一种红外喷标替代磁粉人工查找缺陷定位的方法技术

本发明专利技术公开了一种红外喷标替代磁粉人工查找缺陷定位的方法，首先将试件放置到加热装置上进行加热，待试件加热到指定温度之后送入检测装置处；然后检测装置通过红外扫描试件表面的方式检测试件，并把检测到试件呈现的温度梯度变化形成数据信号，数据信号输出至分析应用软件，分析应用软件测算出缺陷位置以及缺陷深度，分析应用软件再根据缺陷深度对比系统设置深度识别要求进行喷标标识，探伤速度比常规的漏磁检测速度要快50％；试件与检测器非接触式的，不需要增加额外的矫直设备，降低设备成本，并且非接触式减少设备的磨损，降低维修成本。

【技术实现步骤摘要】
一种红外喷标替代磁粉人工查找缺陷定位的方法
本专利技术涉及钢铁探伤领域，特别涉及一种红外喷标替代磁粉人工查找缺陷定位的方法。
技术介绍
磁粉探伤是传统的缺陷检测方法，其原理是利用工件缺陷处的漏磁场与磁粉的相互作用的方法，它利用了钢铁制品表面和近表面缺陷(如裂纹，夹渣，发纹等)磁导率和钢铁磁导率的差异，磁化后这些材料不连续处的磁场将发生崎变，形成部分磁通泄漏处工件表面产生了漏磁场，从而吸引磁粉形成缺陷处的磁粉堆积--磁痕，在适当的光照条件下，显现出缺陷位置和形状，再由人工标识。存在人工漏标识、工作强度大、不能很好识别缺陷深度、效率低下等缺点。
技术实现思路
专利技术目的：本专利技术的目的是提供一种红外喷标替代磁粉人工查找缺陷定位的方法，取代常规的漏磁检测方法。技术方案：本专利技术所述的一种红外喷标替代磁粉人工查找缺陷定位的方法，包括以下步骤步骤1，将试件放置到加热装置上进行加热，待试件加热到指定温度之后送入检测装置处；步骤2，检测装置通过红外扫描试件表面的方式检测试件，并把检测到试件呈现的温度梯度变化形成数据信号，数据信号输出至分析应用软件，分析应用软件测算出缺陷位置以及缺陷深度，分析应用软件再根据缺陷深度对比系统设置深度识别要求进行喷标标识。进一步的，在将试件放置到加热装置上进行加热之前，对试件表面进行抛丸处理，待试件抛丸处理之后，对试件表面进行喷淋处理，以去除试件表面上氧化层和碎屑。进一步的，检测装置包括用于间隔设置若干台摄像机的检测器以及含有步骤2中的分析应用软件的计算机操作台，检测器向计算机操作台的分析应用软件输出数据；若干台摄像机扫描角度整体和应不小于360度，且单台摄像机的扫描角度不小于90度。进一步的，检测器具有冷却功能，检测器的冷却方式为风冷，并且试件在经过检测器时先经过冷却再被摄像机扫描。进一步的，检测器前端和后端均设置有送辊机，送辊机用于运输试件，检测器通过送辊机实现了非接触的方式检测试件。有益效果：本专利技术与现有技术相比：探伤速度比常规的漏磁检测速度要快50％；试件与检测器非接触式的，不需要增加额外的矫直设备，降低设备成本，并且非接触式减少设备的磨损，降低维修成本。附图说明图1是红外喷标替代磁粉人工查找缺陷定位的说明图。具体实施方式如图1所示，一种红外喷标替代磁粉人工查找缺陷定位的方法，首先，在将直径50-200mm，长度3-12m试件放置到加热装置上进行加热之前，对试件表面进行抛丸处理，待试件抛丸处理之后，对试件表面进行喷淋处理，以去除试件表面上氧化层和碎屑；然后，将试件以最低检测速度0.3m/s，最快1.5m/s输送到加热装置上进行加热，待试件加热到0-50℃之间任一恒定温度之后送入检测装置处，然后，感应加热量子式红外检测装置通过红外扫描试件表面的方式检测试件，把检测到试件呈现的温降过程中温度梯度变化形成数据信号，数据信号输出至分析应用软件，分析应用软件依据自身存储的温降梯度与缺陷深度、位置之间的数据模型，测算出缺陷位置以及深宽长超过0.2*0.2*15mm缺陷，分析应用软件再根据缺陷深度对比系统设置深度识别要求进行喷标标识。其中检测装置包括用于间隔设置若干台摄像机的检测器以及含有的分析应用软件的计算机操作台，检测器向计算机操作台的分析应用软件输出数据；若干台摄像机扫描角度整体和应不小于360度，且单台摄像机的扫描角度不小于90度。为了更好在分析应用软件上获得比较直观的且对比度较大的图像，检测器具有冷却功能，检测器的冷却方式为风冷，并且试件在经过检测器时先经过冷却再被摄像机扫描。因为试件经过冷却之后，试件表面温度降低较快，缺陷处的温度降低较慢，因此，凹陷处的温度数据在分析应用软件上形成的图像比较直观且对比度大，提高筛选的精度。为了使检测器非接触的方式测试试件，检测器前端和后端均设置送辊机，送辊机用于运输试件。试件与检测器非接触式的，不需要增加额外的矫直设备，降低设备成本，并且非接触式减少设备的磨损，降低维修成本。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种红外喷标替代磁粉人工查找缺陷定位的方法，其特征在于包括以下步骤/n步骤1，将试件放置到加热装置上进行加热，待试件加热到指定温度之后送入检测装置处；/n步骤2，检测装置通过红外扫描试件表面的方式检测试件，并把检测到试件呈现的温度梯度变化形成数据信号，数据信号输出至分析应用软件，分析应用软件测算出缺陷位置以及缺陷深度，分析应用软件再根据缺陷深度对比系统设置深度识别要求进行喷标标识。/n

【技术特征摘要】
1.一种红外喷标替代磁粉人工查找缺陷定位的方法，其特征在于包括以下步骤
步骤1，将试件放置到加热装置上进行加热，待试件加热到指定温度之后送入检测装置处；
步骤2，检测装置通过红外扫描试件表面的方式检测试件，并把检测到试件呈现的温度梯度变化形成数据信号，数据信号输出至分析应用软件，分析应用软件测算出缺陷位置以及缺陷深度，分析应用软件再根据缺陷深度对比系统设置深度识别要求进行喷标标识。


2.根据权利要求1所述的一种红外喷标替代磁粉人工查找缺陷定位的方法，其特征在于在步骤1中，在将试件放置到加热装置上进行加热之前，对试件表面进行抛丸处理，待试件抛丸处理之后，对试件表面进行喷淋处理，以去除试件表面上氧化层和碎屑。


3.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊兵，魏鹏，黄昊，仇必宁，李桂元，孙昌松，陈建，
申请(专利权)人：南京钢铁股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32