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形位误差检测器制造技术

技术编号:2513925 阅读:210 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
形位误差检测器属机械制造业中几何量测量技术领域。本实用新型专利技术的主要技术特征是,把两个螺旋副测微机构用器架联接起来,并使两个螺旋副测微机构的测量轴线在同一中心线上,在被测零件径向实现检测定位。并以安装在器架上的机械指针测微表指示被测零件的形位误差。本实用新型专利技术制造容易,使用方便,可以解决形位误差的车间现场检测问题。(*该技术在2000年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种用于生产车间现场,检测有关形状和位置误差的计量器具,属机械制造业中几何量测量
完工零件的实际几何参数不可避免地会存在误差,其中形状和位置的误差是很重要的一个方面。这些误差愈大,零件几何参数的质量愈低。从而对这些误差都要加以控制和检测。在国内外现行的形位误差检测技术中。主要是利用一个或几个实物测量基准同被测件进行比较的方法实现的。其缺点是实物测量基准的制造、使用、保管时要求高;当有几个实物测量基准时,由于测量链长而测量极限误差大;而在通常情况下,刚加工完成需要检测的零件与实物测量基准又不在同一环境内;致使形位误差的检测效率低、不经济、检测条件苛刻。本技术的目的在于提供一种经济、实用、方便、而且有较高精度的计量器具,为解决机械制造业中几何量测量方面形位误差的车间现场检测问题。本技术在技术特点上,以如下方式达到上述目的:把螺旋副测微机构与机械指针测微表巧妙地结合起来,用器架把两个读数为0~25mm、分度值为0.01mm或0.001mm的螺旋副测微机构(其中一个测杆测量面为平面的称为主螺旋副测微机构,另一个测杆测量面为球面的称为副螺旋副测微机构)联接起来,并使主副螺旋副测微机构的测量轴线在同一中心线上,在被测零件经向实现检测定位;在器架的上部平面,位于器架的中心对称位置,钻有用于直接安装机械指针测微表(量程为0~3mm、分度值为0.01mm的百分表或量程为0~1mm、分度值为0.001mm的千分表)的孔一只和用于固定附件测量臂的盲螺孔两只。其中孔的中心与主、副螺旋副测量轴线在同一平面内,且垂直于螺旋副-->测微机构的测量轴线。附件测量臂有上臂、下臂、左臂、右臂、侧臂五种典型样式。主要使机械指针测微表测量轴线外移,测量头高或低、左或右、以及机械指针测微表测量轴线平行于主、副螺旋副测量轴线。最终以机械指针测微表指示被测零件的圆度、圆柱度、直线度、同轴度、平行度等的实际形位误差。器架与主、副螺旋副测微机构的联接方式是测微机构的螺纹轴套与器架过盈配合。在联接处分别装有制动主、副螺旋副测微机构中测微螺杆的制动轴;器架与附件测量臂的联接方式是螺钉紧固;器架、附件测量臂与机械指针测微表的联接是动配合,配合处装有锁紧机械指针测微表套筒的锁紧螺丝。下面结合附图对本技术的实施例作进一步说明:本技术以主、副螺旋副测微机构的检测定位范围来确定不同规格,可以制造成0~50mm、50~100mm、100~150mm、150~200mm、200~250mm等多种。在不影响测微螺杆检测定位的条件下,附件测量臂的臂长也可以制成多种规格、一般视被测对象而定。图1是形位误差检测器示意图。图中标号1是主螺旋副测微机构,2是器架,3是机械指针测微表,4是副螺旋副测微机构。图2是形位误差检测器附件测量臂五种典型样式的示意图。图中标号1是上臂、2是下臂、3是左臂、4是右臂、5是侧臂。参照附图,本技术在制造上的实施例是:把器架2铸造成型并经机械加工后与外购的通用件螺旋副测微机构1和4装配联接。参照外经千分尺检定规程。在制动主螺旋副测杆时,用量块检定副螺旋副测微机构示值的准确性,反之也是一样。机械指针测微表3也是通用的外购件,在检定合格后即可以装配使用。参照附图,本技术在使用上的实施例一是:在已知被测零件的实际半径值时,先把副螺旋副测微机构4设定到这一值,然后制动锁定;再转动主螺旋副测微机构1,使其向相运动,当主螺旋副测杆平面与被-->测零件相接触,其读数值也等于半径值,且与副螺旋副测杆球面对零件呈夹紧状态时,可以认为主、副螺旋副测微机构在被测零件经向实现了定位;这时,使安装在器架2上或附件测量臂上的机械指针测微表3与被测件接触,并使测杆有一定的初始测量压力,立即锁紧套筒并调整表的零位,松开主螺旋副测杆,转动零件,在同一截面上重复检测定位。读取机械指针测微表在截面各点指示的数值。实施例二是根据实施例一所述定位方法实现定位,然后移动形位误差检测器,在被测零件轴线全长范围内重复检测定位,读取机械指针测微表在被测素线各点指示的数值。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于生产车间现场检测有关形状和位置误差的计量器具,包括主螺旋副测微机构1、器架2、机械指针测微表3、副螺旋副测微机构4、以及附件测量臂。其特征在于用器架把两个读数为0~25mm、分度值为0.01mm或0.001mm的螺旋副测微机构联接起来,并使主、副螺旋副测微机构的测量轴线在同一中心线上,同时在器架的上部平面可直接安装机械指针测微表,使机械指针测微表的测量轴线垂直于螺旋副测微机构的测量轴线,其测量头直接接触被测零件;在器架的上部平面也可安装附件测量臂,使机械指针测微表测量轴线外移、平行于主、副螺旋副测量轴线、测量头或低、左或右,以直接接触被测零件。

【技术特征摘要】
1、一种用于生产车间现场检测有关形状和位置误差的计量器具,包括主螺旋副测微机构1、器架2、机械指针测微表3、副螺旋副测微机构4、以及附件测量臂。其特征在于用器架把两个读数为0~25mm、分度值为0.01mm或0.001mm的螺旋副测微机构联接起来。并使主、副螺旋副测微机构的测量轴线在同一中心线上。同时在器架的上部平面可直接安装机械指...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐志平
申请(专利权)人:徐志平
类型:实用新型
国别省市:31[中国|上海]

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