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组件尺寸的检测方法技术

技术编号:2509403 阅读:189 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术是有关于一种组件尺寸的检测方法,其主要是依序包含有将受测组件置于一进行循环转动的检测机台上的定位步骤、利用一检测器、一光束投射器,及一光感应器来侦测受测组件尺寸的侦测步骤,以及利用数值运算装置接收并比较运算前一步骤收集而来信号的数值比较分析步骤,透过自动化检测的方式,减少人工检验所可能产生的操作误差,并提升组件检测速率且操作便利,以及量测范围更广等功效。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种检测方法的设计,特别是指一种具有减少人工操作误差、能提升组件检测速率且操作便利,以及量测范围更广等功效的。
技术介绍
按,一般组件如螺丝等于检测长度或宽度等外形尺寸时,通常是将受测组件置于尺寸量测投影机的检测台上,利用设于检测台下方的灯源照射,使受测组件的影像可投影在设于检测台侧边的屏幕上,该屏幕表面并预设有基准坐标,藉使受测组件投影于屏幕后,操作人员仅需同时配合位移调整钮的微调,即可量测出受测组件的长度或宽度等外形尺寸;另外,操作人员亦可将特定外形图样(如成型于螺丝的螺头顶部而用以供起子工具伸置的凹槽形状或螺纹的牙形等等)预先绘制于透光纸上,并将该透光纸贴附于屏幕表面,俾使受测组件投影于屏幕后,操作人员可微调比对该受测组件的影像与预设图样。然而,习知尺寸量测投影机的量测方式于实用上仍存在亟待改善的缺失,兹详述如后1、量测上易造成误差因习知尺寸量测投影机是利用光线的投影,同时配合人工调整操作而达成,而此往往会受限于人员在对准过程产生的失误,亦即该受测组件影像与坐标刻度的基准线,因目视因素所产生的误差,而无法确实对准,相对地会造成量测数据产生误差。2、仅可量测外表形状而已,故使用上较为受限习知尺寸量测投影机的量测方式是利用光线投影方式,使受测组件外形显影于屏幕上,亦即对于受测组件表面的平面形状或凹陷结构(如孔槽等)则因光线无法穿透,因而无法量测,造成习知尺寸量测投影机的量测方式仅可量测外表形状而已,故使用上较为受限。3、检测速率慢习知尺寸量测投影机是以人工一一拿取受测组件至检测台上进行量测,且量测时仅能对单一受测组件进行量测,无法一次对多数受测组件进行量测,同时量测过程中必须针对所欲检测的尺寸加以调整检测台移动,故操作时间甚久且速度慢,易使操作者疲劳,甚至影响量测数据的准确度。
技术实现思路
因此,本专利技术的主要目的乃在于提供一种,使其具有减少人工操作误差、能提升组件检测速率且操作便利,以及量测范围更广等功效。于是,本专利技术,其主要是依序包含有定位步骤,是将受测组件置于一进行循环转动的检测机台上;侦测步骤,于检测机台侧依序设置有一检测器、一光束投射器,及一光感应器,该检测器一一侦测由该检测机台所带动通过的受测组件的影像信号,该光束投射器发射光线进入受测组件的孔洞中,而光线在到达孔洞底部后反射并由该光感应器接收;以及数值比较分析步骤,是利用一数值运算装置接收检测器所测得的影像信号及光感应器接收由组件孔洞所反射的光束回复信号,其中,该数值运算装置是包含有一具有记忆单元、运算单元的主机及一显示屏幕,该记忆单元内储存有多数受测组件的尺寸规格的数据或图形,而显示屏幕则由多数个光点构筑而成,藉此前述运算单元即根据显示于显示屏幕的影像所占的光点数量,而将光点数量与每一光点相距的距离相乘运算,以获得受测组件的尺寸数值,且将该数值显示于显示屏幕上,同时该受测组件的影像并与记忆单元内的受测组件标准尺寸规格默认值或图形相互比对,当二者相符时,则该受测组件即为所需的零件,否则予以剔除。采用上述方案后,本专利技术藉由该检测器动态取像,配合上该光束投射器、光感应器侦测孔槽的深度、宽度,最后利用该该数值运算装置的运算单元整合讯号及资料,与记忆单元中预先设定的规格尺寸作比对工作,并根据比对结果决定传动挡止件与顶推件其中一者完成筛选工作,整个过程不需要使用到任何人力,因此减少人工操作误差,同时提升组件检测速率且操作便利,此外,本专利技术更可以量测孔槽等以往习知检测方法所无法完成的工作,使得本专利技术兼具更广的使用范围,对于良品筛检有莫大的增进。附图说明下面通过较佳实施例及附图对本专利技术的进行详细说明,附图中图1是本专利技术一较佳实施例的流程图;图2是本专利技术一较佳实施例的构件布置示意图;图3是本专利技术一较佳实施例的受测组件侧视影像示意图。具体实施例方式首先,参阅图1所示,是为本专利技术一较佳实施例的流程图,如图所示,本实施例的检测方法依序包含有定位步骤11、侦测步骤12及数值比较分析步骤13等,兹就各步骤详细说明如后。参阅图2所示,于定位步骤11中,操作人员是将多数受测组件3(本实施例的受测组件3是以螺丝做说明)盛装于一落料桶20中,该落料桶20的出口处衔接一送料道21,以使受测组件3从送料道21一一排列输出,另于该送料道21另一端设有一输送装置22,该输送装置22是可用以接收送料道21所输出的受测组件3并予个别分离输送至一检测机台23,该检测机台23是立置于一机座24上且可旋转,且该检测机台23周缘并开设有多数个置物孔231,俾供受测组件3置放、转送,另外,该测机台24周围并如图中假想线所示设有一挡环232,藉以防止置物孔231中的受测组件3脱落,其中,该挡环232是可为透明状,再者,该测机台23上方并悬设有一顶推件25及一挡止件26。接着进行侦测步骤12,此步骤是利用一设于检测机台23侧边的检测器27侦测受测组件3的影像信号,以及一光束投射器28以光束投射受测组件3的端部31,且由光感应器29同步接收该光束投射后的回复信号,同时配合检测机台23的适时旋转,而使前一步骤置于检测机台23上的每一受测组件3的外形影像与端部31的孔槽311均能被检测器27、光束投射器28所迅速侦测。仍请参阅图2所示,于数值比较分析步骤13,是利用一数值运算装置4接收前一步骤检测器27所测得的受测组件3影像信号,及光束投射器28所输出的光束回复信号,其中,该数值运算装置4是包含有一具有记忆单元、运算单元的主机41及一显示屏幕42,该记忆单元内储存有多数受测组件3的标准尺寸规格的数据或图形,而显示屏幕42则由多数个光点构筑而成,亦即当数值运算装置4所接收到的受测组件3影像信号是如图3所示,则主机41内的运算单元即根据显示于显示屏幕42的影像所占的光点数量,而将光点数量与每一光点相距的距离相乘运算,以获得受测组件3的尺寸数值,如图3所示的影像信号的高度为h、端部31的直径为D、杆身32的直径为d、孔槽311的深度、宽度分别为P、Q,并令在该等h、D、d、P、Q范围内所占光点数分别为a、e、f、m、n,且令相邻两光点间的距离为b,则受测组件3的影像信号高度h即等于a、b的相乘数值(即h=a×b),其端部31直径D=e×b,而其杆身32直径d=f×b,与其孔槽311的深度P=m×b、宽度Q=n×b,且将该等h、D、d、P、Q的数值显示于显示屏幕42上,同时将该受测组件3的影像与记忆单元内所预存的标准尺寸规格默认值或图形相互比对,当二者相符时,则该符合规格的受测组件3将随检测机台23的持续转动直至受挡止件26挡止而落料并予另行收集,而不合尺寸规格的受测组件3亦会随检测机台23的持续转动直至对准顶推件27,而由主机41控制该顶推件25将该不合尺寸规格的受测组件3推移剔除,藉此减少人工操作误差、且能提升组件检测速率,以及操作便利等功效。是以,本专利技术于实用上是确实较习知尺寸量测投影机的量测方式具有功效增进之处1、减少人工操作误差由于本专利技术于量测受测组件3时,是利用检测器27侦测受测组件3的外型或再加上光束投射器28的光束投射,并由一数值运算装置4接收侦测信号或光束投射的回复信号,该数值运算装置4除了将该接收信号输出显示于一显示屏幕42上,同时并与预设于数值运算装置4内的受本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种组件尺寸的检测方法,其主要是依序包含有:定位步骤,是将受测组件置于一进行循环转动的检测机台上;侦测步骤,于检测机台侧依序设置有一检测器、一光束投射器,及一光感应器,该检测器一一侦测由该检测机台所带动通过的受测组件的影像信 号,该光束投射器发射光线进入受测组件的孔洞中,而光线在到达孔洞底部后反射并由该光感应器接收;以及数值比较分析步骤,是利用一数值运算装置接收检测器所测得的影像信号及光感应器接收由组件孔洞所反射的光束回复信号,其中,该数值运算装置是包含 有一具有记忆单元、运算单元的主机及一显示屏幕,该记忆单元内储存有多数受测组件的尺寸规格的数据或图形,而显示屏幕则由多数个光点构筑而成,藉此前述运算单元即根据显示于显示屏幕的影像所占的光点数量,而将光点数量与每一光点相距的距离相乘运算,以获得受测组件的尺寸数值,且将该数值显示于显示屏幕上,同时该受测组件的影像并与记忆单元内的受测组件标准尺寸规格默认值或图形相互比对,当二者相符时,则该受测组件即为所需的零件,否则予以剔除。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:杨明了
申请(专利权)人:杨明瞭
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]

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