双频激光干涉仪制造技术

一种双频激光干涉仪，包括一双频激光器，在该激光器的输出光路上设置一偏振分光镜，该偏振分光镜的分光面与激光器的输出光路成４５°，在该偏振分光镜反射光方向放置一固定角锥棱镜，透射方向是一移动角锥棱镜，在该偏振分光镜的输出光方向、双频激光器的同侧还有一探测器，其特征是在所述的偏振分光镜和探测器设有一反射镜，在双频激光器和偏振分光镜之间的光路上成４５°放置一光束转换器和反射镜。本实用新型专利技术在相同测试条件下，与现有双频激光干涉仪相比，测试精度提高了一倍。该实用新型专利技术的测试方法具有简便、经济、精度高等优点。（*该技术在2014年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
双频激光干涉仪
本技术与长度计量有关，是对双频激光干涉仪的改进，以提高双频激光干涉仪的分辨率。
技术介绍
双频激光干涉仪由于具有大测量范围、高分辨率、高精度、及高速度等综合优势，并且可通过与不同的附件组合，可进行长度、速度、角度、平面度、直线度和垂直度等的测量，在精密和超精密制造领域获得到了广泛的应用，例如，精密坐标机床的标定、高精度传感器的标定、光刻机的工件台和掩模台的精密定位等。目前商品化双频激光干涉仪结构如图1所示，该双频激光干涉仪，包括一双频激光器4，在该激光器4的输出光路上设置一偏振分光镜2，该偏振分光镜2的分光面与激光器4的输出光路成45°，在该偏振分光镜2反射光方向放置一固定角锥棱镜5，透射方向是一移动角锥棱镜1，在该偏振分光镜2的输出光方向、双频激光器4的同侧还有一探测器3。双频激光器4产生二束振动方向相互垂直、频率分别为f1和f2、频差为Δf的线偏振光。这二束光进入偏振分光镜2，其中垂直振动的频率为f1的线偏振光全部反射到固定的角锥棱镜5，而平行振动的频率为f2的线偏振光全部透过进入移动角锥棱镜1。这二束光分别经角锥棱镜5和1反射后，在偏振分光镜2分光面会合。该干涉仪是基于多普勒频移原理进行测长，在当角锥棱镜1移动时，由于多普勒效应，f2变为f2±Δf2，利用探测器3得到具有位移量信息的双频激光干涉测试信号。-->目前，尽管一台普通的双频激光干涉仪自身具有较高的分辨率，例如，可达纳米量级，但在很多情况下，分辨率达纳米量级的双频激光干涉仪给出的测量精度常常是微米量级，甚至更差。随着微纳米制造技术的发展，对干涉仪的精度提出了更高的要求。专利
技术实现思路
本技术的目的是提供一种双频激光干涉仪，对现有双频激光干涉仪进行改进，以提高现有双频激光干涉仪的测量精度。本技术的基本思想是在一商品化双频激光干涉仪的基础上，采用一种简便的方法，在光路中增加一块反射镜，实现光学二细分，从而提高仪器的测试精度。本技术的技术解决方案如下：一种双频激光干涉仪，包括一双频激光器，在该激光器的输出光路上设置一偏振分光镜，该偏振分光镜的分光面与激光器的输出光路成45°，在该偏振分光镜反射光方向放置一固定角锥棱镜，透射方向是一移动角锥棱镜，在该偏振分光镜的输出光方向、双频激光器的同侧还有一探测器，其特征是在所述的偏振分光镜和探测器设有一反射镜，在双频激光器和偏振分光镜之间的光路上成45°放置一光束转换器和反射镜。本技术由于在光路中增加了一块反射镜，实现光学二细分，使该仪器的分辨率提高一倍，测试精度提高了一倍。附图说明：图1是现有的双频激光干涉仪结构示意图图2是本技术双频激光干涉仪结构示意图具体实施方式先请参阅图2，图2是本技术双频激光干涉仪结构示意图。由-->图可见，本技术双频激光干涉仪，包括一双频激光器4，在该激光器4的输出光路上设置一偏振分光镜2，该偏振分光镜2的分光面与激光器4的输出光路成45°，在该偏振分光镜2反射光方向放置一固定角锥棱镜5，透射方向是一移动角锥棱镜1，在该偏振分光镜2的输出光方向、双频激光器4的同侧还有一探测器3，其特征是在所述的偏振分光镜2和探测器3之间设有一反射镜6，在双频激光器4和偏振分光镜2之间的光路上成45°放置一光束转换器8和反射镜7。在偏振分光镜2如图所示位置增加一块光学反射镜6，使带有位移信息的测量光f2和参考光f1不再如图1所示直接进入探测器3，而是按原光路返回，通过45°光束转换器7和45°反射镜8后进入探测器3，通过增加了一块光学平面反射镜6，使测量光和参考光都往返走了两次，达到了光程差倍增之目的，使得新的测量系统的分辨率较原有的该商品化双频激光干涉仪分辨率提高了一倍，从而在相同测试条件下使得测试精度提高了一倍。利用对如图1所示的商品化双频激光干涉仪和如图2所示的本技术分别进行了500mm范围的静态定位精度测试试验。可移动的角锥棱镜1固定在具有很好隔振性能的导轨上，使被测量物处于十分稳定状态，避免由于被测量物体振动造成的误差。从0点开始，间隔为50mm，到500mm处，共11个测量点。每个测量点进行三次取样测试，每次取样测试由微机自动记录6个数据，取每个数据的时间间隔为0.35秒，因此每次测量的采样时间在2秒钟之内。在测试过程中，对影响测量精度的环境温度、大气压力、空气湿度以及测量载体的材料温度等环境因素的变化进行跟踪测量。实际上，在1.5秒到2秒时间范围之内，影响测量精度的环境温度、大气压力、空气湿度以及测量载体的材料温度的变化甚微，测量-->结果是可靠的。对如图1所示的商品化双频激光干涉仪和如图2所示的本技术分别进行的500mm范围静态定位精度测试试验，如上所述，分别得到33个定位精度误差，定位精度由每一组6个取样数据中的最大值减最小值，再除以2获得。上述二种情况下得到的66个数据，其定位精度误差都在10纳米之内，由于本技术的光程差增大了一倍，其测试结果要除以2，显然，本技术所得到的定位精度比原商品化双频激光干涉仪的测试结果提高了一倍。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种双频激光干涉仪，包括一双频激光器（４），在该激光器（４）的输出光路上设置一偏振分光镜（２），该偏振分光镜（２）的分光面与激光器（４）的输出光路成４５°，在该偏振分光镜（２）反射光方向放置一固定角锥棱镜（５），透射方向是一移动角锥棱镜（１），在该偏振分光镜（２）的输出光方向、双频激光器（４）的同侧还有一探测器（３），其特征是在所述的偏振分光镜（２）和探测器（３）之间设有一反射镜（６），在双频激光器（４）和偏振分光镜（２）之间的光路上成４５°放置一光束转换器（８）和反射镜（７）。

【技术特征摘要】
1、一种双频激光干涉仪，包括一双频激光器(4)，在该激光器(4)的输出光路上设置一偏振分光镜(2)，该偏振分光镜(2)的分光面与激光器(4)的输出光路成45°，在该偏振分光镜(2)反射光方向放置一固定角锥棱镜(5)，透射方向是一移动角锥棱镜(1...

【专利技术属性】
技术研发人员：程兆谷，高海军，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：实用新型
国别省市：31[中国|上海]