离子浓度测定装置制造方法及图纸

本发明专利技术的目的在于，对于使用输出与离子浓度对应的电位的离子检测元件的离子浓度测定装置，抑制由存储器产生的噪声、热量对测定结果造成的影响。本发明专利技术的离子浓度测定装置具备收容有离子检测元件和存储器的盒，在除了取得离子检测元件所生成的电位的期间之外的期间，对上述存储器供电(参照图5)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】离子浓度测定装置
本专利技术涉及离子浓度测定装置。
技术介绍
作为分析溶液中的离子浓度的方法，有库伦滴定法、火焰光度法、离子选择性电极法等。离子选择性电极法仅通过将离子选择性电极与参比电极一起浸入试样溶液中即可定量试样中的离子浓度，因此广泛用于生物试样中的离子浓度的测定等。利用离子选择性电极法的离子浓度测定装置由于具有测定特别迅速且容易小型化、不需要丙烷气体等危险物质从而安全性高等优点，因此被组入至用于医院、检查中心等的临床检查用分析装置中来利用。在临床检查用分析装置中，为了减少医疗失误及在失误发生时尽快应对，需要记录与设备、使用条件等有关的信息(个体识别码、使用时间、使用状态等)。为了满足该要求，提出了在离子选择性电极的盒中安装用于记录这些信息的存储介质的方法(例如，专利文献1)。根据该方法，当设备发生故障时，通过将从故障设备中拆卸的盒更换到其它设备中，从而能够将记录在存储介质中的信息交接给更换后的设备继续进行测定。在使用专利文献1记载的方法时，需要在离子选择性电极的盒中设置半导体存储器等数据保存区域。在向该数据保存区域写入数据时会产生噪声和发热，从而可能会对要写入的数据产生影响。作为抑制写入数据时所产生的噪声的影响的方法，有使测定离子选择性电极的电位的时间与对存储器写入数据的时间彼此不重叠的方法(专利文献2)。现有技术文献专利文献专利文献1:WO2011/034170专利文献2:WO2017/029893
技术实现思路
专利技术要解决的课题在专利文献2记载的专利技术中，没有特别言及在不写入数据时如何控制半导体存储器。但是，在液膜型离子选择电极等具有高电阻部位的传感器中，即使在已停止对存储器写入数据的状态下，因开启存储器的电源而产生的噪声也会对计测结果造成影响。另外，在对半导体存储器供电的期间会从存储器产生发热，已知该热量也会对电位计测造成影响。本专利技术是鉴于上述课题而完成的，目的在于，对于使用输出与离子浓度对应的电位的离子检测元件的离子浓度测定装置，抑制由存储器产生的噪声、热量对测定结果造成的影响。用于解决课题的手段本专利技术的离子浓度测定装置具备收容离子检测元件和存储器的盒，在除了取得离子检测元件所生成的电位的期间之外的期间，对上述存储器供电。专利技术效果根据本专利技术的离子浓度测定装置，能够在利用使用离子选择性电极的测定方式的优点的同时，抑制由存储器产生的噪声、发热对测定结果所造成的影响。另外，可以通过拆卸盒而沿用存储于存储器内的数据。附图说明图1为实施方式1的离子浓度测定装置100所具备的盒101的正视图。图2为盒101的侧视图。图3为将盒101沿着图2的点划线I-I剖切的剖视图。图4为离子浓度测定装置100的概略构成图。图5为说明离子浓度测定装置100测定试样内的离子浓度的步骤的流程图。图6为实施方式2的离子浓度测定装置100所具备的盒101的剖视图。图7为说明在实施方式2中离子浓度测定装置100测定试样内的离子浓度的步骤的流程图。具体实施方式＜实施方式1＞图1为实施方式1的离子浓度测定装置100所具备的盒101的正视图。盒101具备内部电极102、流路103、通信线104。内部电极102为输出后述离子感应膜105所生成的电位的电极。流路103为供流体试样通过的贯通孔。通信线104与后述半导体存储器106连接。后述读写部118经由通信线104访问半导体存储器106而写入或读取数据。通信线104也用于对半导体存储器106供电。图2为盒101的侧视图。点划线I-I为后述图3的剖切线。盒101例如可以使用聚氯乙烯、聚苯乙烯、聚丙烯等树脂构成。图3为将盒101沿着图2的点划线I-I剖切的剖视图。流路103的一部分处设有切口，供流体试样流出。离子感应膜105以堵住所述切口的方式粘接于流路103。离子感应膜105以根据试样内的离子的类型及浓度而产生电动势的方式构成。离子感应膜105由氯乙烯/聚苯乙烯/聚丙烯等树脂、补充测定对象离子的被称为配体的化合物等构成。也可以使用使离子感应膜105塑化的增塑剂、用于排除抗衡离子的影响的脂溶性高的离子性化合物等。作为离子感应膜105，使用种类与待测定离子的类型对应的离子感应膜。例如，在测定钠时，使用对钠离子响应的感应膜，在测定钾时，使用对钾离子响应的感应膜。作为用于临床检查的离子浓度测定装置，多数情况下测定钠离子、钾离子、氯离子、钙离子、锂离子、磷酸根离子等。本实施方式1中说明测定钠离子、钾离子、氯离子的例子。在盒101内填充有内部凝胶107。内部电极102以与内部凝胶107接触的方式而被固定。若向流路103中导入试样，则与试样接触的离子感应膜105会产生与试样内的离子浓度对应的电动势。离子感应膜105通过内部凝胶107与内部电极102电导通，因此可以通过计测内部电极102所输出的电位来测定离子感应膜105的电动势变化。由此能够计算试样中的离子浓度。在盒101内的与内部凝胶107分隔的部位配置有半导体存储器106。通信线104与半导体存储器106连接，且从半导体存储器106延伸到盒101外。图4为离子浓度测定装置100的概略构成图。稀释槽108为用于稀释试样的构件。样品杯130保持试样。试样分注机构109向稀释槽108中分注试样。稀释液喷嘴110向稀释槽108中排出稀释液。内标液喷嘴111对稀释槽108排出内标液。吸引管嘴112将稀释后的试样及内标液从稀释槽108送往流路103。电极设置部113具备1个以上的与盒101同样的盒。这里，示出了如上所述那样具备Na检测盒120/K检测盒121/Cl检测盒122的例子。基准电位盒123也具备同样的构成，输出用于计测电位差的基准电位。电位计测部114计算各盒的内部电极102所输出的电位与基准电位盒123的内部电极102所输出的基准电位之间的差值。控制部115控制离子浓度测定装置100的各部，并且使用由电位计测部114得到的计测结果来计算试样内的各离子浓度。存储部116存储该计算结果。输出部117输出存储部116所存储的数据。读写部118将从控制部115收到的计算结果等数据写入各盒的半导体存储器、或从半导体存储器106读取数据。在测定试样内的离子浓度时，将各盒的内部电极102与电位计测部114连接，将通信线104和读写部118连接。流路103与吸引管嘴112连接。被吸引管嘴112抽吸的试样被送往各盒的流路103。各盒经由试样而电导通。电位计测部114以基准电位盒123所输出的电位为基准来计测各盒的内部电极102所输出的电位。控制部115避开由电位计测部114取得各盒的内部电极102所输出的电位的时机而对半导体存储器106供电。由此能够抑制半导体存储器106所产生的电噪声、发热对离子感应膜105的计测结果造成的影响。具体的动作步骤将使用后述的图5来说明。图5为说明离子浓度测定装置100测定试样内的离子浓度的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种离子浓度测定装置，其特征在于，其为测定溶液中所含的离子的浓度的离子浓度测定装置，具备：/n离子检测元件，其根据所述浓度生成第1电位；/n第1电极，其输出所述第1电位；/n存储器，其存储数据；/n读写器，其对所述存储器写入数据或从所述存储器读取数据；/n控制部，其使用所述第1电位计算所述浓度，/n所述离子检测元件和所述存储器被收容在第1盒中，/n所述存储器具备供给常规的电力的常规模式和抑制电力供给的待机模式，/n所述控制部在存储器访问期间将所述存储器设定为常规模式，所述存储器访问期间是除了所述控制部取得与所述第1电极所输出的所述第1电位对应的电位值的电位计测期间之外的期间，/n若所述存储器访问期间结束，则所述控制部将所述存储器设定为待机模式。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180306 JP 2018-0393441.一种离子浓度测定装置，其特征在于，其为测定溶液中所含的离子的浓度的离子浓度测定装置，具备：
离子检测元件，其根据所述浓度生成第1电位；
第1电极，其输出所述第1电位；
存储器，其存储数据；
读写器，其对所述存储器写入数据或从所述存储器读取数据；
控制部，其使用所述第1电位计算所述浓度，
所述离子检测元件和所述存储器被收容在第1盒中，
所述存储器具备供给常规的电力的常规模式和抑制电力供给的待机模式，
所述控制部在存储器访问期间将所述存储器设定为常规模式，所述存储器访问期间是除了所述控制部取得与所述第1电极所输出的所述第1电位对应的电位值的电位计测期间之外的期间，
若所述存储器访问期间结束，则所述控制部将所述存储器设定为待机模式。


2.根据权利要求1所述的离子浓度测定装置，其特征在于，
所述控制部在所述待机模式中切断对所述存储器的供电。


3.根据权利要求1所述的离子浓度测定装置，其特征在于，所述离子浓度测定装置还具备：
温度传感器，其测定所述离子检测元件的周边温度；
温度控制器件，其根据由所述温度传感器得到的检测结果调整所述离子检测元件的周边温度。


4.根据权利要求3所述的离子浓度测定装置，其特征在于，所述控制部在除了所述电位计测期间之外的温度控制期间，对所述温度传感器和所述温度控制器件供电，
若所述温度控制期间结束，则所述控制部切断对所述温度传感器和所述温度控制器件的供电。


5.根据权利要求1所述的离子浓度测定装置，其特征在于，所述读写器对所述存储器写入下述中的至少任一者：
所述浓度的计算结果、
计算出所述浓度的日期、时间、
所述离子检测元件的识别码、
所述离子检测元件的制造日、
所述离子检测元件的有效期、
所述离子检测元件的校准工序中的所述浓度的计算结果、
表示所述浓度的计算结果未落入基准范围内的警报历史。

【专利技术属性】
技术研发人员：三宅雅文，小野哲义，小泽理，池田宇亨，
申请(专利权)人：株式会社日立高新技术，
类型：发明
国别省市：日本;JP