一种提高稀土掺杂SrSi制造技术

技术编号:24792275 阅读:26 留言:0更新日期:2020-07-07 20:07
本发明专利技术公开了一种提高稀土掺杂SrSi

【技术实现步骤摘要】
一种提高稀土掺杂SrSi2B2O8:Tb3+荧光材料绿光发光强度的技术
本专利技术涉及一种提高稀土掺杂SrSi2B2O8:Tb3+荧光材料绿光发光强度的技术,属于光电功能材料

技术介绍
能源短缺是当前全球所面临的共同问题,节能成为人类所关注的热点。固体照明因具有能耗低、发光效率高、寿命长和响应快等优异性能受到人们的广泛关注。目前固体照明的主要形式是荧光粉转换型白光发光二极管(PC-WLED),其中,一种方案是GaN基蓝光芯片与Y3Al5O12:Ce3+(YAG:Ce3+)黄色荧光粉复合产生白光,另一种是近紫外LED芯片激发红绿蓝三基色荧光粉。第一种方案已经实现商业化,且具有成本低廉、工艺简单等优点,但同时也存在显色指数低、色温高、稳定性差、冷色调等不足。因此第二种方案一直是白光LED研究的重点,近紫外激发红、绿、蓝三基色荧光材料是实现白光照明的关键。直到2015年,LEOW等人研究了RE(Eu2+,Eu3+和Dy3+)掺杂的SrB2Si2O8荧光粉的发光性质及其应用,这些荧光粉显示出在白光发生中的应用潜力,硼硅酸盐荧光粉才开始大量研究。2016年,Peng等人首次研究了Ce3+掺杂的MB2Si2O8(M=Sr,Ba)的VUV-vis光致发光特性,并对了解Ce3+离子5d-4f发射的变化给出了全面的了解,单掺Ce3+离子的荧光材料样品发射位于紫外区。在SrSi2B2O8基质荧光粉中,蓝光发射荧光粉已经研究很多,而绿色发光荧光粉研究相对较少。众所周知,Pr3+离子为典型的绿色荧光粉激活剂,因此,本专利技术基于SrSi2B2O8:Tb3+绿光荧光,通过构造能量传输通道,提高荧光粉的绿光发光强度。
技术实现思路
为了提高三基色荧光粉中绿光发光强度,本专利技术提出了一种提高稀土掺杂SrSi2B2O8:Tb3+荧光材料绿光发光强度的技术。本专利技术的技术以SrSi2B2O8:Tb3+绿光发射荧光粉为基础,通过引入Ce3+离子,构筑了Ce3+离子和Tb3+离子之间辐射再吸收的能量传输通道,从而达到提高绿光发射的目的。本专利技术之技术效果明显,通过构筑Ce3+离子和Tb3+离子之间的能量传输通道,Ce3+离子的发射光全部被Tb3+离子所吸收,转化为激发能,两者的能量转移效率超过90%,大幅提升了SrSi2B2O8:Tb3+绿光荧光材料的发光强度。本专利技术荧光材料的发光强度与SrSi2B2O8:Tb3+绿光荧光材料的发光强比较如图1所示。本专利技术通过构筑能量传递通道,在较低的稀土掺杂下,可以提高荧光材料的绿光发光强度20倍以上。附图说明图1是本专利技术荧光材料和SrSi2B2O8:Tb3+绿光荧光粉的发射光谱图。在较低稀土掺杂量下,本专利技术样品的发光强度是单掺样品的20倍以上。图2是本专利技术中所提荧光材料样品的XRD图。材料的结构为正交晶系,晶格常数是图3是单掺Ce3+离子荧光材料样品的激发光谱图。图4是单掺Ce3+离子荧光材料样品的发射光谱图。图5是单掺Tb3+离子荧光材料样品的激发光谱图。图6是单掺Tb3+离子荧光材料样品的发射光谱图。图7是单掺Tb3+离子、Ce3+离子和Tb3+、Ce3+离子双掺荧光材料样品的激发和发射光谱图。图8是Tb3+、Ce3+离子双掺荧光材料样品的发射光谱图,其中Tb3+离子的掺杂浓度从0到0.13。图9是Tb3+、Ce3+离子双掺荧光材料样品的色坐标图。具体实施方式本专利技术中样品的制备采用高温固相法。具体工艺过程详细叙述如下:(1)首先根据Sr1-x-ySi2B2O8:xTb3+,yCe3+化学式,根据x=0,0.02,0.03,0.04,0.05….0.13,y=0.01,0.02,0.03,0.04,0.05….0.10设计配方;(2)按照制备5g产物,采用精密电子天平称取相应量的H3BO3,SiO2,SrCO3,Tb4O3和CeO2,将称取的原料放入玛瑙研钵内;(3)采用湿磨法制备前驱体,将少量酒精溶液倒入玛瑙研钵内(酒精含量不宜过多),使混合后的材料充分分散,用玛瑙棒仔细研磨均匀;(4)待酒精溶液挥发后,将显露的白色胶装体研磨成细的粉末,将粉末放入小坩埚中,用双坩埚法制备样品;(5)将样品放入硅碳棒炉中从室温加热到800~1200℃,保温1~6小时;最后,随炉降温,获得样品。样品的X射线衍射如图2所示,通过与标准卡片PDF#25-1288相比衍射一致,说明荧光材料样品的结构为正交晶系,晶格常数是稀土掺杂未改变SrSi2B2O8基质的结构。图3是单掺Ce3+离子荧光材料样品的激发光谱图。样品的激发光谱为峰值位于320nm的宽带谱。图4是单掺Ce3+离子荧光材料样品的发射光谱图。样品的发射光谱为峰值位于373nm的宽带谱。图5是单掺Tb3+离子荧光材料样品的激发光谱图。样品的激发为窄带,激发峰分别位于318、350、377、382nm。图6是单掺Tb3+离子荧光材料样品的发射光谱图。样品的发射也为线状谱,主峰位于544nm,为鲜艳的绿色发光。图7是单掺Tb3+离子、Ce3+离子和Tb3+、Ce3+离子双掺荧光材料样品的激发和发射光谱图。单掺Ce3+离子的发射光谱与单掺Tb3+离子的激发光谱重叠,说明能量传输通道建立成功。Tb3+、Ce3+离子双掺荧光材料的激发光谱由Ce3+离子提供,发射光谱仅有Tb3+离子的发射,表明传输实现。双掺样品的发光强度明显强于单掺样品。图8是Tb3+、Ce3+离子双掺荧光材料样品的发射光谱图,其中Tb3+离子的掺杂浓度从0到0.13。在掺杂范围内,Ce3+离子的发射减弱,Tb3+离子的发射增强,当达到掺杂量为8at.%时,绿光发射达到最强。图9是Tb3+、Ce3+离子双掺荧光材料样品的色坐标图。单掺Ce3+离子时为蓝光,随着Tb3+离子掺杂浓度的增加,逐渐向绿光区域移动。本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种提高稀土掺杂SrSi

【技术特征摘要】
1.一种提高稀土掺杂SrSi2B2O8:Tb3+荧光粉绿光发光强度的技术,该技术以SrSi2B2O8:Tb3+荧光粉为基础,引入Ce3+离子,在Ce3...

【专利技术属性】
技术研发人员:张希艳柏朝晖王晓春王能利米晓云卢利平孙海鹰其他发明人请求不公开姓名
申请(专利权)人:长春理工大学
类型:发明
国别省市:吉林;22

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