一种封装芯片金线检测方法技术

本发明专利技术公开了一种封装芯片金线检测方法，包括以下步骤：S1、采集标准芯片图；S2、使用动态阈值提取算法提取标准芯片图的金线区域，计算出标准芯片图的金线面积；S3、采集测试图片，计算出测试图片的金线面积；S4、若测试图片的金线面积为0，则样品不合格，判别为未打线；若测试图片的金线面积大于0，则进入下一步；S5、通过标准芯片图上标志点定位出测试图的金线精确区域，并根据测试图的金线精确区域获得测试图上金线的像素点矩阵集合；S6、根据测试图上金线的像素点矩阵集合提取测试图片上金线区域的缺陷特征，根据缺陷特征判断芯片的金线是否合格。其能够精确定位金线，并对其做缺陷检测，检测精度高。

【技术实现步骤摘要】
一种封装芯片金线检测方法
本专利技术涉及金线检测
，具体涉及一种封装芯片金线检测方法。
技术介绍
随着集成电路的飞速发展，先进封装技术在不断发展变化，来适应各种半导体新工艺和材质的苛刻要求和挑战。封装芯片与外界进行物理连接，确保芯片能够与外界的输入、输出正确响应，成为整个封装过程中的关键。而引线键合技术是目前主导的封装方式，市场上90％以上的芯片与外部封装体之间的互连方式都是采用的这种工艺。芯片金线行业中称为“Bonding”，而完成这项工艺的机器就是键合机，俗称“打线机”。虽然现有的封装技术很完善也很先进，但不能完全避免不会有瑕疵品的产生，而瑕疵品一旦出货到客户端，就是严重的质量事故，随之而来的是严重的客诉和巨额罚款。所以封装工艺完成之后需要对金线进行检测，检查是否有错打线，断线，未打线，重复打线，漏打线，线残留，碰线，线间距不足，金线弯曲度这些异常不良品。目前封装芯片的检测基本都是人工检测，而人工目视极易疲劳，检测效果差，工作时间也受限制；大型的封装公司往往需要培养大量的专业检验人员以应对与日俱增，复杂程度高的封装检测需求，培养成本高昂，行业内部竞争激烈，人员也容易流失。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种封装芯片金线检测方法，其能够精确定位金线，并对其做缺陷检测，检测精度高。为了解决上述技术问题，本专利技术提供了一种封装芯片金线检测方法，包括以下步骤：S1、采集标准芯片图，选取标准芯片图上标志点，计算所述标志点的坐标(R1，C1)以及角度(Phi)；S2、使用动态阈值提取算法提取标准芯片图的金线区域G_ROI，计算出标准芯片图的金线面积G_Area；S3、采集测试图片，使用动态阈值提取算法提取测试图片的金线区域，计算出测试图片的金线面积G_Area1；S4、若测试图片的金线面积G_Area1为0，则样品不合格，判别为未打线；若测试图片的金线面积G_Area1大于0，则进入下一步；S5、通过标准芯片图上标志点定位出测试图的金线精确区域G_ROI2，并根据测试图的金线精确区域G_ROI2获得测试图上金线的像素点矩阵集合[Qx[i],Qy[i]]；S6、根据测试图上金线的像素点矩阵集合[Qx[i],Qy[i]]提取测试图片上金线区域的缺陷特征，根据缺陷特征判断芯片的金线是否合格。作为优选的，所述S6包括：提取测试图片上金线弯曲度特征，判断芯片上的金线弯曲度是否合格。作为优选的，所述“提取测试图片上金线弯曲度特征，判断芯片上的金线弯曲度是否合格”，具体包括：建立金线关于行和列数据集的离散函数f(r,c)，则对应的金线边缘梯度函数为令得到边缘点集(r,c)；按列排序得到金线左侧边缘点集(rl,cl)和右侧边缘点集(rr,cr)，利用公式计算得到金线中心散点坐标集合(rm,cm)；代入最小二乘法公式求得a、b使得E的值最小，得到直线L：ci＝ari+b；将金线中心散点坐标集合(rm,cm)代入直线L，若点都在直线L上，则金线弯曲度合格；若有点不满足直线L，则判断金线弯曲。作为优选的，所述S6中“提取测试图片上金线弯曲度特征，判断芯片上的金线弯曲度是否合格”之前还包括：判断测试图片上的金线偏移量是否合格；判断测试图片上金线的个数是否合格；判断测试图片上金线是否重复打线；判断测试图片上金线是否有断线。作为优选的，所述“判断测试图片上的金线偏移量是否合格”，具体包括：计算测试图上单个金线相对于标准芯片图上单个金线的位置偏移量ΔX；将位置偏移量ΔX与预定偏移阈值相比较，若ΔX小于预定偏移阈值，则金线偏移量合格，若ΔX大于预定偏移阈值，则金线偏移量不合格。作为优选的，所述“判断测试图片上金线是否重复打线”，具体包括：计算测试图上单根金线的线宽Lh；设定偏差范围，判断线宽Lh是否在偏差范围内，若线宽Lh在偏差范围内，则金线未重复打线，若线宽不在偏差范围内，则金线重复打线。作为优选的，所述S5具体包括：根据公式1和公式计算出测试图片的金线精确区域G_ROI2，其中，tx、ty分别代表标志点的像素点坐标，R00代表cos(Phi)，R01代表-sin(Phi)，R10代表-R01，R11代表cos(Phi)，(R2，C2)为G_ROI2的每个像素点的像素值，[Px[i],Py[i]]为G_ROI2像素点像素值矩阵集合；根据求得测试图片的金线优化区域的像素点矩阵集合[Qx[i],Qy[i]]。作为优选的，所述S5与S6之间还包括：对测试图的金线区域图进行预处理以增加金线区域的亮度和消除背景干扰。作为优选的，所述“增加金线区域的亮度”，具体包括：通过图像乘法运算增加金线亮度，G1＝(g11+g21)*Mult1+Add1，其中g11为标准芯片图金线区域灰度值，g21为测试图像金线区域对应的灰度值，Mult1为乘数，Add1为加数，-255≤Mult1≤255，-512≤Add1≤512，G1为亮度增加后的金线区域灰度值。作为优选的，所述“消除背景干扰”，具体包括：通过图像除法运算，运算以后灰度值上下溢出的都会被切除，最大值为255，最小值为0，计算公式为：G2'＝G1*g11*Mult2+Add2，其中g11为标准芯片图的金线区域对应的灰度值，Mult2为乘数，Add2为加数，-255≤Mult2≤255，-512≤Add2≤512，G2'为做图像除法运算后的金线区域灰度值。本专利技术的有益效果：1、本专利技术能够精确定位金线，并对其做缺陷检测，检测精度高，最高可达1.2um，数据精确。2、本专利技术算法易用，可推广，维护成本低。3、本专利技术可替代人工检测，检测速度快，可达0.4S/Die。附图说明图1为本专利技术的封装芯片金线检测方法的流程图。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本专利技术并能予以实施，但所举实施例不作为对本专利技术的限定。参照图1所示，本专利技术公开了一种封装芯片金线检测方法，包括以下步骤：S1、采集标准芯片图，选取标准芯片图上标志点，计算所述标志点的坐标(R1，C1)以及角度(Phi)；S2、使用动态阈值提取算法提取标准芯片图的金线区域G_ROI，计算出标准芯片图的金线面积G_Area，并保存至本地；S3、采集测试图片，使用动态阈值提取算法提取测试图片的金线区域，计算出测试图片的金线面积G_Area1；S4、若测试图片的金线面积G_Area1为0，则样品不合格，判别为未打线，生成对应红色Mapping；若测试图片的金线面积G_Area1大于0，则进入下一步；S5、通过标准芯片图上标志点定位出测试图的金线精确区域G_ROI2，并根据测试图的金线精确区域G_ROI2获得测试图上金线的像素点矩阵集合[Qx[i],Qy[i]]，具体包括以下步骤：根据公式1和公式计算出测试图片的金线精本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种封装芯片金线检测方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1、采集标准芯片图，选取标准芯片图上标志点，计算所述标志点的坐标(R1，C1)以及角度(Phi)；/nS2、使用动态阈值提取算法提取标准芯片图的金线区域G_ROI，计算出标准芯片图的金线面积G_Area；/nS3、采集测试图片，使用动态阈值提取算法提取测试图片的金线区域，计算出测试图片的金线面积G_Area1；/nS4、若测试图片的金线面积G_Area1为0，则样品不合格，判别为未打线；若测试图片的金线面积G_Area1大于0，则进入下一步；/nS5、通过标准芯片图上标志点定位出测试图的金线精确区域G_ROI2，并根据测试图的金线精确区域G_ROI2获得测试图上金线的像素点矩阵集合[Qx[i],Qy[i]]；/nS6、根据测试图上金线的像素点矩阵集合[Qx[i],Qy[i]]提取测试图片上金线区域的缺陷特征，根据缺陷特征判断芯片的金线是否合格。/n

【技术特征摘要】
1.一种封装芯片金线检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1、采集标准芯片图，选取标准芯片图上标志点，计算所述标志点的坐标(R1，C1)以及角度(Phi)；
S2、使用动态阈值提取算法提取标准芯片图的金线区域G_ROI，计算出标准芯片图的金线面积G_Area；
S3、采集测试图片，使用动态阈值提取算法提取测试图片的金线区域，计算出测试图片的金线面积G_Area1；
S4、若测试图片的金线面积G_Area1为0，则样品不合格，判别为未打线；若测试图片的金线面积G_Area1大于0，则进入下一步；
S5、通过标准芯片图上标志点定位出测试图的金线精确区域G_ROI2，并根据测试图的金线精确区域G_ROI2获得测试图上金线的像素点矩阵集合[Qx[i],Qy[i]]；
S6、根据测试图上金线的像素点矩阵集合[Qx[i],Qy[i]]提取测试图片上金线区域的缺陷特征，根据缺陷特征判断芯片的金线是否合格。


2.如权利要求1所述的封装芯片金线检测方法，其特征在于，所述S6包括：
提取测试图片上金线弯曲度特征，判断芯片上的金线弯曲度是否合格。


3.如权利要求2所述的封装芯片金线检测方法，其特征在于，所述“提取测试图片上金线弯曲度特征，判断芯片上的金线弯曲度是否合格”，具体包括：
建立金线关于行和列数据集的离散函数f(r,c)，则对应的金线边缘梯度函数为
令得到边缘点集(r,c)；
按列排序得到金线左侧边缘点集(rl,cl)和右侧边缘点集(rr,cr)，利用公式计算得到金线中心散点坐标集合(rm,cm)；
代入最小二乘法公式求得a、b使得E的值最小，得到直线L：ci＝ari+b；
将金线中心散点坐标集合(rm,cm)代入直线L，若点都在直线L上，则金线弯曲度合格；若有点不满足直线L，则判断金线弯曲。


4.如权利要求2所述的封装芯片金线检测方法，其特征在于，所述S6中“提取测试图片上金线弯曲度特征，判断芯片上的金线弯曲度是否合格”之前还包括：
判断测试图片上的金线偏移量是否合格；
判断测试图片上金线的个数是否合格；
判断测试图片上金线是否重复打线；
判断测试图片上金线是否有断线。


5.如权利要求4所述的封装芯片金线检测方法，其特征在于，所述“判断测试图片上的金线偏...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐众，张耀营，张省委，周荣欣，
申请(专利权)人：苏州杰锐思智能科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32