【技术实现步骤摘要】
一种可控硅元件温度故障检测装置
本技术属于可控硅整流
，具体涉及一种可控硅元件温度故障检测装置。
技术介绍
整流装置中单个整流元件与熔断器串联，当元件反向击穿时，故障元件支路中的熔断器快速切断故障电路，微动开关动作信号反馈到PLC,控制柜开始报警输出或者跳闸,每次跳闸到恢复生产都会影响生产。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种可控硅元件温度故障检测装置，以解决现有技术中存在的问题。为实现上述目的，本技术采用的技术方案为：一种可控硅元件温度故障检测装置，包括电源控制回路、PLC系统，还包括温度检测装置，所述温度检测装置的输出信号端连接有信号继电器，所述信号继电器与PLC系统连接，所述温度检测装置的输入端接入电源控制回路，所述温度检测装置的控制端接入一组或多组可控硅温度检测回路，每组可控硅温度检测回路包括温度继电器、微动开关，所述温度继电器的线圈与微动开关的辅助常开点连接，所述温度继电器的常开点与温度检测装置的输入端连接。进一步地，每组可控硅温度检测回路与电源控制回路之间设有控制变压器。本技术的有益效果为：当可控硅元件出现小故障时能够快速准确发现故障，消除了因小故障引发的大故障，提高了设备运行效率，减少故障率；单个元件温度检测。附图说明图1是本技术一种可控硅元件温度故障检测装置示意图。图中：1、温度检测装置；2、信号继电器；3、温度继电器；7、控制变压器；8、PLC系统；9、微动开关。具体实施方式下面结合附图对本技术做...
【技术保护点】
1.一种可控硅元件温度故障检测装置，包括电源控制回路、PLC系统，其特征在于：还包括温度检测装置（1），所述温度检测装置（1）的输出信号端连接有信号继电器（2），所述信号继电器（2）与PLC系统（8）连接，所述温度检测装置（1）的输入端接入电源控制回路（13），所述温度检测装置（1）的控制端接入一组或多组可控硅温度检测回路，每组可控硅温度检测回路包括温度继电器、微动开关，所述温度继电器的线圈与微动开关的辅助常开点连接，所述温度继电器的常开点与温度检测装置（1）的输入端连接。/n
【技术特征摘要】
1.一种可控硅元件温度故障检测装置，包括电源控制回路、PLC系统，其特征在于：还包括温度检测装置（1），所述温度检测装置（1）的输出信号端连接有信号继电器（2），所述信号继电器（2）与PLC系统（8）连接，所述温度检测装置（1）的输入端接入电源控制回路（13），所述温度检测装置（1）的控制端接入一组或多组可控硅温度检...
【专利技术属性】
技术研发人员：韩红英，岳占斌，朱杰，杨国红，张永昌，张晶晶，封梦倩，
申请(专利权)人：金川集团股份有限公司，
类型：新型
国别省市：甘肃;62
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