验方法，其特征在于，确认所述电子装置的非功能测试项是否通过包括：
确认所述电子装置是否关机；
在所述非功能测试项没有通过时，复验所述电子装置，包括：
在电子装置没有关机时，复验所述电子装置。

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡华轩，
申请(专利权)人：OPPO重庆智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：重庆;50