一种属于电子测量仪器的开式数显千分尺,电子组件用螺钉与开式罩壳连接,开式罩壳用圆柱头螺钉与开式尺架正面连接,数据输出口胶塞与开式尺架右侧面的下通孔连接,铜套与开式尺架过盈配合,副栅组件用平端紧定螺钉与铜套的右端连接固定,调节螺钉与主栅组件螺纹连接,主栅组件可沿着测微螺杆的外圆和直槽移动,螺纹套筒与开式尺架的右端螺纹连接,刻线微分筒用涨套与测微螺杆连成一体。适用于数显千分尺系列产品。(*该技术在2017年保护过期,可自由使用*)
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种电子测量仪器,特别是一种开式数显千分尺。
技术介绍
目前,公知的数显千分尺的结构都是闭式的,不但在尺架的机加工上有困难,而且在装配主栅组件、副栅组件时,难度也很大,维修很不方便,生产成本较高。
技术实现思路
为了降低生产成本,提高生产效率,便于产品维修,本技术提供一种开式数显千分尺。 本技术所采用的技术方案是测砧与开式尺架左端过盈配合,测微螺杆与铜套滑动连接,锁紧螺钉与开式尺架中端螺纹连接,电子组件用螺钉与开式罩壳连接,开式罩壳用圆柱头螺钉与开式尺架正面连接,两块护板用自攻螺钉通过开式尺架两个过钉孔相互连接,数据输出口胶塞与开式尺架右侧面的下通孔连接,铜套与开式尺架过盈配合,副栅组件与铜套的右端连接,用平端紧定螺钉固定,调节螺钉与主栅组件螺纹连接,主栅组件可沿着测微螺杆的外圆和直槽移动,弹簧片置于螺纹套筒与刻线固定套筒之间,螺纹套筒与开式尺架的右端螺纹连接,刻线微分筒用涨套与测微螺杆连成一体,电池盖与开式尺架的背面螺纹连接,刻线固定套筒与螺纹套筒的外圆连接,调节螺母与螺纹套筒的右端螺纹连接,护盖置于涨套的右端面,棘轮测力装置与测微螺杆最右端螺纹连接,并把护盖压紧。 采用上述方案后,使开式数显千分尺具有结构紧凑,尺架的机加工工艺性好,整机易于装配,维修方便,生产效率高等优点。适用于数显千分尺系列产品。附图说明图1为开式数显千分尺结构简图; 图2为开式数显千分尺机械部分装配示意图; 图3为开式尺架结构简图; 图4为开式尺架A-A剖视图。 图中1.开式尺架2.测砧3.测微螺杆4.锁紧螺钉5.开式罩壳6.电子组件7.圆柱头螺钉8.自攻螺钉9.护板10.数据输出口胶塞11.铜套12.平端紧定螺钉13.副栅组件14.主栅组件15.调节螺钉16.弹簧片17.螺纹套筒18.刻线微分筒19.涨套20.电池盖21.刻线固定套筒22.调节螺母23.护盖24.棘轮测力装置 具体实施方式 图1、图2中,测砧(2)与开式尺架(1)左端过盈配合,测微螺杆(3)与铜套(11)滑动连接,锁紧螺钉(4)与开式尺架(1)中端螺纹连接,电子组件(6)用螺钉与开式罩壳(5)连接,开式罩壳(5)用圆柱头螺钉(7)与开式尺架(1)正面连接,两块护板(9)用自攻螺钉(8)通过开式尺架(1)两个过钉孔相互连接,数据输出口胶塞(10)与开式尺架(1)右侧面的下通孔连接,铜套(11)与开式尺架(1)过盈配合,副栅组件(13)与铜套(11)的右端连接,用平端紧定螺钉(12)固定,调节螺钉(15)与主栅组件(14)螺纹连接,主栅组件(14)可沿着测微螺杆(3)的外圆和直槽移动,弹簧片(16)置于螺纹套筒(17)与刻线固定套筒(21)之间,螺纹套筒(17)与开式尺架(1)的右端螺纹连接,刻线微分筒(18)用涨套(19)与测微螺杆(3)连成一体,电池盖(20)与开式尺架(1)的背面螺纹连接,刻线固定套筒(21)与螺纹套筒(17)的外圆连接,调节螺母(22)与螺纹套筒(17)的右端螺纹连接,护盖(23)置于涨套(19)的右端面,棘轮测力装置(24)与测微螺杆(3)最右端螺纹连接,并把护盖(23)压紧。取出数据输出口胶塞(10),使用专用连接线与输出端口连接,可将测量数据输入专用打印机打印或输入计算机进行数据处理。 从图3、图4中可看出,开式尺架(1)上有一槽,槽宽18~24毫米,深4~8毫米。权利要求1. 一种开式数显千分尺,测砧与开式尺架左端过盈配合连接,测微螺杆与铜套滑动连接,锁紧螺钉与开式尺架中端螺纹连接,其特征是电子组件用螺钉与开式罩壳连接,开式罩壳用圆柱头螺钉与开式尺架正面连接,数据输出口胶塞与开式尺架右侧面的下通孔连接,铜套与开式尺架过盈配合,副栅组件用平端紧定螺钉与铜套的右端连接固定,调节螺钉与主栅组件螺纹连接,主栅组件可沿着测微螺杆的外圆和直槽移动。2. 根据权利要求1所述的开式数显千分尺,其特征是电子组件用螺钉与开式罩壳连接,开式罩壳用圆柱头螺钉与开式尺架正面连接,数据输出口胶塞与开式尺架右侧面的下通孔连接,铜套与开式尺架过盈配合,开式尺架上有一槽。3. 根据权利要求1所述的开式数显千分尺,其特征是电子组件用螺钉与开式罩壳连接,开式罩壳用圆柱头螺钉与开式尺架正面连接,数据输出口胶塞与开式尺架右侧面的下通孔连接,铜套与开式尺架过盈配合,开式尺架上有一槽,槽宽18~24毫米,槽深4~8毫米。专利摘要一种属于电子测量仪器的开式数显千分尺,电子组件用螺钉与开式罩壳连接,开式罩壳用圆柱头螺钉与开式尺架正面连接,数据输出口胶塞与开式尺架右侧面的下通孔连接,铜套与开式尺架过盈配合,副栅组件用平端紧定螺钉与铜套的右端连接固定,调节螺钉与主栅组件螺纹连接,主栅组件可沿着测微螺杆的外圆和直槽移动,螺纹套筒与开式尺架的右端螺纹连接,刻线微分筒用涨套与测微螺杆连成一体。适用于数显千分尺系列产品。文档编号G01B3/18GK201116859SQ20072012571公开日2008年9月17日 申请日期2007年7月27日 优先权日2007年7月27日专利技术者马黎明, 林 蒋, 舒服生, 黄志超 申请人:桂林广陆数字测控股份有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种开式数显千分尺,测砧与开式尺架左端过盈配合连接,测微螺杆与铜套滑动连接,锁紧螺钉与开式尺架中端螺纹连接,其特征是:电子组件用螺钉与开式罩壳连接,开式罩壳用圆柱头螺钉与开式尺架正面连接,数据输出口胶塞与开式尺架右侧面的下通孔连接,铜套与开式尺架过盈配合,副栅组件用平端紧定螺钉与铜套的右端连接固定,调节螺钉与主栅组件螺纹连接,主栅组件可沿着测微螺杆的外圆和直槽移动。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:马黎明,蒋林,舒服生,黄志超,
申请(专利权)人:桂林广陆数字测控股份有限公司,
类型:实用新型
国别省市:45[中国|广西]
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