大量面固定测砧千分尺制造技术

技术编号:2515699 阅读:230 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
大量面固定测砧千分尺。普通千分尺测头外径小,在测量螺距大的旋转体工件时极不方便。大量面固定测砧千分尺,其组成包括:尺架1,所述的尺架1内左端紧配合有接头2,所述的接头2的另一端与横测板3紧配合在一起,所述的横测板3与千分测头5之间连有量块4和平行检具6。该产品用于大螺距的旋转体工件的外径及测量点不在同一线上但在平行线上的产品外径的测量工具。(*该技术在2015年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种大量面固定测砧千分尺
技术介绍
普通千分尺测头外径小,在测量螺距大的旋转体工件时极不方便,针对此类工件的测量,我们设计了大量面固定测头千分尺。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种大量面固定测砧千分尺。上述的目的通过以下的技术方案实现大量面固定测砧千分尺,其组成包括尺架,所述的尺架内左端紧配合有接头,所述的接头的另一端与横测板紧配合在一起,所述的横测板与千分测头之间连有量块和平行检具。上述的大量面固定测砧千分尺,所述的横测板与尺架的安装位置可以为纵向,还可以为横向。这个技术方案有以下有益效果1.本技术的测量范围为(0~200)mm,测砧长×宽为18mm×100mm~18mm×120mm。2.量块用于尺寸对零,平行检具用于固定测砧与千分测头两个测量面间平行度的检查。3.本技术结构简单,可以通过在外径千分尺上去掉侧头改装,容易实现,扩大了千分尺的用途范围。附图说明附图1是本产品横侧板与尺架为横向的结构示意图。附图2是附图1的左视图。附图3是附图1的A向视图。附图4是平行检具的结构示意图。附图5是本产品横侧板与尺架为纵向的结构示意图。附图6是附图5的左视图。具体实施方式实施例1大量面固定测砧千分尺,其组成包括尺架1,所述的尺架1内左端紧配合有接头2,所述的接头2的另一端与横测板3紧配合在一起,使得千分尺有较大面积固定测砧,可以进行大螺距旋转体工件以及测量点不在同一直线但在平行线上的产品外径的测量,所述的横测板3与千分测头5之间连有量块4和平行检具6,量块4用于尺寸对零,平行检具用于固定测砧与千分测量两个测量面之间平行度的检查。实施例2上述的大量面固定测砧千分尺,所述的横测板3与尺架1的安装位置可以为纵向,还可以为横向。权利要求1.一种大量面固定测砧千分尺,其组成包括尺架,其特征是所述的尺架内左端紧配合有接头,所述的接头的另一端与横测板紧配合在一起,所述的横测板与千分测头之间连有量块和平行检具。2.根据权利要求1所述的大量面固定测砧千分尺,其特征是所述的横测板与尺架的安装位置可以为纵向,还可以为横向。专利摘要大量面固定测砧千分尺。普通千分尺测头外径小,在测量螺距大的旋转体工件时极不方便。大量面固定测砧千分尺,其组成包括尺架1,所述的尺架1内左端紧配合有接头2,所述的接头2的另一端与横测板3紧配合在一起,所述的横测板3与千分测头5之间连有量块4和平行检具6。该产品用于大螺距的旋转体工件的外径及测量点不在同一线上但在平行线上的产品外径的测量工具。文档编号G01B5/08GK2804790SQ200520020640公开日2006年8月9日 申请日期2005年4月18日 优先权日2005年4月18日专利技术者张伟, 成海波, 尹敏 申请人:哈尔滨量具刃具集团有限责任公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种大量面固定测砧千分尺,其组成包括:尺架,其特征是:所述的尺架内左端紧配合有接头,所述的接头的另一端与横测板紧配合在一起,所述的横测板与千分测头之间连有量块和平行检具。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张伟成海波尹敏
申请(专利权)人:哈尔滨量具刃具集团有限责任公司
类型:实用新型
国别省市:93[中国|哈尔滨]

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