测量带卡槽外圈内平的检具制造技术

技术编号:2516194 阅读:238 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术涉及一种用于检测万向节轴承外圈内底平面至外表面卡槽间距离的专用检测工具。它主要是在所述的立柱上设有与之垂直的表支架,其上置有测量表,在测量表之测量头正下方设置有卡板;所述卡板开口与工件外圈卡槽相配,且上平面呈水平状布置。因此,具有结构合理,操作简便,方便、直观,累计误差较小,使用寿命长,检测较为精确,能在加工现场直接检测工件是否合格等特点。(*该技术在2011年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本技术涉及一种机械加工中的检测工具,尤其是涉及一种用于检测内卡式万向节轴承外圈内底平面至外表面卡槽间距离专用检测工具。内卡式万向节轴承外圈内底平面至外表面卡槽间距离是该产品的一个重要的技术尺寸;若该尺寸偏离所给定的公差范围,将直接影响万向节在传动轴上的装配以及运动精度。在现有技术中,通常使用游标卡尺依次测量外圈内底平面至外圈口缘的距离以及外圈口缘至外表面卡槽间的距离,然后将该两次测量数值经过计算,确定其测定值是否符合要求。因此,不仅操作较为繁琐,量具的分度值较大(002mm),而且测定的累计误差较大,影响检测的精确性。本技术的专利技术目的是克服现有技术的上述不足,提供一种结构合理,操作简便,累计误差较小,检测较为精确的测量带卡槽外圈内平的检具。本技术的专利技术目的主要是通过下述技术方案得以实现的在所述的立柱上设有与之垂直的表支架,其上置有测量表,在测量表之测量头正下方设置有卡板;所述卡板开口与工件外圈卡槽相配,且上平面呈水平状布置。所述的卡板可设于框架上,框架置于底座上不动,然后直接调定表支架至合适的位置即可;也可以在所述表支架下方的立柱设有测量支架;其端部固定设有由硬质钢制成的卡板呈U型。这样,同时也可调节卡板的高低位置。另外,所述卡板采用工具钢制成,其一端部经固定螺栓连接在测量支架的一端部;所述的校对柱高度大于外圈内底面的深度,其上下表面磨平且平行。由于卡板和校对柱,强度高,不易变形和磨损,该检测工具使用寿命长,精度较高。因此,本技术具有结构合理,操作简便,无需计算,一次测定即可完成,方便、直观,累计误差较小,使用寿命长,检测较为精确,能在加工现场直接检测工件是否合格等特点。附附图说明图1是本技术的一种主视结构示意图;附图2是本技术中的一种卡板的结构示意图。下面通过实施例,并结合附图,对本技术的技术方案作进一步具体的说明。实施例在由铸铁制成的底座4的一侧中部处,垂直设有立柱3;在立柱3的上部设置有水平状的表支架1,并通过拧松表杆紧固螺钉2移至所需的高低位置,再拧紧表杆紧固螺钉2,即调节固定。在表支架1的端部垂直设有测量表8(可选用百分表),并通过紧表钉9将其固定到位。在表支架1的下方设置有测量支架15,其端部设置有卡板11,所述卡板11采用工具钢制成,呈U字型的叉状,其叉口宽度与外圈槽底的直径相配,并在其另一端部设置有固定孔,通过设于其上的固定螺栓5将之与测量支架15的端部相连接。所述的校对柱10高度大于外圈(工件)12内底面的深度,其上下表面磨平且平行,使之在保证测量精度的前提下,便于取置。上述检具安装牢固后,利用置入标准外圈内的校对柱10放入卡板11上对表,使测量表8的指针校正为零位。即可换上待检测的外圈12,直接读出百分表的读数,即可确定该工件是否合格。若读数值在允许的公差范围内,为合格产品;若读数值超出允许的公差范围,为不合格产品,需返工或作废品处理。权利要求1.一种测量带卡槽外圈内平的检具,包括底座和设于其上的立柱,其特征是在所述的立柱(3)上设有与之垂直的表支架(1),其上置有测量表(8),在测量表(8)之测量头正下方设置有卡板(11);所述卡板(11)的开口与工件(12)外圈卡槽相配,且上平面呈水平状布置。2.根据权利要求1所述的测量带卡槽外圈内平的检具,其特征是在所述表支架(1)下方的立柱(3)设有测量支架(15);其端部固定设有由硬质钢制成的卡板(11)呈U型。3.根据权利要求1或2所述的测量带卡槽外圈内平的检具,其特征是在所述卡板(11)采用工具钢制成,其一端部经固定螺栓(5)连接在测量支架(15)的一端部;所述的校对柱(10)高度大于外圈(12)内底面的深度,其上下表面磨平且平行。专利摘要本技术涉及一种用于检测万向节轴承外圈内底平面至外表面卡槽间距离的专用检测工具。它主要是在所述的立柱上设有与之垂直的表支架,其上置有测量表,在测量表之测量头正下方设置有卡板;所述卡板开口与工件外圈卡槽相配,且上平面呈水平状布置。因此,具有结构合理,操作简便,方便、直观,累计误差较小,使用寿命长,检测较为精确,能在加工现场直接检测工件是否合格等特点。文档编号G01B5/18GK2485627SQ01239238公开日2002年4月10日 申请日期2001年5月10日 优先权日2001年5月10日专利技术者沈志刚, 李红儿 申请人:万向钱潮股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量带卡槽外圈内平的检具,包括底座和设于其上的立柱,其特征是在所述的立柱(3)上设有与之垂直的表支架(1),其上置有测量表(8),在测量表(8)之测量头正下方设置有卡板(11);所述卡板(11)的开口与工件(12)外圈卡槽相配,且上平面呈水平状布置。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员:沈志刚李红儿
申请(专利权)人:万向钱潮股份有限公司
类型:实用新型
国别省市:33[中国|浙江]

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