一种显示面板故障检测方法技术

本发明专利技术提供一种显示面板故障检测方法，显示面板故障检测方法包括实验组设置步骤、对照组设置步骤、穿透率获取步骤、影响占比计算步骤、影响因子确定步骤以及故障部件确定步骤。本发明专利技术提供一种显示面板故障检测方法，检测故障面板的去除不同部件后的穿透率，并与标准面板去除不同部件后的穿透率分组对比，快速厘清影响因子，确定故障部件，确定故障显示面板的改进方向，提升良品率。

【技术实现步骤摘要】
一种显示面板故障检测方法
本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种显示面板故障检测方法。
技术介绍
液晶电视的亮度是消费者第一直观感觉到的参数，直接影响观众的主观感受。液晶盒通过穿透率来影响液晶电视亮度，因此穿透率的规格对液晶盒来说很重要，是写在产品规格书中的重要参数。液晶盒的穿透率平时需要光学量测来监控。液晶盒是很复杂的系统，有很多层材料，每层材料都会影响液晶盒的穿透率，而且不同材料的影响是不同的，而且影响原理也不同。目前，当液晶面板的穿透率出现异常时，无法快速厘清影响因子以及定位影响液晶亮度的因素。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，提供一种显示面板故障检测方法，以解决现有技术存在显示面板未达到穿透率的预设阈值时，如何识别故障部件的技术问题。为实现上述目的，本专利技术提供一种显示面板故障检测方法，包括如下步骤：实验组设置步骤，设置实验组，包括至少一实验样本；所述实验样本包括全结构样本及部分结构样本；对照组设置步骤，设置至少一对照样本，分别与每一实验样本相对应；彼此对应的对照样本与实验样本具有相同的面板结构，对照样本为合格产品；穿透率获取步骤，分别获取每一实验样本及对照样本的穿透率；影响占比计算步骤，计算每一实验样本的影响占比；所述影响占比为彼此对应的一实验样本与一对照样本的穿透率差值与该对照样本的穿透率的比值；影响因子确定步骤，计算并比较每一部分结构样本的影响占比与全结构样本的影响占比的比值的绝对值，该绝对值最大的部分结构样本为影响因子；以及故障部件确定步骤，根据所述影响因子确定故障部件。进一步地，在所述穿透率获取步骤之后，还包括：液晶效率计算步骤，根据所有实验样本的穿透率计算实验组的液晶效率；根据所有对照样本的穿透率计算对照组的液晶效率。进一步地，在所述影响占比计算步骤中，计算液晶效率的第二影响占比；所述第二影响占比为所述实验组与所述对照组的液晶效率差值与该对照组的液晶效率的比值。进一步地，在所述影响因子确定步骤中，计算并比较第二影响占比、每一部分结构样本的影响占比与全结构样本的影响占比的比值的绝对值，该绝对值最大的液晶效率或部分结构样本为影响因子。进一步地，所述影响占比为彼此对应的一实验样本与一对照样本的穿透率差值与该对照样本的穿透率的比值。进一步地，在所述实验组设置步骤中，提供一穿透率未达到穿透率的预设阈值的第一显示面板，所述第一显示面板包括第一上偏光片、第一液晶盒以及第一下偏光片；其中，所述全结构实验样本为所述第一显示面板；所述部分结构实验样本为去除所述第一上偏光片的第一显示面板，或去除所述第一上偏光片及所述第一下偏光片的第一显示面板，或去除所述第一下偏光片的第一显示面板。进一步地，在所述对照组设置步骤中，提供一穿透率达到穿透率的预设阈值的第二显示面板，所述第二显示面板包括第二上偏光片、第二液晶盒以及第二下偏光片；其中，所述对照样本包括：全结构对照样本，为所述第二显示面板；部分结构对照样本，为去除所述第二上偏光片的第二显示面板，或去除所述第二上偏光片及所述第二下偏光片的第二显示面板，或去除所述第二下偏光片的第二显示面板。进一步地，在所述对照组设置步骤中，所述对照样本为合格产品。进一步地，在所述穿透率获取步骤中，采用光照检测法检测每一实验样本、每一对照样本的穿透率。进一步地，在所述实验组设置步骤之前还包括：检测步骤，检测一显示面板的穿透率是否达到穿透率的预设阈值，若是，则该显示面板被划分至所述对照组，若否，该显示面板被划分至所述实验组。本专利技术的技术效果在于，提供一种显示面板故障检测方法，检测故障面板的去除不同部件后的穿透率，并与标准面板去除不同部件后的穿透率分组对比，快速厘清影响因子，确定故障部件，确定故障显示面板的改进方向，提升良品率。附图说明下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。图1为本实施例所述显示面板故障检测方法的流程图；图2为本实施例所述第一显示面板的全部结构示意图；图3为本实施例去除所述第一上偏光片的第一显示面板结构示意图；图4为本实施例去除所述第一上、下偏光片的第一显示面板结构示意图；图5为本实施例去除所述第一下偏光片的第一显示面板结构示意图；图6为本实施例所述第二显示面板的全部结构示意图；图7为本实施例去除所述第一上偏光片的第二显示面板结构示意图；图8为本实施例去除所述第一上、下偏光片的第二显示面板结构示意图；图9为本实施例去除所述第一下偏光片的第二显示面板结构示意图。附图中部分标识如下：100第一显示面板；11第一上偏光片；12第一液晶盒；13第一下偏光片；200第二显示面板；21第二上偏光片；22第二液晶盒；23第二下偏光片。具体实施方式下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。在本申请的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本申请的不同结构。为了简化本申请的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本申请。此外，本申请可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本申请提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。如图1所示，本实施提供一种显示面板故障检测方法，包括如下步骤S1～S8。S1检测步骤，检测一显示面板的穿透率是否达到穿透率的预设阈值，若是，则该显示面板被划分至所述对照组，若否，该显示面板被划分至所述实验组。假设显示面板的穿透率预设阈值的范围为a。本领域的技术人员通过检测每一一显示面板的穿透率是否在预设阈值的范围a内，若是，则该显示面板为达到穿透率的预设阈值的第二显示面板；若否，则该显示面板为未达到穿透率的预设阈值的第一显示面板。需要说明的是，每一显示面板的部件不同，其穿透率也不一样，因此，本领域的技术人员可以根据实际情况去判断显示面板穿透率的预设阈值的范围a，通过检测显示面板是否达到穿透率的预设阈值，从而确定该显示面板是为第一显示面板还是第二显示面板。S2实验组设置步骤，设置实验组，包括至少一实验样本；所述实验样本包括全结构实验样本及部分结构实验样本。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板故障检测方法，其特征在于，包括如下步骤：/n实验组设置步骤，设置实验组，包括至少一实验样本；所述实验样本包括全结构实验样本及部分结构实验样本；/n对照组设置步骤，设置至少一对照样本，分别与每一实验样本相对应；彼此对应的对照样本与实验样本具有相同的面板结构；/n穿透率获取步骤，分别获取每一实验样本及对照样本的穿透率；/n影响占比计算步骤，计算每一实验样本的影响占比；/n影响因子确定步骤，计算并比较每一部分结构样本的影响占比与全结构样本的影响占比的比值的绝对值，该绝对值最大的部分结构样本为影响因子；以及/n故障部件确定步骤，根据所述影响因子确定故障部件。/n

【技术特征摘要】
1.一种显示面板故障检测方法，其特征在于，包括如下步骤：
实验组设置步骤，设置实验组，包括至少一实验样本；所述实验样本包括全结构实验样本及部分结构实验样本；
对照组设置步骤，设置至少一对照样本，分别与每一实验样本相对应；彼此对应的对照样本与实验样本具有相同的面板结构；
穿透率获取步骤，分别获取每一实验样本及对照样本的穿透率；
影响占比计算步骤，计算每一实验样本的影响占比；
影响因子确定步骤，计算并比较每一部分结构样本的影响占比与全结构样本的影响占比的比值的绝对值，该绝对值最大的部分结构样本为影响因子；以及
故障部件确定步骤，根据所述影响因子确定故障部件。


2.如权利要求1所述的显示面板故障检测方法，其特征在于，
在所述穿透率获取步骤之后，还包括：
液晶效率计算步骤，根据所有实验样本的穿透率计算实验组的液晶效率；根据所有对照样本的穿透率计算对照组的液晶效率。


3.如权利要求2所述的显示面板故障检测方法，其特征在于，
在所述影响占比计算步骤中，
计算液晶效率的第二影响占比；所述第二影响占比为所述实验组与所述对照组的液晶效率差值与该对照组的液晶效率的比值。


4.如权利要求3所述的显示面板故障检测方法，其特征在于，
在所述影响因子确定步骤中，
计算并比较第二影响占比、每一部分结构样本的影响占比与全结构样本的影响占比的比值的绝对值，该绝对值最大的液晶效率或部分结构样本为影响因子。


5.如权利要求1所述的显示面板故障检测方法，其特征在于，
所述影响占比为彼此对应的一实验样本与一对照样本的穿透率差值与该对照样...

【专利技术属性】
技术研发人员：海博，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44