【技术实现步骤摘要】
图像解析力确定方法、装置及计算机存储介质
本专利技术涉及图像处理
,尤其涉及一种图像解析力确定方法、装置及计算机存储介质。
技术介绍
图像解析力是衡量摄像头模组成像质量的关键指标,反应摄像头模组再现被拍摄物体细节的能力,图像解析力越高,则拍摄的图形越清晰。目前对于摄像头模组常见的图像解析力包括SFR(spatialfrequencyresponse,空间频率响应),SFR主要是用于测量随着空间频率的线条增加对单一影像的所造成影响。在进行SFR测试时,通过摄像头模组拍摄棋盘格测试卡,获得测试图像。在确定视场点处的图像解析力时,通过计算测试图像中离视场点最近的一个测试框的图像解析力,将该测试框的图像解析力作为这个视场点对应的解析力。由于摄像头模组拍摄的每帧图像之间有细小差异,如果视场点正好落在黑白交界边,附近就可能出现跳框的现象。例如:针对棋盘格测试卡连续拍摄2帧图像,在第一帧图像中离目标测试视场点最近的测试框位于第一位置,而在第二帧图像中离目标测试视场点最近的测试框位于与第一位置不同的第二位置。这样,不同位置处的测试框计算出来的图像解析力可能差异很大,所以现有技术中的方式不能准确反映出视场点位置的图像解析力。
技术实现思路
本专利技术提供了一种图像解析力确定方法、装置及计算机存储介质,用于提供一种准确确定视场点图像解析力的方式。第一方面,本专利技术提供了一种图像解析力确定方法,包括:获得摄像头模组拍摄的棋盘格测试图像,所述棋盘格测试图像包括交错排列的两种颜色的棋盘格;< ...
【技术保护点】
1.一种图像解析力确定方法,其特征在于,包括:/n获得摄像头模组拍摄的棋盘格测试图像,所述棋盘格测试图像包括交错排列的两种颜色的棋盘格;/n在所述棋盘格测试图像中,基于目标测试视场点的位置,确定出与所述目标测试视场点最近的在目标测试方向上的M个测试框,每个所述测试框中包括在所述目标测试方向上的两种颜色对应的部分棋盘格,所述测试框的面积小于所述棋盘格的面积,M为大于1的整数;/n基于所述M个测试框中每个测试框的图像解析力值,确定所述摄像头模组在所述目标测试视场点处的与所述目标测试方向对应的图像解析力。/n
【技术特征摘要】
1.一种图像解析力确定方法,其特征在于,包括:
获得摄像头模组拍摄的棋盘格测试图像,所述棋盘格测试图像包括交错排列的两种颜色的棋盘格;
在所述棋盘格测试图像中,基于目标测试视场点的位置,确定出与所述目标测试视场点最近的在目标测试方向上的M个测试框,每个所述测试框中包括在所述目标测试方向上的两种颜色对应的部分棋盘格,所述测试框的面积小于所述棋盘格的面积,M为大于1的整数;
基于所述M个测试框中每个测试框的图像解析力值,确定所述摄像头模组在所述目标测试视场点处的与所述目标测试方向对应的图像解析力。
2.如权利要求1所述的图像解析力确定方法,其特征在于,所述基于所述M个测试框中每个测试框的图像解析力值,确定所述摄像头模组在所述目标测试视场点处的与所述目标测试方向对应的图像解析力,包括:
确定每个所述测试框与所述目标测试视场点的距离;
基于每个所述测试框与所述目标测试视场点的距离,确定所述测试框的解析力权重,其中,与所述目标测试视场点的距离越大,对应测试框的解析力权重越小;
基于所述M个测试框中每个所述测试框的解析力权重与该测试框对应的图像解析力值,加权获得所述摄像头模组在所述目标测试视场点处的与所述目标测试方向对应的图像解析力。
3.如权利要求2所述的图像解析力确定方法,其特征在于,所述基于每个所述测试框与所述目标测试视场点的距离,确定所述测试框的解析力权重,包括:
针对每个所述测试框,计算该测试框与所述目标测试视场点的距离的N次方的倒数值,共计获得M个倒数值,N大于0;
获得所述M个倒数值的总和值;
针对每个所述测试框,确定该测试框的解析力权重为对应的倒数值与所述总和值的比值。
4.如权利要求1所述的图像解析力确定方法,其特征在于,所述在所述棋盘格测试图像中,基于目标测试视场点的位置,确定出与所述目标测试视场点最近的在目标测试方向上的M个测试框,包括:
提取出所述棋盘格测试图像中所包含的黑块;
针对每个黑块,确定出与之对应的多个候选测试框,每个所述候选测试框中包括黑白两种颜色区域,每个所述候选测试框的中心位于对应黑块的边的中心;
基于所述目标测试视场点的位置,从所有候选测试框中确定出与所述目标测试视场点最...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱健文,
申请(专利权)人:昆山丘钛微电子科技有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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