测量装置用觇标制造方法及图纸

本发明专利技术的测量装置用觇标包括：由测量装置接受表示位置的激光测点光和测量距离的测距光，并反射扩散测距光的反射扩散层；将透射该反射扩散层的激光测点光有选择地透射的滤波层；以及使透射该滤波层的激光测点光沿特定方向放大透射的透射扩散层，可确认所述激光测点光的照射位置。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及在测量工作例如确定测设点(survey setting point)等的测量工作中引导工作人的测量工作引导装置。
技术介绍
在测量工作例如测设作业中，测定从设于已知点的测量装置侧的工作人(以下称为侧距员)到觇标侧的工作人(以下称为打桩员)的觇标位置，并将打桩员引导至测设点(打桩点)，将觇标的位置设定于测设点后进行打桩，测设作业成为测距员和打桩员两个人的工作。测量装置中，作为觇标使用设于杆上的棱镜的棱镜测定方式的测量装置得到普及。测设作业用的测量装置中，一般设有发出测距用的测距光和表示照准方向的可见光的激光测点光的装置，以视觉上可看到激光测点光地在杆上设置觇板，通过对该觇板照射激光测点光，可知道激光测点光的照射位置，当激光测点光与觇板中心一致时，识为觇板中心与照准方向一致。用以测定距离的棱镜设于所述觇板上，在激光测点光照射觇板中心的状态下，使棱镜与照准方向一致。一直以来，以两人进行测量工作时，觇标侧的工作人根据激光测点光照射的觇板上的位置确认左右方向、上下方向的偏差，并通过闪烁光确认距离，当照射位置偏离觇板中心时，校正觇标位置。以往，采用激光测点光和测距光，激光测点光表示位置，且测距光为了测定距离而平行照射。觇标由在视觉上可以看到激光测点光地进行扩散的觇板和反射测距光的棱镜构成。最近可以作出的测距光有随着无棱镜化使激光测点光与测距光同轴发射的类型，以及测距光本身具备可见的激光测点光的类型。激光测点光表示位置的觇标，能够用扩散透射激光测点光的半透明构件制作，且通过入射扩散来由透射侧确认。测距光能够通过棱镜回射来测定。无棱镜测距也同样，由于用测距对象即物体的表面反射光测定距离，不需要反射光。一般来自物体的反射光量少，因此与棱镜使用型相比，无棱镜测距的测定距离极短。并且，激光测点光可通过扩散透射来辨认，因此透射光量少时难以确认。还有，在日本公开特许公报特开平11-83484号公报中公开了通过作为觇标安装棱镜的棱镜杆进行测设作业的测量装置，另外，特开平10-221073号公报中公开了采用设有觇板和棱镜的觇标，并采用表示照准方向的激光测点光的距离测定装置。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供不仅确保与激光测点光同轴的无棱镜型测量装置的测距光量，而且能够高效率地辨认透射的激光测点光的觇标。还有，本专利技术的目的是提供通过确保稳定的测距光量来延长测量距离的觇标。为了达成上述目的，本专利技术的测量装置用觇标包括由测量装置接受表示位置的激光测点光和测量距离的测距光，并反射扩散测距光的反射扩散层；将透射该反射扩散层的激光测点光有选择地透射的滤波层；以及使透射该滤波层的激光测点光沿特定方向放大透射的透射扩散层，可确认所述激光测点光的照射位置。或者，本专利技术的测量装置用觇标中，所述透射扩散层是将透射光沿上下方向放大的光纤阵列；或者本专利技术的测量装置用觇标中，各层从激光测点光与测距光的入射侧，排列反射扩散层、滤波层、透射扩散层；或者本专利技术的测量装置用觇标中，各层从激光测点光与测距光的入射侧，排列反射扩散层、透射扩散层、滤波层；或者本专利技术的测量装置用觇标中，所述滤波层是将从所述测量装置发射的可见的激光测点光的波长透射，而反射测距光的带通滤波片；或者本专利技术的测量装置用觇标中，在所述滤波层的表面形成反射扩散层；或者本专利技术的测量装置用觇标中，在所述滤波层表面形成光纤阵列，将该光纤阵列作为透射扩散层。依据本专利技术，由于包括由测量装置接受表示位置的激光测点光与测量距离的测距光，并反射扩散侧距光的反射扩散层；将透射该反射扩散层的激光测点光有选择地透射的滤波层；以及使透射该滤波层的激光测点光沿特定方向放大透射的透射扩散层，可确认所述激光测点光的照射位置，因而在无棱镜型测量装置的测设作业等两人作业时，可在觇标侧确认照射位置，改善了作业性。另外，依据本专利技术，由于所述透射扩散层是将透射光沿上下方向放大的光纤阵列，使透射光沿上下方向扩散，即使激光测点光的光轴与工作人的视线不一致，也能确认激光测点光的照射位置，改善了作业性。另外，依据本专利技术，由于所述滤波层是将从所述测量装置发射的可见的激光测点光的波长透射，并反射测距光的带通滤波片，因测距光不透射觇标而安全。另外，依据本专利技术，由于在所述滤波层的表面形成反射扩散层，其结构简单，能够制作低价的测量装置用觇标。另外，依据本专利技术，由于在所述滤波层表面形成光纤阵列，并将该光纤阵列作为透射扩散层，因而其结构变得简单，同时用觇标能有效反射测距光。附图说明图1是表示本专利技术的实施例的整体简略透视图。图2是表示一例本实施例使用的测量装置的无棱镜方式的测量装置的简略结构图。图3是本专利技术的实施例1的觇板说明图。图4是本专利技术的实施例2的觇板说明图。具体实施例方式以下，参照附图，就实施本专利技术的最佳方式进行说明。图1表示本专利技术采用的测量装置1以及本专利技术的觇标50。所述测量装置1由以下部分构成安装于三脚架(未图示)的校平部2、设于该校平部2上的底座部3、在该底座部3上以垂直轴心为中心可旋转地设置的托架部4以及在该托架部4上以水平轴心为中心可旋转地设置的望远镜部5。该望远镜部5中收纳了后述的光学系统。首先，参照图2，就本专利技术中使用的无棱镜方式的测量装置进行说明。图中，6表示光源部，7表示投射光学系统，8表示内部参照光学系统，9表示受光光学系统，10表示目镜光学系统(望远镜)，20表示激光测点光源部。首先，对所述光源部6进行说明。激光源11出射例如780nm的红外光的测距光61(参照图3)。所述激光源11的光轴12上配置了第一准直透镜13、光束分离器14。该光束分离器14将所述光轴12分支成投射光轴15和内部参照用光轴16，在所述投射光轴15上构成所述投射光学系统7。在所述投射光轴15上配置了凹透镜17、第一光路偏向构件18、第二光路偏向构件19、物镜21，在所述光束分离器14和所述凹透镜17之间设有投射光量调整部件22。该投射光量调整部件22通过步进马达等的具有定位功能的光量调整马达23旋转，具备使透射光量在圆周方向连续变化的光量调整板24，该光量调整板24可遮挡所述投射光轴15地设置。所述凹透镜17配置成使该凹透镜17的焦点位置与所述物镜21的焦点位置一致，与该物镜21一起构成扩束器，扩束器可对传输到所述凹透镜17的平行光束进行放大并加以投射。因此，能够抑制所述光束分离器14、所述光量调整板24等的光学构件导致的影响最小。并且，与将所述激光源11配置在所述物镜21的焦点位置的结构相比，提高了投射效率。所述光束分离器14使来自所述激光源11的测距光(红外光)几乎全部透射，同时将测距光的一部分反射。所述第一光路偏向构件18及所述第二光路偏向构件19是将测距光部反射的反射镜等。对所述内部参照光学系统8进行说明。该内部参照光学系统8设于所述光源部6和后述的所述受光光学系统9之间，所述内部参照光学系统8通过在所述内部参照用光轴16上配置聚光透镜25、浓度滤波片26、分色棱镜27来构成。在所述投射光轴15和所述内部参照用光轴16之间架设遮光部件28。该遮光部件28中设有遮挡所述投射光轴15和所述内部参照用光轴16的遮光片29和旋转该遮光片29并可进行定位的遮光马达31。在所述遮光片29遮挡所述投射光轴15的状态下，所述内部参照用光轴16成本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量装置用觇标，其中包括：由测量装置接受表示位置的激光测点光和测量距离的测距光，并反射扩散测距光的反射扩散层；将透射该反射扩散层的激光测点光有选择地透射的滤波层；以及使透射该滤波层的激光测点光沿特定方向放大透射的透射扩散层，可确认所述激光测点光的照射位置。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：大友文夫，古平纯一，
申请(专利权)人：株式会社拓普康，
类型：发明
国别省市：JP[日本]