光学测量装置制造方法及图纸

一种光学测量装置，测量一光学组件，其特征在于，该光学测量装置包含： 一基座； 一第一光纤对准器，设置于该基座之上； 一第一光纤，定位于该第一光纤对准器上，随该第一光纤对准器调整而移动； 一第二光纤对准器，设置于该基座之上，且与该第一光纤对准器相对而设； 一第二光纤，定位于该第二光纤对准器上，随该第二光纤对准器调整而移动； 一置放台，设置于该第一光纤对准器与该第二光纤对准器之间，以置放该光学组件；以及 一旋转台，枢设于该基座之上，介于该第一光纤对准器与该第二光纤对准器之间，且与该置放台连设，以调整该置放台的角度。（*该技术在2012年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本技术涉及一种光学测量装置，特别是一种可调整待测光学组件角度的光学测量装置。光学组件在制造完成后，通常需经过光学测量装置的测量，以确保光学组件的良率。如附图说明图1所示，于一光学测量仪器3中，操作者将一光学组件4直立置放于展示台31上，测量的光线经由一第一光纤准直器32射入光学组件4中，通过光学组件4的光线接着射入一第二光纤准直器33中，第二光纤准直器33所接收的光线再传入一光侦测器中(未显示于图1)，转换成可供判读的光谱图。一般的测量过程中，需利用不同角度的入射光线进行测量，亦即改变入射光线与光学组件之间的夹角，以得到不同入射角度的光谱图。但在现有的仪器中，只能粗略地改变入射光线的位置，无法精确调整及改变入射光线与光学组件的夹角。同时，由于无法精确纪录入射角的改变，测量的值其再现性以及精准度都低。另外，光学组件直立置于展示台上，容易产生倾斜的问题，也不易定位。再者，平置式装置在一定区域中，其每单位面积的产能不大，不符合实际量产的要求。为实现上述目的，本技术提供一种光学测量装置，测量一光学组件，光学测量装置包含一基座、一第一光纤对准器、一第一光纤、一第二光纤对准器、一第二光纤、一置放台以及一旋转台。其中，第一光纤对准器设置于基座之上；第一光纤定位于第一光纤对准器上，随第一光纤对准器调整而移动；第二光纤对准器设置于基座之上，且与第一光纤对准器相对而设；第二光纤定位于第二光纤对准器上，随第二光纤对准器调整而移动；置放台设置于第一光纤对准器与第二光纤对准器之间，以置放光学组件；旋转台枢设于基座之上，介于第一光纤对准器与第二光纤对准器之间，且与置放台连设，以调整置放台的角度。与现有技术相比，在本技术中提供一种能够精密控制与调整入射光线与光学组件的夹角的光学测量装置，用以测量不同入射角的光谱图。同时，由于其精密度达到0.1度，重复测量时的精密度与再现性都很好。另外，本技术为一直立式装置，在一定区域中的每单位产能较平置式装置大，而且光学组件平置于置放上，不易产生位移的情形，定位较方便，所测量的精确度、再现性以及重现性都很好。再者，置放台具有一漏斗形状的特征，使操作者能够快速置换光学组件，进而减少更换所花费的时间。图2为本实施例的光学测量装置的示意图。图3为本实施例的第一光纤对准器的示意图。图4为本实施例的第二光纤对准器的示意图。图5为本实施例的置放台的示意图。图6为本实施利的旋转台的示意图。如图2所示，本技术提供一种光学测量装置1，测量一光学组件2，光学测量装置1包含一基座11、一第一光纤对准器12、一第一光纤13、一第二光纤对准器14、一第二光纤15、一置放台16以及一旋转台17。其中，第一光纤对准器12设置于基座11之上；第一光纤13定位于第一光纤对准器12上，随第一光纤对准器12调整而移动；第二光纤对准器14设置于基座11之上，且与第一光纤对准器12相对而设；第二光纤15定位于第二光纤对准器14上，随第二光纤对准器14调整而移动；置放台16设置于第一光纤对准器12与第二光纤对准器14之间，以置放光学组件2；旋转台17枢设于基座11之上，介于第一光纤对准器12与第二光纤对准器14之间，且与置放台16连设，以调整置放台16的角度。如图3所示，第一光纤对准器12设置于基座11之上。第一光纤对准器12为一二轴位移平台，具有一第一旋转轴121、一第二旋转轴122。其中，第一旋转轴121使第一光纤对准器12沿着X轴移动；第二旋转轴122使第一光纤对准器12沿着Y轴移动，第一旋转轴121与第二旋转轴122也有微调的功能。当然，第一光纤对准器12也可以一四轴位移平台替代。另外，如图3所示，第一光纤13定位于第一光纤对准器12上，随第一光纤对准器12调整而移动。在此，第一光纤13为一双心光纤，同时可为一发射光纤，用以发射一光线；也可为一接收光纤，用以接收一光线。如图4所示，第二光纤对准器14设置于基座11之上，且与第一光纤对准器12相对而设。第二光纤对准器14为一四轴位移平台，具有一第一旋转轴141、一第二旋转轴142、一第三旋转轴143以及一第四旋转轴144。其中，第一旋转轴141使第二光纤对准器14沿着X轴移动；第二旋转轴142使第二光纤对准器14沿着Y轴移动；第三旋转轴143使第二光纤对准器14沿着X轴旋转；第四旋转轴144使第二光纤对准器14沿着Y轴旋转。该等旋转轴也有微调的功能。当然，第二光纤对准器14也可以一二轴位移平台替代。在此，第二光纤15定位于第二光纤对准器14上，随第二光纤对准器14调整而移动。第二光纤15为一双心光纤，同时可为一发射光纤，用以发射一光线；也可为一接收光纤，用以接收一光线。再参考图5，置放台16为一具有漏斗形特征的平台，用以置放待测的光学组件2。此漏斗形的特征能够让操作者容易放置光学组件2，可减少在置换时所花费的时间；同时，光学组件2平置于置放台16上，与直立式置放台相比，不易产生位移，定位更加容易，增加测量的再现性、重复性以及精确性。当然，置放台16也可为不同形式的平台，例如L形的置放台。如第二光纤对准器12，置放台16也是一四轴位移平台，具有一第一旋转轴161、一第二旋转轴162、一第三旋转轴163以及一第四旋转轴164。其中，第一旋转轴161使置放台16沿着X轴移动；第二旋转轴162使置放台16沿着Y轴移动；第三旋转轴163使置放台16沿着X轴旋转；第四旋转轴164使置放台16沿着Y轴旋转。并且，第一旋转轴162、第二旋转轴162、第三旋转轴163以及第四旋转轴164均有微调的功能。当然，置放台16也可以一二轴位移平台替代。接着，如图6所示，旋转台17枢设于基座11之上，介于第一光纤对准器12与第二光纤对准器14之间，且与置放台16连设，以调整置放台16的角度。旋转台17的旋转程度与置放台16的旋转程度相同，亦即，当旋转台17逆时针旋转5度时，同时置放台17也逆时针旋转5度。旋转台上刻有刻度，藉以显示旋转的方向以及角度。另外，旋转台17上具有一固定旋钮171以及一调整旋钮172。其中，固定旋钮171用以固定旋转台17，而调整旋钮172用以调整旋转台17的角度。欲旋转置放台16的角度时，必须先旋开固定旋钮171，接着再利用调整旋钮172调整所欲旋转的角度。当然，也可以直接旋转旋转台17来进行调整，当作粗调使用。在此，旋转台17调整的精密度可至0.1度。于本实施例中，第一光纤对准器12、旋转台17与第二光纤对准器14依序由下而上设置在基座11之上。而且，第一光纤13、光学组件2与第二光纤15位于一直线上。于本实施例中，某一范围波长的光线由第一光纤13射入置放于置放台16的光学组件2(如高密度多任务分合器，DWDM)，穿透过光学组件2的光线，接着进入第二光纤15中，光线再传入光侦测器(未显示于图2)，最后得到光学组件2的一穿透光谱图。另外，当光线由第一光纤13射入置放于置放台16的光学组件2，光学组件2所反射的光线，再次进入第一光纤13中，该光线再传入光侦测器(未显示于图2)，最后得到光学组件2的一反射光谱图。相同地，光线也可由第二光纤15射入光学组件2中，侦测其穿透光谱以及反射光谱。本实施例中的光侦测器(未显示于图2)用以侦测通过光学组件2的一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈士恩，
申请(专利权)人：精碟科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：