一种成盒制程阶段的面板缺陷检测及分类系统技术方案

本发明专利技术公开了一种成盒制程阶段的面板缺陷检测及分类系统，包括前端服务单元、处理单元、判断单元和输出单元；处理单元统计单一光源图片中的发光单元像素数目并将单一光源图片输入预先构建好的面板基础缺陷检测模型得到单一光源图片的缺陷类别、缺陷位置坐标、缺陷面积和置信度；基于单一光源图片的缺陷类别、缺陷位置坐标、缺陷面积和置信度和统计的发光单元像素数目，按照面板缺陷判断规则确定对应的面板缺陷种类；再基于面板缺陷种类依据面板等级判断规则确定面板等级，实现了对面板缺陷的高效分类识别。将多光源细节图拆分为多个单一光源图片，将所有单一光源图片输入检测模型进行检测，有效解决了细节图的图片小且缺陷细微的问题；提升了工厂缺陷检测效率及准确率。

【技术实现步骤摘要】
一种成盒制程阶段的面板缺陷检测及分类系统
本专利技术涉及智能制造与人工智能
，具体涉及一种成盒制程阶段的面板缺陷检测及分类系统。
技术介绍
随着社会信息化的普及，作为信息显示和传播媒介的显示终端已发展成不可或缺的重要角色。液晶显示屏因其功耗低、体积小、清晰度高、失真度低等优点，成为智能手机，个人电脑，智能手表，数码相机，大屏电视等大部分显示终端设备。随着需求量与竞争压力的不断增加，行业迫切需要液晶屏生产流程中更加稳定高效的缺陷检测技术。Cell作为液晶屏生产制程的三阶段之一，包含工序最复杂，是故障和缺陷的频发阶段。近些年，由于机器视觉领域的快速发展，采用自动光学检测(AOI)技术辅助传统人工质检的方式进行面板缺陷检测与分类已是工厂生产中必不可少的一道环节；而在缺陷检测环节中又因为细节图的图片小且缺陷细微的问题导致对细节图的分类准确率低；同时人工质检过程中因人眼结构差异、情绪状态、疲劳等造成的检测结果不稳定及判断标准难以统一和量化；使得细节图的检测存在准确率低、效率低的问题。如何高效、快速、精准的解决细节图的缺陷检测问题迫在眉睫。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是：现有缺陷检测环节中因为细节图的图片小且缺陷细微的问题，导致对细节图的分类准确率低；同时人工质检过程中因人眼结构差异、情绪状态、疲劳等造成的检测结果不稳定的问题及判断标准难以统一和量化；使得细节图的检测存在准确率低、效率低的问题。为解决上述技术问题。本专利技术通过下述技术方案实现：本专利技术提供一种成盒制程阶段的面板缺陷检测及分类系统，其特征在于，包括：前端服务单元、处理单元、判断单元和输出单元；前端服务单元为处理单元提供面板多光源细节图数据；处理单元接收前端服务单元提供的面板多光源细节图数据后预处理该数据，得到多个单一光源图片数据；处理单元统计单一光源图片数据中的发光单元像素数目，并将单一光源图片输入预先构建好的面板基础缺陷检测模型得到单一光源图片的基础缺陷检测结果，所述基础缺陷检测结果包括：缺陷类别、缺陷位置坐标、缺陷面积和置信度；判断单元基于单一光源图片的基础缺陷检测结果和统计的发光单元像素数目，按照面板缺陷判断规则确定对应的面板缺陷种类；判断单元再根据面板缺陷种类依据面板等级判断规则确定面板等级；面板等级按照严重度依次递减分为：NG，RP，RL，Y0，Y1；输出单元输出面板等级和该等级对应的面板缺陷种类和基础缺陷检测结果。本方案工作原理：在成盒制程阶段的缺陷检测中，检测工序复杂，面板缺陷种类由多个不同光源画面的基础缺陷共同决定，并且构成面板缺陷的基础缺陷在不同光源下表现不尽相似，本技术方案结合多画面检测结果分析面板缺陷分类。由前端服务单元为处理单元提供面板多光源细节图数据。处理单元统计单一光源图片中的发光单元像素数目，同时将单一光源图片输入预先构建好的面板基础缺陷检测模型得到单一光源图片的缺陷类别、缺陷位置坐标、缺陷面积和置信度；根据单一光源图片的缺陷类别、缺陷位置坐标、缺陷面积、置信度和统计的发光单元像素数目等多维数据基础，按照面板缺陷判断规则确定对应的面板缺陷种类；再基于面板缺陷种类依据面板等级判断规则确定面板等级，实现对面板缺陷的高效分类识别。本技术方案将面板中的所有缺陷检出，结合面板缺陷类别、尺寸和数量，最终判断出整张面板的工业等级，同时输出该等级下对应的面板缺陷种类和基础缺陷检测结果；很好的解决了细节图检测方面的准确率问题得到很好的解决，在面板缺陷分类方面具有标准化、效率高、全天候工作的优势，由检测模型设备替代了人工，有效的避免了工人质检问题，提升工厂缺陷检测效率及准确率。进一步优选方案为，前端服务单元采集面板成盒制程阶段生产线上的缺陷细节图数据并解析得到面板多光源细节图数据；针对细节图的图片本身小且缺陷细微的问题，本技术方案将细节图拆分为多个单一光源图片，将所有单一光源图片输入检测模型检测，进一步精确细节图细微的缺陷，更容易识别；拆分的每一个单一光源图片都可以参与面板基础缺陷检测模型中进行检测，从而改善细节图的分类准确率低问题。进一步优选方案为，所述面板多光源细节图数据包括：细节图截取位置、细节图截取尺寸和面板中的细节图数量。进一步优选方案为，处理单元对面板多光源细节图数据的预处理过程为：首先将多光源细节图拆分为多个单一光源图片，再重新组装单一光源图片的路径和图片名，最后读取各单一光源图片数据。所述面板缺陷种类包括：面板点类缺陷，面板线类缺陷；对于面板点类缺陷，要求在多个灰阶和黒阶光源图片中检测出点类基础缺陷，并且发光单元像素数目不低于1个；对于面板线类缺陷，要求在多个灰阶光源图片中检测出线类缺陷，并且发光单元像素数目不低于15个。所述面板等级判断规则包括：对于面板线类缺陷，在整张面板中出现次数低于5次，判为Y0；在整张面板中出现次数大于5次低于7次，判为RL；在整张面板中出现次数大于7次，则判为NG；对于面板点类缺陷，面板中所有点类缺陷发光单元像素数目总和低于10个，判为Y0；面板中所有点类缺陷发光单元像素数目总和大于10个小于15个，判为RP；面板中所有点类缺陷发光单元像素数目总和在15个以上，判为NG。判断单元根据单一光源图片的基础缺陷检测结果和统计的发光单元像素数目，按照面板缺陷判断规则，解析面板缺陷在不同光源画面下的基础缺陷表现形式，以及对应基础缺陷的发光单元像素数目范围，比对处理单元获得的单一光源图片的基础缺陷检测结果和统计的发光单元像素数目，确定对应的面板缺陷种类，对于面板点类缺陷，要求在多个灰阶和黒阶光源图片中检测出点类基础缺陷，并且发光单元像素数目不低于1个，对于面板线类缺陷，要求在在多个灰阶光源图片中检测出线类缺陷，并且发光单元像素数目不低于15个；判断单元再根据面板缺陷种类依据面板等级判断规则确定面板等级，面板等级按照严重度依次递减分为：NG，RP，RL，Y0，Y1；其中NG表示整张面板报废处理，Y1表示面板通过检测，RP，RL，Y0分别对应工厂流水线中的不同报修流程；不同的面板缺陷对应不同的面板等级，相同的面板缺陷也会对应不同的面板等级，区别在于，相同面板缺陷，根据其在整张面板出现的次数和对应的发光单元像素数目，会导致不同的面板等级，对于面板线类缺陷，在整张面板中出现次数低于5次，判为Y0，大于5次低于7次，判为RL，大于7次，则判为NG，对于面板点类缺陷，所有该类缺陷发光单元像素数目总和低于10个，判为Y0，大于10个小于15个，判为RP，15个以上，判为NG；进一步优选方案为，还包括存储单元，存储单元用于存储面板基础缺陷检测模型、整理面板基础缺陷检测模型输出的输出结果并保存。本专利技术还提供一种盒制程阶段的面板基础缺陷检测模型构建方法，具体步骤包括：S1、采集流水线上面板缺陷细节图数据并样本化处理该数据；S2、利用样本化处理后的数据训练及迭代面板基础缺陷检测模型；S3、输出训练后的面板基础缺陷检测模型。...

【技术保护点】
1.一种成盒制程阶段的面板缺陷检测及分类系统，其特征在于，包括：前端服务单元、处理单元、判断单元和输出单元；/n前端服务单元为处理单元提供面板多光源细节图数据；/n处理单元接收前端服务单元提供的面板多光源细节图数据后预处理该数据，得到多个单一光源图片数据；/n处理单元统计单一光源图片数据中的发光单元像素数目，并将单一光源图片输入预先构建好的面板基础缺陷检测模型得到单一光源图片的基础缺陷检测结果，所述基础缺陷检测结果包括：缺陷类别、缺陷位置坐标、缺陷面积和置信度；/n判断单元基于单一光源图片的基础缺陷检测结果和统计的发光单元像素数目，按照面板缺陷判断规则确定对应的面板缺陷种类；判断单元再根据面板缺陷种类依据面板等级判断规则确定面板等级；面板等级按照严重度依次递减分为：NG，RP，RL，Y0，Y1；/n输出单元输出面板等级和该面板等级对应的面板缺陷种类和基础缺陷检测结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种成盒制程阶段的面板缺陷检测及分类系统，其特征在于，包括：前端服务单元、处理单元、判断单元和输出单元；
前端服务单元为处理单元提供面板多光源细节图数据；
处理单元接收前端服务单元提供的面板多光源细节图数据后预处理该数据，得到多个单一光源图片数据；
处理单元统计单一光源图片数据中的发光单元像素数目，并将单一光源图片输入预先构建好的面板基础缺陷检测模型得到单一光源图片的基础缺陷检测结果，所述基础缺陷检测结果包括：缺陷类别、缺陷位置坐标、缺陷面积和置信度；
判断单元基于单一光源图片的基础缺陷检测结果和统计的发光单元像素数目，按照面板缺陷判断规则确定对应的面板缺陷种类；判断单元再根据面板缺陷种类依据面板等级判断规则确定面板等级；面板等级按照严重度依次递减分为：NG，RP，RL，Y0，Y1；
输出单元输出面板等级和该面板等级对应的面板缺陷种类和基础缺陷检测结果。


2.根据权利要求1所述的一种成盒制程阶段的面板缺陷检测及分类系统，其特征在于，前端服务单元采集面板成盒制程阶段生产线上的缺陷细节图数据并解析得到面板多光源细节图数据。


3.根据权利要求2所述的一种成盒制程阶段的面板缺陷检测及分类系统，其特征在于，所述面板多光源细节图数据包括：细节图截取位置、细节图截取尺寸和面板中的细节图数量。


4.根据权利要求1所述的一种成盒制程阶段的面板缺陷检测及分类系统，其特征在于，处理单元对面板多光源细节图数据的预处理过程为：首先将多光源细节图拆分为多个单一光源图片数据，再重新组装单一光源图片数据的路径和图片名，最后读取各单一光源图片数据。


5.根据权利要求1所述的一种成盒制程阶段的面板缺陷检测及分类系统，其特征在于，
所述面板缺陷种类包括：面板点类缺陷，面板线类缺陷；
对于面板点类缺陷，要求在多个灰阶和黒阶光源图片中检测出点类基础缺陷，并且发光单元像素数目不低于1个；
对于面板线类缺陷，要求在多个灰阶光源图片中检...

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：成都数之联科技有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51