一种自动光学检测定位系统技术方案

本发明专利技术公开了一种自动光学检测定位系统，包括调整模块、判断模块、校正模块和动态库模块，实现对IC进行定位。通过本发明专利技术的自动光学检测定位系统，可以提高检测速度。

An automatic optical detection and positioning system

【技术实现步骤摘要】
一种自动光学检测定位系统
本专利技术涉及光学检测领域，特别是涉及一种自动光学检测定位系统。
技术介绍
由于自动光学检测技术(AutomaticOpticalInspection，AOI)定位检测系统整体水平低于国际，虽然自动化烧录产业已开发多年，但传统人工检测方式容易造成企业质量难以把关，同时也大大降低IC的生产效率，企业产能低，损失巨大；如果要与更高端商品企业合作，质量问题有待提高。因此本领域技术人员致力于开发一种提高检测速度的自动光学检测定位系统。
技术实现思路
有鉴于现有技术的上述缺陷，本专利技术所要解决的技术问题是提供一种提高检测速度的自动光学检测定位系统。为实现上述目的，本专利技术提供了一种自动光学检测定位系统，包括：调整模块、判断模块、校正模块和动态库模块；所述调整模块用于对所述烧录IC图片进行图像功能调整；所述判断模块用于获取所述调整后的图像区块，判断所述调整后的图像区块是否为可用区域；所述比对模块用于若所述调整后的图像区块为可用区域，则对所述可用区域进行比对；所述校正模块用于若所述比对结果处于一预先设置的阀值范围内，则对所述可用区域进行图像校正，根据校正结果对烧录IC设备进行IC定位；所述动态库模块用于将所述调整模块、判断模块、比对模块和校正模块打包成一动态命令库，通过调用所述动态命令库的接口函数控制烧录IC的定位操作了。较佳的，所述加载所述烧录IC图片包括：开启四个线程，设置所述IC图片的四个顶点为起始点，向图片中心加载图片数据。较佳的，所述图像功能调整包括：调整图像亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值。较佳的，所述比对模块还包括：可用区域外框点位获取单元，用于取出所述可用区域，根据标准点到线距离公式计算可用区域边缘，并通过所述可用区域边缘获取可用区域外框的所有点位。较佳的，还包括中心位置计算单元，所述中心位置计算单元用于根据所述外框所有点位计算所述图像区块的中心位置。较佳的，还包括偏移值计算单元，所述偏移值计算单元用于取出同测最远距离的两个点位，利用所述两个点位所在直线的斜率公式计算出偏移角度和X/Y偏移量。较佳的，所述校正模块还包括：长度值获取单元，用于预先设置一校正块，将所述校正块置于下方，利用绘图手法划出相等于所述校正块长度值的直线。较佳的，还包括像素长度值对应单元，用于根据所述长度值计算出相对应的像素值，此数值对应关系记为长度-像素对应关系，根据所述长度-像素对应关系计算出像素值为1时所对应的长度值，此数值对应关系记为像素-长度对应关系。较佳的，还包括校正标准设定单元，用于将所述像素-长度对应关系设定为校正标准，根据所述校正标准对所述可用区域的所有像素点进行图像校正。较佳的，所述比对模块为CCD。本专利技术的有益效果是：本专利技术的自动光学检测定位系统，运用了多方向式计算功能，提高了检测速度，并采用标准影像校正手法提高了检测精度；同时模块化的开发架构也减少了开发过程中的验证测试时间，加快了产品开发速度。附图说明图1是本专利技术一具体实施方式自动光学检测定位系统的结构示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步说明：如图1所示，本专利技术实施例公开了一种自动光学检测定位系统，其特征在于，包括：调整模块、判断模块、校正模块和动态库模块；所述调整模块用于对所述烧录IC图片进行图像功能调整；所述判断模块用于获取所述调整后的图像区块，判断所述调整后的图像区块是否为可用区域；所述比对模块用于若所述调整后的图像区块为可用区域，则对所述可用区域进行比对；所述校正模块用于若所述比对结果处于一预先设置的阀值范围内，则对所述可用区域进行图像校正，根据校正结果对烧录IC设备进行IC定位；所述动态库模块用于将所述调整模块、判断模块、比对模块和校正模块打包成一动态命令库，通过调用所述动态命令库的接口函数控制烧录IC的定位操作了。在本实施例中，所述加载所述烧录IC图片包括：开启四个线程，设置所述IC图片的四个顶点为起始点，向图片中心加载图片数据。在本实施例中，所述图像功能调整包括：调整图像亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值。在本实施例中，所述比对模块还包括：可用区域外框点位获取单元，用于取出所述可用区域，根据标准点到线距离公式计算可用区域边缘，并通过所述可用区域边缘获取可用区域外框的所有点位。在本实施例中，还包括中心位置计算单元，所述中心位置计算单元用于根据所述外框所有点位计算所述图像区块的中心位置。在本实施例中，还包括偏移值计算单元，所述偏移值计算单元用于取出同测最远距离的两个点位，利用所述两个点位所在直线的斜率公式计算出偏移角度和X/Y偏移量。在本实施例中，所述校正模块还包括：长度值获取单元，用于预先设置一校正块，将所述校正块置于下方，利用绘图手法划出相等于所述校正块长度值的直线。在本实施例中，还包括像素长度值对应单元，用于根据所述长度值计算出相对应的像素值，此数值对应关系记为长度-像素对应关系，根据所述长度-像素对应关系计算出像素值为1时所对应的长度值，此数值对应关系记为像素-长度对应关系。在本实施例中，还包括校正标准设定单元，用于将所述像素-长度对应关系设定为校正标准，根据所述校正标准对所述可用区域的所有像素点进行图像校正。在本实施例中，所述比对模块为CCD。本专利技术的自动光学检测定位系统，运用了多方向式计算功能，提高了检测速度，并采用标准影像校正手法提高了检测精度；同时模块化的开发架构也减少了开发过程中的验证测试时间，加快了产品开发速度。以上详细描述了本专利技术的较佳具体实施例。应当理解，本领域的普通技术人员无需创造性劳动就可以根据本专利技术的构思作出诸多修改和变化。因此，凡本
中技术人员依本专利技术的构思在现有技术的基础上通过逻辑分析、推理或者有限的实验可以得到的技术方案，皆应在由权利要求书所确定的保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自动光学检测定位系统，其特征在于，包括：调整模块、判断模块、校正模块和动态库模块；所述调整模块用于对所述烧录IC图片进行图像功能调整；所述判断模块用于获取所述调整后的图像区块，判断所述调整后的图像区块是否为可用区域；所述比对模块用于若所述调整后的图像区块为可用区域，则对所述可用区域进行比对；所述校正模块用于若所述比对结果处于一预先设置的阀值范围内，则对所述可用区域进行图像校正，根据校正结果对烧录IC设备进行IC定位；所述动态库模块用于将所述调整模块、判断模块、比对模块和校正模块打包成一动态命令库，通过调用所述动态命令库的接口函数控制烧录IC的定位操作了。/n

【技术特征摘要】
1.一种自动光学检测定位系统，其特征在于，包括：调整模块、判断模块、校正模块和动态库模块；所述调整模块用于对所述烧录IC图片进行图像功能调整；所述判断模块用于获取所述调整后的图像区块，判断所述调整后的图像区块是否为可用区域；所述比对模块用于若所述调整后的图像区块为可用区域，则对所述可用区域进行比对；所述校正模块用于若所述比对结果处于一预先设置的阀值范围内，则对所述可用区域进行图像校正，根据校正结果对烧录IC设备进行IC定位；所述动态库模块用于将所述调整模块、判断模块、比对模块和校正模块打包成一动态命令库，通过调用所述动态命令库的接口函数控制烧录IC的定位操作了。


2.根据权利要求1所述的自动光学检测定位系统，其特征在于，所述加载所述烧录IC图片包括：开启四个线程，设置所述IC图片的四个顶点为起始点，向图片中心加载图片数据。


3.根据权利要求1所述的自动光学检测定位系统，其特征在于，所述图像功能调整包括：调整图像亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值。


4.根据权利要求1所述的自动光学检测定位系统，其特征在于，所述比对模块还包括：可用区域外框点位获取单元，用于取出所述可用区域，根据标准点到线距离公式计算可用区域边缘，并通过所述可用区域边缘获取可用区域外框的所有点位。


5.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄采敏，
申请(专利权)人：东莞市吉洋自动化科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44