口罩耳带焊接检测方法技术

本发明专利技术揭示了一种口罩耳带焊接检测方法，其包括以下步骤，预设标准口罩接驳点，对待测口罩进行卷积运算和视觉检测，获得待测口罩接驳点，判断所述待测口罩接驳点与所述标准口罩接驳点的偏差大于设定阈值，则所述待测口罩为耳带焊接不合格品。本申请的发明专利技术避免了处理耳带焊点纹理，检测结果的准确率高，且在实际应用时的调试难度小，能兼容所有耳带朝外生产的口罩。

Welding inspection method of mask ear band

【技术实现步骤摘要】
口罩耳带焊接检测方法
本专利技术涉及口罩耳带焊接检测
，具体地，涉及一种口罩耳带焊接检测方法。
技术介绍
口罩是一种用于过滤进入口鼻的空气，保护人体呼吸系统和身体健康的卫生用品，人体佩戴口罩可以防护并过滤掉飞沫、粉尘、废气等影响身体健康的病菌和污染物进入到人体内部。口罩主要包括多层过滤材料构成的口罩主体、鼻梁筋以及耳带，耳带需要通过焊接的方式连接在口罩主体上，在口罩生产过程中，需要检测耳带焊接质量，以确保口罩质量。在实际应用时耳带焊接质量检测具体是对接驳点进行检测判断，此处的接驳点为耳带的带头与口罩主体焊接相连的部分。现有技术中，对口罩耳带焊接质量的检测方式是基于纹理等信息直接判断接驳点的面积大小来判定耳带焊接质量。然而接驳点的纹理特征与口罩整体纹理特征差异化较小，所以上述检测方式存在误判率较高的问题，且在实际应用时的调试难度较大。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本专利技术提供一种口罩耳带焊接检测方法。本专利技术公开的一种口罩耳带焊接检测方法包括：预设标准口罩接驳点；对待测口罩进行卷积运算和视觉检测；获得待测口罩接驳点；判断待测口罩接驳点与标准口罩接驳点的偏差大于设定阈值，则待测口罩为耳带焊接不合格品。根据本专利技术一实施方式，对待测口罩进行卷积运算和视觉检测，包括以下子步骤：对待测口罩进行视觉识别及卷积运算，获得口罩主体边缘图像信息；对待测口罩进行图像处理，获得的耳带图像信息。根据本专利技术一实施方式，获得待测口罩接驳点，包括以下子步骤：对口罩主体边缘图像信息和耳带图像信息进行图像处理；获得接驳轮廓；确认接驳轮廓中心点为待测口罩接驳点。根据本专利技术一实施方式，对待测口罩进行视觉识别及卷积运算，获得口罩主体边缘图像信息，包括以下子步骤：视觉识别出待测口罩图像；构建四种卷积核；根据四种卷积核分别对待测口罩的图像区域进行卷积运算；获得口罩主体边缘图像信息。根据本专利技术一实施方式，四种卷积核分别用于寻找待测口罩的左侧、右侧、上侧及下侧边界位置。根据本专利技术一实施方式，根据四种卷积核分别对待测口罩图像的左半、右半、上半及下半区域进行卷积运算。根据本专利技术一实施方式，口罩主体边缘图像信息为矩形。根据本专利技术一实施方式，偏差和设定阈值均为距离值。根据本专利技术一实施方式，距离值包括像素距离。根据本专利技术一实施方式，设定阈值还包括像素密度。本申请避免了处理耳带焊点纹理，检测结果的准确率高，且在实际应用时的调试难度小，能兼容所有耳带朝外生产的口罩。附图说明此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：图1为本实施例中口罩耳带焊接检测方法的流程图；图2为本实施例中四种卷积核示意图；图3为本实施例中获得耳带图像信息示意图；图4为本实施例中获得待测口罩接驳点示意图；图5为本实施例中待测口罩检测合格示意图。具体实施方式以下将以图式揭露本专利技术的多个实施方式，为明确说明起见，许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应用以限制本专利技术。也就是说，在本专利技术的部分实施方式中，这些实务上的细节是非必要的。此外，为简化图式起见，一些习知惯用的结构与组件在图式中将以简单的示意的方式绘示之。需要说明，本专利技术实施例中所有方向性指示诸如上、下、左、右、前、后......仅用于解释在某一特定姿态如附图所示下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。另外，在本专利技术中如涉及＂第一″、＂第二″等的描述仅用于描述目的，并非特别指称次序或顺位的意思，亦非用以限定本专利技术，其仅仅是为了区别以相同技术用语描述的组件或操作而已，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有＂第一″、＂第二″的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本专利技术要求的保护范围之内。为能进一步了解本专利技术的
技术实现思路
、特点及功效，兹例举以下实施例，并配合附图详细说明如下：参照图1，图1为本实施例中口罩耳带焊接检测方法的流程图。本实施例中的口罩耳带焊接检测方法包括以下步骤：S1，预设标准口罩接驳点。S2，对待测口罩进行卷积运算和视觉检测。S3，获得待测口罩接驳点。S4，判断待测口罩接驳点与标准口罩接驳点的偏差大于设定阈值，则待测口罩为耳带焊接不合格品。通过卷积运算和视觉检测的相配合的方式获得待测口罩接驳点，然后再将待测口罩接驳点与标准口罩接驳点之间偏差与设定阈值进行对比，偏差大于设定阈值的为耳带焊接不合格品，反之偏差小于或等于设定阈值的为耳带焊接合格品。以上述方式完成口罩耳带焊接质量的检测，避免了处理耳带焊点纹理，检测结果的准确率高，且在实际应用时的调试难度小，能兼容所有耳带朝外生产的口罩。上述待测口罩包括口罩主体和耳带，上述接驳点为耳带的带头与口罩主体焊接相连的部分。在步骤S1中，本实施例中的预设标准口罩接驳点即是口罩耳带焊接合格的接驳点，形成了以预设标准口罩接驳点作为焊接检测的参照标准。在具体应用时该参照标准可根据具体生产口罩的规格由人为进行具体设置，此处不再赘述。在步骤S2中，对待测口罩进行卷积运算和视觉检测，包括以下子步骤：S21，对待测口罩进行视觉识别及卷积运算，获得口罩主体边缘图像信息。S22，对待测口罩进行图像处理，获得的耳带图像信息。其中，在步骤S21，对待测口罩进行视觉识别及卷积运算，获得口罩主体边缘图像信息，包括以下子步骤：S211，视觉识别出待测口罩图像；S212，构建四种卷积核。S213，根据四种卷积核分别对待测口罩的图像区域进行卷积运算。S214，获得口罩主体边缘图像信息。在一并参照参照图2，图2为本实施例中四种卷积核示意图。在步骤S211中，视觉识别出待测口罩图像，可采用现有的视觉识别技术获得待测口罩图像，例如CCD相机，此处不再赘述。在步骤S212中，构建的四种卷积核分别用于寻找待测口罩的左侧、右侧、上侧及下侧边界位置。如图2所示，构建的四种卷积核分别具有两种尺寸，一种为长为21、宽为51，锚点为(X：11，Y：26)的卷积核，另一种为长为51、宽为51，锚点为(X：26，Y：26)的卷积核。其中，1号卷积核主要目的是为找到左侧耳带与背景的分界线，此卷积核锚点X：11的一列的值为0，该锚点左侧为-1，该锚点右侧为1，根据卷积运算法则，此卷积核仅对左侧口罩边缘与背景位置具有高响应，即锚点得出的值较大，以上述响应本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种口罩耳带焊接检测方法，其特征在于，包括以下步骤：/n预设标准口罩接驳点；/n对待测口罩进行卷积运算和视觉检测；/n获得待测口罩接驳点；/n判断所述待测口罩接驳点与所述标准口罩接驳点的偏差大于设定阈值，则所述待测口罩为耳带焊接不合格品。/n

【技术特征摘要】
1.一种口罩耳带焊接检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
预设标准口罩接驳点；
对待测口罩进行卷积运算和视觉检测；
获得待测口罩接驳点；
判断所述待测口罩接驳点与所述标准口罩接驳点的偏差大于设定阈值，则所述待测口罩为耳带焊接不合格品。


2.根据权利要求1所述的口罩耳带焊接检测方法，其特征在于，对待测口罩进行卷积运算和视觉检测，包括以下子步骤：
对所述待测口罩进行视觉识别及卷积运算，获得口罩主体边缘图像信息；
对所述待测口罩进行图像处理，获得的耳带图像信息。


3.根据权利要求2所述的口罩耳带焊接检测方法，其特征在于，获得待测口罩接驳点，包括以下子步骤：
对所述口罩主体边缘图像信息和所述耳带图像信息进行图像处理；
获得接驳轮廓；
确认所述接驳轮廓中心点为所述待测口罩接驳点。


4.根据权利要求2所述的口罩耳带焊接检测方法，其特征在于，对所述待测口罩进行视觉识别及卷积运算，获得口罩主体边缘图像信息，包括以下子步骤：...

【专利技术属性】
技术研发人员：周俊雄，金瑞，龚亚忠，白冰，杜义贤，周俊杰，
申请(专利权)人：广东利元亨智能装备股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44