一种颗粒物检测器及具有其的检测系统技术方案

技术编号:25069184 阅读:32 留言:0更新日期:2020-07-29 06:00
本实用新型专利技术提供了一种颗粒物检测器及具有其的检测系统,其中,颗粒物检测器包括粉尘腔体、光发射组件、光接收组件、样气进管、样气出管、第一吹扫组件以及第二吹扫组件;第一吹扫组件引入的气体用于吹扫光发射组件的光发射窗口上附着的污染物;第二吹扫组件引入的气体用于吹扫光接收组件的光接收窗口附着的污染物。光发射组件的光发射窗口上附着的污染物可通过第一吹扫组件去除,光接收组件的光接收窗口附着的污染物可通过第二吹扫组件去除,结构简单,第一吹扫组件以及第二吹扫组件能够引入气体即可实现附着污染物的去除,能够有效简便地清除污染物,并且保持检测装置结构简单体积小的特性,在需要去除污染物时通入气体即可,是颗粒物检测器的维护极为简单方便。

【技术实现步骤摘要】
一种颗粒物检测器及具有其的检测系统
本技术涉及颗粒物检测领域,尤其是涉及一种颗粒物检测器及具有其的检测系统。
技术介绍
目前我国大气污染的主要来源是工业锅炉燃烧产生的烟尘。烟尘浓度排放监测对环境保护意义重大。空气、烟气颗粒物检测器,多数基于光学散射或反射检测原理,如红外光反射、激光反射、激光散射等,广泛应用于灰尘检测、空气质量监测等领域,通常将气体送入光室,经过光源照射,光学传感器通过光学镜头检测颗粒物的体积。检测装置体积小,检测速度快,能够自动运行,然而该类检测装置的光学镜头容易积尘受到污染,导致检测性能下降,从而导致检测结果发生偏移出现误差,需要定期进行清理维护。而对于颗粒物检测器来说,其有效使用周期及维护时间是评价其性能的一项重要指标。中国专利申请CN106644845A虽然公开了一种用于空气颗粒物光学检测的光室,能够利用维护仓的清洁装置对光学镜头进行清洁操作,然而其结构复杂、制造成本高,消弭了光学颗粒物检测器体积小的优点。如何更为有效简便地清除污染物,并且保持其结构简单体积小的特性,是本领域亟待解决的问题。
技术实现思路
本技术提供了一种颗粒物检测器,所述颗粒物检测器包括粉尘腔体、光发射组件、光接收组件、样气进管、样气出管、第一吹扫组件以及第二吹扫组件;所述第一吹扫组件引入的气体用于吹扫所述光发射组件的光发射窗口上附着的污染物;所述第二吹扫组件引入的气体用于吹扫所述光接收组件的光接收窗口附着的污染物。在其中的一个实施例中,所述第一吹扫组件包括第一吹气管,所述第一吹气管的一端与所述光发射组件的光发射窗口对应设置,所述第一吹气管的另一端用于连接气源;所述第而吹扫组件包括第二吹气管,所述第二吹气管的一端与所述光接收组件的光接收窗口对应设置,所述第二吹气管的另一端用于连接气源。在其中的一个实施例中,所述样气进管以及所述样气出管将所述粉尘腔体与外界连通;所述样气进管以及所述样气出管相对设置在所述粉尘腔体的腔壁上,使样气在水平方向上呈直线通过所述粉尘腔体。在其中的一个实施例中,所述粉尘腔体的底部的水平位置低于所述光发射组件的光发射窗口以及所述光接收组件的光接收窗口。在其中的一个实施例中,所述样气出管所在的粉尘腔体的腔壁为漏斗状腔壁。在其中的一个实施例中,所述粉尘腔体与样气通过路径垂直的任意截面相同。在其中的一个实施例中,所述光发射组件的光源为调制光。在其中的一个实施例中,所述第一吹气管与所述样气入口设置在所述粉尘腔体的同一侧。本技术还提供了一种检测系统,所述检测系统包括如上所述的颗粒物检测器。采用了上述技术方案,本技术的有益效果为:光发射组件的光发射窗口上附着的污染物可通过第一吹扫组件去除,光接收组件的光接收窗口附着的污染物可通过第二吹扫组件去除,第一吹扫组件以及第二吹扫组件结构简单,第一吹扫组件以及第二吹扫组件能够引入气体即可实现附着污染物的去除,能够有效简便地清除污染物,并且保持检测装置结构简单体积小的特性,在需要去除污染物时通入气体即可,是颗粒物检测器的维护极为简单方便。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术颗粒物检测器一实施例的立体示意图。图2为图1所示颗粒物检测器的主视图;图3为图2所示颗粒物检测器的A-A剖视图;图4为图1所示颗粒物检测器的左视图;图5为图4所示颗粒物检测器的B-B剖视图;图6为图1所示颗粒物检测器的去掉附加组件的粉尘腔体结构示意图;其中,100-粉尘腔体;110-腔体盖;120-漏斗状腔壁;200-光发射组件;210-光源;220-光发射窗口;300-光接收组件;310-检测器;320-光接收窗口;400-样气进管;500-样气出管;600-第一吹扫组件;700-第二吹扫组件;800-光陷阱。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。请参阅图1至图6所示,本技术一实施例的粒物检测装置包括粉尘腔体100、光发射组件200、光接收组件300、样气进管400、样气出管500、第一吹扫组件600和第二吹扫组件700。其中,所述第一吹扫组件600引入的气体用于吹扫所述光发射组件200的光发射窗口220上附着的污染物;所述第二吹扫组件700引入的气体用于吹扫所述光接收组件300的光接收窗口320附着的污染物。光发射组件200的光发射窗口220上附着的污染物可通过第一吹扫组件600去除,光接收组件300的光接收窗口320附着的污染物可通过第二吹扫组件700去除,第一吹扫组件600以及第二吹扫组件700结构简单,第一吹扫组件600以及第二吹扫组件700能够引入气体即可实现附着污染物的去除,能够有效简便地清除污染物,并且保持检测装置结构简单体积小的特性,在需要去除污染物时通入气体即可,是颗粒物检测器的维护极为简单方便。作为一种可选实施方式,所述第一吹扫组件600包括第一吹气管,所述第一吹气管的一端与所述光发射组件200的光发射窗口220对应设置,所述第一吹气管的另一端用于连接气源。所述第而吹扫组件包括第二吹气管,所述第二吹气管的一端与所述光接收组件300的光接收窗口320对应设置,所述第二吹气管的另一端用于连接气源。可选地,第一吹气管的一端倾斜地设置在位于光发射窗口220上方的粉尘腔体100的腔壁上,通过第一吹气管出入的气体以去除附着在光发射窗口220上的污染物;同理,第二吹气管的一端倾斜地设置在位于光接收窗口320上方的粉尘腔体100的腔壁上,通过第二吹气管出入的气体以去除附着在光接收射窗口上的污染物。本技术的专利技术思路是通过在粉尘腔体100上设置第一吹气管和第二吹气管,从而利用第一吹气管和第二吹气管引入气体,吹落附着的污染物,从而实现清除附着在光发射窗口220、光接收窗口320上的污染物,结构简单,无需复杂的清除污染物的组件即可实现其自身免污染的目的,既能够减少污染和维护频率,增长有效使用周期,又能够避免结构过于复杂,使其保持体积的便捷性特点。可选地,光发射组件200包括光发射组件200光纤接口、光源210、光发射窗口220等部件,其中,光发射窗口220设置在光发射组件200的其一端,是光源210从其进入粉尘腔体100的窗口,其位于粉尘腔体100中,由于其易被污染从而降低了颗粒物检测器的检测准确度。可选地,光源210可以是激光光源210。在其他实施例中,也可以选用其他可以本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种颗粒物检测器,其特征在于,所述颗粒物检测器包括粉尘腔体(100)、光发射组件(200)、光接收组件(300)、样气进管(400)、样气出管(500)、第一吹扫组件(600)以及第二吹扫组件(700);所述第一吹扫组件(600)引入的气体用于吹扫所述光发射组件(200)的光发射窗口(220)上附着的污染物;所述第二吹扫组件(700)引入的气体用于吹扫所述光接收组件(300)的光接收窗口(320)附着的污染物。/n

【技术特征摘要】
1.一种颗粒物检测器,其特征在于,所述颗粒物检测器包括粉尘腔体(100)、光发射组件(200)、光接收组件(300)、样气进管(400)、样气出管(500)、第一吹扫组件(600)以及第二吹扫组件(700);所述第一吹扫组件(600)引入的气体用于吹扫所述光发射组件(200)的光发射窗口(220)上附着的污染物;所述第二吹扫组件(700)引入的气体用于吹扫所述光接收组件(300)的光接收窗口(320)附着的污染物。


2.根据权利要求1所述的颗粒物检测器,其特征在于,所述第一吹扫组件(600)包括第一吹气管,所述第一吹气管的一端与所述光发射组件(200)的光发射窗口(220)对应设置,所述第一吹气管的另一端用于连接气源;所述第二吹扫组件包括第二吹气管,所述第二吹气管的一端与所述光接收组件(300)的光接收窗口(320)对应设置,所述第二吹气管的另一端用于连接气源。


3.根据权利要求1所述的颗粒物检测器,其特征在于,所述样气进管(400)以及所述样气出管(500)将所述粉尘腔体(100)与外界连通;所述样气进管(400)以及...

【专利技术属性】
技术研发人员:于志伟袁超高鹏飞廖义雷王大伟盛润坤
申请(专利权)人:杭州春来科技有限公司
类型:新型
国别省市:浙江;33

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