一种孔隙内波及情况的确定方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种孔隙内波及情况的确定方法和装置。其中，该方法包括：使用微流控芯片驱替技术，采集微流控芯片注入预设试剂后不同阶段的图像；对图像进行识别处理，以确定微流控芯片的孔隙区域和动用孔隙区域；根据微流控芯片的孔隙区域和动用孔隙区域，确定孔隙分布表征和动用孔隙分部表征，其中，孔隙分布表征和动用孔隙分部表征用于表示孔隙内波及情况。本发明专利技术解决了现有技术中剩余油尺寸不足以精确表征孔隙内的波及情况的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
一种孔隙内波及情况的确定方法和装置
本专利技术涉及油田勘测
，具体而言，涉及一种孔隙内波及情况的确定方法和装置。
技术介绍
随着油气资源开发难度逐渐加大和相关技术理论研究的深入，室内物理模拟研究逐渐由传统的细观尺度向微观上发展。随着近年我国微观玻璃刻蚀模型和微流控芯片技术的快速发展，打破了传统“模型孔隙尺寸明显偏大(20-200μm)和润湿性单一”的技术局限，使微观渗流的模拟与真实地下岩心更加接近。近年来随着微观模型应用范围越发广泛，李俊建、岳湘安、戴彩丽及朱维耀为代表油气田开发领域的学者开展了化学驱驱油机理的研究，为高含水老油田提高采收率技术应用奠定了扎实的理论基础。过往诸多专利陈述了微观模型的量化研究方法，其中包括：多孔介质孔隙结构的识别方法、孔隙级剩余油重建方法和微观网格模型的制作研究，其中剩余油在多孔介质中的量化表征多为剩余油赋存状态、3D赋存位置和形状因子等信息。波及程度与洗油效率两大概念在提高采收率
中尤为重要，是对开发技术效果好坏评估的重要参数。目前，尚未存在一项技术可量化孔隙尺度的波及程度。因此，发展和建立可表征微观剩余油孔隙波及程度的方法尤其重要。具体的，当前已有较多方法可以量化微观剩余油的赋存形态、尺寸。但是大孔隙内的剩余油被打碎成小尺寸的剩余油液滴，而小尺寸的剩余油液滴并不能客观代表未波及到的小孔隙。因此，仅用剩余油尺寸不足以精确表征孔隙内的波及情况。针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种隙内波及情况的确定方法和装，以至少解决现有技术中剩余油尺寸不足以精确表征孔隙内的波及情况的技术问题。根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种孔隙内波及情况的确定方法，包括：使用微流控芯片驱替技术，采集微流控芯片注入预设试剂后不同阶段的图像；对所述图像进行识别处理，以确定所述微流控芯片的孔隙区域和动用孔隙区域；根据所述微流控芯片的孔隙区域和动用孔隙区域，确定孔隙分布表征和动用孔隙分部表征，其中，所述孔隙分布表征和所述动用孔隙分部表征用于表示所述孔隙内波及情况。可选地，所述方法还包括：在采集微流控芯片注入预设试剂后不同阶段的图像之后，对所采集到的不同阶段的图像进行图像校对，以便多孔介质颗粒边缘在不同图像中的同一位置；和/或，将所采集到的不同阶段的图像由RGB空间转换为灰度空间；对所述图像进行识别处理包括：对校对和/或转换后的图像进行识别处理。可选地，对所述图像进行识别处理以确定所述微流控芯片的孔隙区域，包括：确定所述微流控芯片注入预设试剂后的最初阶段的原油分布图像，并根据所述最初阶段的原油分布图像中的原油分布确定所述微流控芯片的孔隙区域；对所述图像进行识别处理以确定所述动用孔隙区域，包括：将所述微流控芯片注入预设试剂后的不同阶段的原油分布图像，分别与所述最初阶段的原油分布图像进行对比，并根据对比结果确定所述动用孔隙区域。可选地，所述孔隙区域和/或所述动用孔隙区域由预设图像分割方法所得，其中，所述预设图像分割方法为：检测并提取图像中颗粒边缘的像素，并统计所述颗粒边缘的像素的分布规律后，采用最大类间方法分割出所述孔隙区域和/或所述动用孔隙区域。可选地，根据所述微流控芯片的孔隙区域确定孔隙分布表征，包括：通过中轴腐蚀算法逐步提取所述微流控芯片的孔隙区域的中轴骨架，并得到所述孔隙区域的中轴骨架二值化图像；利用距离变换的方式计算所述孔隙区域与颗粒之间的距离，并采用欧式距离图的方式计算不同位置孔隙的内切圆半径，以得到孔隙区域的距离变换图；根据所述孔隙区域的中轴骨架二值化图像和所述孔隙区域的距离变换图，计算孔隙中轴的孔隙分布表征。可选地，根据所述微流控芯片的孔隙区域和动用孔隙区域，确定动用孔隙分部表征，包括：根据所述动用孔隙区域，确定动用孔隙二值化图像；根据所述孔隙区域的中轴骨架二值化图像和所述动用孔隙二值化图像，计算得到动用孔隙区域的中轴骨架；根据所述动用孔隙区域的中轴骨架和所述孔隙区域的距离变换图，计算得到波及区域的孔隙半径分布图，其中，所述孔隙半径分布图用于表征动用孔隙。根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种孔隙内波及情况的确定装置，包括：采集单元，用于使用微流控芯片驱替技术，采集微流控芯片注入预设试剂后不同阶段的图像；第一确定单元，用于对所述图像进行识别处理，以确定所述微流控芯片的孔隙区域和动用孔隙区域；第二确定单元，用于根据所述微流控芯片的孔隙区域和动用孔隙区域，确定孔隙分布表征和动用孔隙分部表征，其中，所述孔隙分布表征和所述动用孔隙分部表征用于表示所述孔隙内波及情况。可选地，所述装置还包括：校对单元，用于在采集微流控芯片注入预设试剂后不同阶段的图像之后，对所采集到的不同阶段的图像进行图像校对，以便多孔介质颗粒边缘在不同图像中的同一位置；和/或，转换单元，用于在采集微流控芯片注入预设试剂后不同阶段的图像之后，将所采集到的不同阶段的图像由RGB空间转换为灰度空间；其中，所述第一确定单元还用于：对校对和/或转换后的图像进行识别处理。可选地，所述第一确定单元，包括：第一确定模块，用于确定所述微流控芯片注入预设试剂后的最初阶段的原油分布图像，并根据所述最初阶段的原油分布图像中的原油分布确定所述微流控芯片的孔隙区域；第二确定模块，用于将所述微流控芯片注入预设试剂后的不同阶段的原油分布图像，分别与所述最初阶段的原油分布图像进行对比，并根据对比结果确定所述动用孔隙区域。可选地，所述装置还包括：分割子模块，用于使用预设图像分割方法获取所述孔隙区域和/或所述动用孔隙区域，其中，所述预设图像分割方法为：检测并提取图像中颗粒边缘的像素，并统计所述颗粒边缘的像素的分布规律后，采用最大类间装置分割出所述孔隙区域和/或所述动用孔隙区域。可选地，第二确定单元，包括：第一获取模块，用于通过中轴腐蚀算法逐步提取所述微流控芯片的孔隙区域的中轴骨架，并得到所述孔隙区域的中轴骨架二值化图像；第二获取模块，用于利用距离变换的方式计算所述孔隙区域与颗粒之间的距离，并采用欧式距离图的方式计算不同位置孔隙的内切圆半径，以得到孔隙区域的距离变换图；第一计算模块，用于根据所述孔隙区域的中轴骨架二值化图像和所述孔隙区域的距离变换图，计算孔隙中轴的孔隙分布表征。可选地，第二确定单元，包括：第三确定模块，用于根据所述动用孔隙区域，确定动用孔隙二值化图像；第二计算模块，用于根据所述孔隙区域的中轴骨架二值化图像和所述动用孔隙二值化图像，计算得到动用孔隙区域的中轴骨架；第三计算模块，用于根据所述动用孔隙区域的中轴骨架和所述孔隙区域的距离变换图，计算得到波及区域的孔隙半径分布图，其中，所述孔隙半径分布图用于表征动用孔隙。根据本申请的另一方面，提供了一种存储介质，所述存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行上述任意一项所述的孔隙内波及情况的确定方法。根据本申请的另一方面，提供了一种处理器，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行上述任意一项所述的孔隙内波及情况的确定方法。本申请通过使用微本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种孔隙内波及情况的确定方法，其特征在于，包括：/n使用微流控芯片驱替技术，采集微流控芯片注入预设试剂后不同阶段的图像；/n对所述图像进行识别处理，以确定所述微流控芯片的孔隙区域和动用孔隙区域；/n根据所述微流控芯片的孔隙区域和动用孔隙区域，确定孔隙分布表征和动用孔隙分部表征，其中，所述孔隙分布表征和所述动用孔隙分部表征用于表示所述孔隙内波及情况。/n

【技术特征摘要】
1.一种孔隙内波及情况的确定方法，其特征在于，包括：
使用微流控芯片驱替技术，采集微流控芯片注入预设试剂后不同阶段的图像；
对所述图像进行识别处理，以确定所述微流控芯片的孔隙区域和动用孔隙区域；
根据所述微流控芯片的孔隙区域和动用孔隙区域，确定孔隙分布表征和动用孔隙分部表征，其中，所述孔隙分布表征和所述动用孔隙分部表征用于表示所述孔隙内波及情况。


2.根据权利要求1所述的确定方法，其特征在于，
所述方法还包括：在采集微流控芯片注入预设试剂后不同阶段的图像之后，对所采集到的不同阶段的图像进行图像校对，以便多孔介质颗粒边缘在不同图像中的同一位置；和/或，将所采集到的不同阶段的图像由RGB空间转换为灰度空间；
对所述图像进行识别处理包括：对校对和/或转换后的图像进行识别处理。


3.根据权利要求1所述的确定方法，其特征在于，
对所述图像进行识别处理以确定所述微流控芯片的孔隙区域，包括：确定所述微流控芯片注入预设试剂后的最初阶段的原油分布图像，并根据所述最初阶段的原油分布图像中的原油分布确定所述微流控芯片的孔隙区域；
对所述图像进行识别处理以确定所述动用孔隙区域，包括：将所述微流控芯片注入预设试剂后的不同阶段的原油分布图像，分别与所述最初阶段的原油分布图像进行对比，并根据对比结果确定所述动用孔隙区域。


4.根据权利要求3所述的确定方法，其特征在于，所述孔隙区域和/或所述动用孔隙区域由预设图像分割方法所得，其中，所述预设图像分割方法为：检测并提取图像中颗粒边缘的像素，并统计所述颗粒边缘的像素的分布规律后，采用最大类间方法分割出所述孔隙区域和/或所述动用孔隙区域。


5.根据权利要求1所述的确定方法，其特征在于，根据所述微流控芯片的孔隙区域确定孔隙分布表征，包括：
通过中轴腐蚀算法逐步提取所述微流控芯片的孔隙区域的中轴骨架，并得到所述孔隙区域的中轴骨架二值化图像；
利用距离变换的方式计算所述孔隙区域与颗粒之间的距离，并采用欧式距离图的方式计算不同位置孔隙...

【专利技术属性】
技术研发人员：聂小斌，栾和鑫，向湘兴，陈权生，李织宏，白雷，徐崇军，云庆庆，唐文洁，关丹，阙庭丽，焦秋菊，帕提古丽·麦麦提，
申请(专利权)人：中国石油天然气股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11