一种检验智能门锁芯片可用性的设备制造技术

本发明专利技术提供一种检验智能门锁芯片可用性的设备。所述检验智能门锁芯片可用性的设备，包括：电源适配器和控制面板，所述电源适配器通过导线与所述控制面板连接；所述控制面板的正面分别设置有第一门锁芯片插座、第二门锁芯片插座、第一按键和第二按键；所述控制面板通过导线分别于第一门锁芯片插座和第一按键连接。本发明专利技术提供的检验智能门锁芯片可用性的设备，可以快速的对智能门锁芯片进行检测，以及对智能门锁芯片的调试，能够快速验证和测试智能门锁芯片，在调试过程能快速定位门锁芯片发送无线信号是否正确，操作简单，便于使用，文化程度较低的人员也能快速上手，提高检测的全面性。

A device for testing the availability of smart door lock chip

【技术实现步骤摘要】
一种检验智能门锁芯片可用性的设备
本专利技术涉及门锁芯片领域，尤其涉及一种检验智能门锁芯片可用性的设备。
技术介绍
集成电路，缩写作IC；或称微电路、微芯片、晶片/芯片在电子学中是一种把电路，主要包括半导体设备，也包括被动组件等，小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上。现实生活当中，工人在进行芯片检验时，需要对芯片进行加测，然而现有的芯片检测装置存在一定的缺点，比如现有的芯片检测装置，不能很好的对芯片进行检测和调试，操作复杂，不便于使用，严重的降低了检测和调试的效率，以至于在调试过程不能快速定位门锁芯片发送无线信号是否正确。因此，有必要提供一种检验智能门锁芯片可用性的设备解决上述技术问题。
技术实现思路
本专利技术提供一种检验智能门锁芯片可用性的设备，解决了不能很好的对芯片进行检测和调试，操作复杂，不便于使用的问题。为解决上述技术问题，本专利技术提供的检验智能门锁芯片可用性的设备，包括：电源适配器和控制面板，所述电源适配器通过导线与所述控制面板连接；所述控制面板的正面分别设置有第一门锁芯片插座、第二门锁芯片插座、第一按键和第二按键；所述控制面板通过导线分别于第一门锁芯片插座和第一按键连接；所述第一门锁芯片插座通过导线与所述第二门锁芯片插座连接，所述第一按键通过导线与所述第二按键连接，所述第二按键通过导线与所述第二门锁芯片插座连接；可以快速的对智能门锁芯片进行检测，以及对智能门锁芯片的调试，能够快速验证和测试智能门锁芯片，在调试过程能快速定位门锁芯片发送无线信号是否正确，操作简单，便于使用，文化程度较低的人员也能快速上手，提高检测的全面性。优选的，所述第一门锁芯片插座和第二门锁芯片插座均通过导线连接有四个电阻和两个指示灯。优选的，所述电源适配器采用220V转5V电源适配器。本专利技术还提供一种检验智能门锁芯片可用性的设备，包括所述的电源适配器和控制面板，还包括芯片插座；所述芯片插座的内部开设有活动槽，所述活动槽的内壁的两侧之间转动连接有转动轴，所述转动轴的一端贯穿所述芯片插座并延伸至所述芯片插座的外部，所述转动轴延伸至所述芯片插座的外部的一端设置有旋转把手；所述芯片插座的顶部开设有插槽，所述插槽的内壁顶部设置有V型接触片，所述插槽的两侧之间滑动连接有滑动板，所述滑动板的顶部设置有挤压接触片。优选的，所述插槽的数量为个，等量位于所述活动槽的两侧。优选的，所述滑动板的底部的两侧均设置有夹紧弹簧，两个所述夹紧弹簧的底端分别固定于所述插槽的内壁底部的两侧。优选的，所述滑动板的底部设置有绳带，所述绳带的另一端贯穿所述活动槽并延伸至所述活动槽的内部，所述绳带延伸至所述活动槽的内部的一端固定于所述转动轴的外表面。与相关技术相比较，本专利技术提供的检验智能门锁芯片可用性的设备具有如下有益效果：本专利技术提供一种检验智能门锁芯片可用性的设备，当门锁芯片插在设备的门芯插座上面，按开关按钮，门锁会发出滴的一声，并同时发出无线信号，可以快速的对智能门锁芯片进行检测，以及对智能门锁芯片的调试，能够快速验证和测试智能门锁芯片，在调试过程能快速定位门锁芯片发送无线信号是否正确，操作简单，便于使用，文化程度较低的人员也能快速上手，提高检测的全面性。通过转动轴的旋转，可以带动绳带进行缠绕，进而拉动滑动板，通过滑动板的拉动，就会失去对芯片的插脚的夹紧，这时工作人员就可以快速的对芯片进行拆卸，操作简单，便于使用，而且再拆卸的过程中，不容易对芯片插脚造成损坏，提高芯片的使用寿命。附图说明图1为本专利技术提供的检验智能门锁芯片可用性的设备的第一实施例的结构示意图；图2为本专利技术提供的检验智能门锁芯片可用性的设备的第二实施例的结构示意图；图3为图2所示的A部放大示意图；图4为图2所示的V型接触片的结构侧视图。图中标号：1、电源适配器，2、控制面板，3、第一门锁芯片插座，4、第二门锁芯片插座，5、第一按键，6、第二按键，7、芯片插座，8、活动槽，9、转动轴，10、旋转把手，11、插槽，12、V型接触片，13、滑动板，14、挤压接触片，15、夹紧弹簧，16、绳带。具体实施方式下面结合附图和实施方式对本专利技术作进一步说明。请结合参阅图1，其中，图1为本专利技术提供的检验智能门锁芯片可用性的设备的第一实施例的结构示意图。检验智能门锁芯片可用性的设备包括：电源适配器1和控制面板2，所述电源适配器1通过导线与所述控制面板2连接；所述控制面板2的正面分别设置有第一门锁芯片插座3、第二门锁芯片插座4、第一按键5和第二按键6；所述控制面板2通过导线分别于第一门锁芯片插座3和第一按键5连接；所述第一门锁芯片插座3通过导线与所述第二门锁芯片插座4连接，所述第一按键5通过导线与所述第二按键6连接，所述第二按键6通过导线与所述第二门锁芯片插座4连接；可以快速的对智能门锁芯片进行检测，以及对智能门锁芯片的调试，能够快速验证和测试智能门锁芯片，在调试过程能快速定位门锁芯片发送无线信号是否正确，操作简单，便于使用，文化程度较低的人员也能快速上手，提高检测的全面性，当门锁芯片插在设备的门芯插座上面，按开关按钮，门锁会发出滴的一声，并同时发出无线信号。所述第一门锁芯片插座3和第二门锁芯片插座4均通过导线连接有四个电阻和两个指示灯；具体连接方式可以根据幅图1进行说明，通过指示灯进行显示。所述电源适配器1采用220V转5V电源适配器；通过电源适配器1的设置，用于将220V的电压转换为5V电压，便于检测设备5V直流电流进行工作。本专利技术提供的检验智能门锁芯片可用性的设备的工作原理如下：当门锁芯片插在设备的门芯插座上面，按开关按钮，门锁会发出滴的一声，并同时发出无线信号，可以快速的对智能门锁芯片进行检测，以及对智能门锁芯片的调试，能够快速验证和测试智能门锁芯片，在调试过程能快速定位门锁芯片发送无线信号是否正确，操作简单，便于使用，文化程度较低的人员也能快速上手，提高检测的全面性。第二实施例请参阅第二实施例的图2-4，本专利技术的第二实施例还提供另一种检验智能门锁芯片可用性的设备。在本实施例的一种可选的方式中，所述检验智能门锁芯片可用性的设备，可以包括所述电源适配器1和控制面板2；所述检验智能门锁芯片可用性的设备还包括芯片插座7；所述芯片插座7的内部开设有活动槽8，所述活动槽8的内壁的两侧之间转动连接有转动轴9，所述转动轴9的一端贯穿所述芯片插座7并延伸至所述芯片插座7的外部，所述转动轴9延伸至所述芯片插座7的外部的一端设置有旋转把手10；所述芯片插座7的顶部开设有插槽11，所述插槽11的内壁顶部设置有V型接触片12，所述插槽11的两侧之间滑动连接有滑动板13，所述滑动板13的顶部设置有挤压接触片14；V型接触片12和挤压接触片14的电连接方式采用现有技术的连接方式进行连接。所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检验智能门锁芯片可用性的设备，其特征在于，包括：/n电源适配器和控制面板，所述电源适配器通过导线与所述控制面板连接；/n所述控制面板的正面分别设置有第一门锁芯片插座、第二门锁芯片插座、第一按键和第二按键；/n所述控制面板通过导线分别于第一门锁芯片插座和第一按键连接；/n所述第一门锁芯片插座通过导线与所述第二门锁芯片插座连接，所述第一按键通过导线与所述第二按键连接，所述第二按键通过导线与所述第二门锁芯片插座连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种检验智能门锁芯片可用性的设备，其特征在于，包括：
电源适配器和控制面板，所述电源适配器通过导线与所述控制面板连接；
所述控制面板的正面分别设置有第一门锁芯片插座、第二门锁芯片插座、第一按键和第二按键；
所述控制面板通过导线分别于第一门锁芯片插座和第一按键连接；
所述第一门锁芯片插座通过导线与所述第二门锁芯片插座连接，所述第一按键通过导线与所述第二按键连接，所述第二按键通过导线与所述第二门锁芯片插座连接。


2.根据权利要求1所述的检验智能门锁芯片可用性的设备，其特征在于，所述第一门锁芯片插座和第二门锁芯片插座均通过导线连接有四个电阻和两个指示灯。


3.根据权利要求1所述的检验智能门锁芯片可用性的设备，其特征在于，所述电源适配器采用220V转5V电源适配器。


4.一种检验智能门锁芯片可用性的设备，包括权利要求1-2任一项所述的电源适配器和控制面板，其特征在于，还包括芯片插座；
所述芯...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈海滨，李亿，
申请(专利权)人：快住智能科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32