光通道测量机制造技术

本发明专利技术提供一种光通道测量机，包括：测量装置、入料辊道、合格辊道、不合格辊道、侧推机构、以及配套的电控装置；所述入料辊道与合格辊道装配成沿直线方向布设；在入料辊道与合格辊道相衔接位置设置测量工位，测量装置安装在所述测量工位；在合格辊道的所述测量工位下游的一侧设置不合格辊道，并且在另一侧设置侧推机构；所述测量装置用于对待测部件的内孔道进行光检测。具体地，所述测量装置包括升降框架、上部升降机构、下部升降机构、上测头组、下测头组；所述上部升降机构和下部升降机构分别安装在升降框架上。本发明专利技术能够对待测部件的内孔道进行检测，减少对内壁的伤害。

Optical channel measuring machine

【技术实现步骤摘要】
光通道测量机
本专利技术属于自动化测量领域，尤其是一种光通道测量机。
技术介绍
在发动机部件的铸造工艺期间，因为工艺步骤复杂，铸道上会发生各式各样的损伤。部件中水道和油道等内部构造复杂，无法使用其他技术轻松可靠地进行检测，可能会存在各种局部铸造缺陷、嵌有机加工碎片的区域和砂芯的残留物等问题，造成严重的质量问题。现有的测量方法，大多采用气动测量的方式，但是气动测量头与待测工件同一孔径的不同部位发生多次相对运转，会造成孔壁划伤等技术问题。专利[CN201721217829.2]提出的一种气动量仪测头与气动量仪测量装置，通过设计气动测量仪的测头结构，使得待测件只需放置一次，就可以完成多个测量部位的测量，在一定程度上，减少了内壁的划伤问题，但是仍然需要测头与待测孔径内壁紧密相接，造成一定的划伤损坏，现有技术无法解决这一问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术中存在的不足，提供一种光通道测量机，能够对待测部件的内孔道进行检测，减少对内壁的伤害。本专利技术采用的技术方案是：一种光通道测量机，包括：测量装置、入料辊道、合格辊道、不合格辊道、侧推机构、以及配套的电控装置；所述入料辊道与合格辊道装配成沿直线方向布设；在入料辊道与合格辊道相衔接位置设置测量工位，测量装置安装在所述测量工位；在合格辊道的所述测量工位下游的一侧设置不合格辊道，并且在另一侧设置侧推机构；所述测量装置用于对待测部件的内孔道进行光检测。具体地，所述测量装置包括升降框架、上部升降机构、下部升降机构、上测头组、下测头组；所述上部升降机构和下部升降机构分别安装在升降框架上；下部升降机构位于上部升降机构的下方；上测头组安装在上安装部件上，上安装部件连接在上部升降机构；下测头组安装在下安装部件上，下安装部件连接在下部升降机构；上测头组和下侧头组中均包括多个测头；上测头组和下侧头组中的测头按照待测部件的检测需要对应设置；各测头中包括光发射单元和/或光接收传感器单元。进一步地，测头中的光发射单元采用940nm或850nm的近红外波段LED光源；测头中的光接收传感器单元采用红外硅光二极管。进一步地，上部升降机构、下部升降机构均采用拖链机构。进一步地，合格辊道上还设有刻印工位；刻印工位上方布设一压紧机构；刻印工位一侧设置一套刻印装置。进一步地，测量工位上还设有定位夹具。进一步地，合格辊道上测量工位前侧设有阻挡机构。进一步地，合格辊道上设有数个部件工位，每个部件工位前侧均设有阻挡机构。进一步地，上测头组和下测头组中，部分测头能够多角度移动。本专利技术的优点在于：1）上测头组和下测头组配合工作，通过光检测实现待测部件内孔道的质量检测；避免或最大程度减小对内壁的损伤。2）提高了检测效率。附图说明图1为本专利技术的结构组成示意图。图2为本专利技术的测量装置示意图。具体实施方式下面结合具体附图和实施例对本专利技术作进一步说明。如图1所示，本专利技术的一个实施例提出一种光通道测量机，包括：测量装置1、入料辊道2、合格辊道3、不合格辊道4、侧推机构（图1中未画出）、以及配套的电控柜5；所述入料辊道2与合格辊道3装配成沿直线方向布设；在入料辊道2与合格辊道3相衔接位置设置测量工位，测量装置1安装在所述测量工位；料辊道2与合格辊道3可以是一整体的辊道，或者两个独立但衔接的辊道；在合格辊道3的所述测量工位下游的一侧设置不合格辊道4，并且在另一侧设置侧推机构；所述侧推机构可包括侧推气缸和连接侧推气缸的推臂；所述测量装置1用于对待测部件的内孔道进行光检测。如图2所示，测量装置1包括升降框架101、上部升降机构102、下部升降机构103、上测头组104、下测头组105；所述上部升降机构102和下部升降机构103分别安装在升降框架101上；下部升降机构103位于上部升降机构102的下方；上测头组104安装在上安装部件106上，上安装部件106连接在上部升降机构102；下测头组105安装在下安装部件107上，下安装部件107连接在下部升降机构103；上测头组104和下侧头组105中均包括多个测头；上测头组104和下侧头组105中的测头按照待测部件的检测需要对应设置；各测头中包括光发射单元和/或光接收传感器单元；在本实施例中，待测部件a为缸盖，其中包括水道、油道等内孔道；在一些实施例中，上部升降机构102、下部升降机构103均可采用拖链机构，用于带动测头贴近或进入待测部件的内孔道，并在检测结束后从待测部件a的内孔道中回退；在一些实施例中，测头中的光发射单元选用940nm或850nm的近红外波段LED光源；在一些实施例中，测头中的光接收传感器单元选用红外硅光二极管，其接收波段在750nm-1100nm，对850nm和940nm的红外光都有很好的响应；更优地，在测量工位与不合格辊道4之间的合格辊道3上还可以设置刻印工位；刻印工位上方可布设一压紧机构，待测部件到位后进行压紧；刻印工位一侧设置一套刻印装置，刻印装置包括气动滑台和连接气动滑台的刻印头，由气动滑台驱动刻印头对待测部件进行标记刻印；例如刻印“检测合格”或日期或企业名称等；更优地，在测量工位上还可以设置定位夹具，用于待测部件的定位；合格辊道3上测量工位前侧设有阻挡机构，合格辊道3上在测量工位前侧可设置阻挡杆，阻挡杆连接阻挡气缸或电缸；在辊道上设置的阻挡机构通常是本领域比较常见的机构，再次不再赘述；合格辊道3上设有数个部件工位，例如3～4个部件工位，每个部件工位前侧均设有阻挡机构；进行测量时，缸盖从入料辊道2输送至测量工位，测量工位前的阻挡机构弹出，挡住缸盖；在上部升降机构102、下部升降机构103带动下，上测头组104和下测头组105中的测头分别从上下两侧对准或进入缸盖中的水道、油道等内孔道；光发射单元发射红外光，光接收传感器单元接收到红外光信号，产生电流信号发送给电控柜5，在电控柜中进行滤波放大、AD转换，变成数字信号，再通过RS485总线和以太网传输到上位机；上位机处理测量数据，上位机就可以分析得到缸盖各内孔道的检测结果。更优地，上测头组104和下测头组105中，部分测头能够多角度移动；以便靠近或进入待测部件内孔道的侧面开口；上安装部件106、下安装部件107上可设置相应的驱动机构，例如滑轨，或者电控机械手；测量结束后，测头先与缸盖分离；缸盖随后向下游输送；不合格的缸盖由侧推机构推向不合格辊道4；合格的缸盖经过合格辊道3输送到最后一个部件工位，合格辊道3末端的阻挡机构弹出，人工将缸盖在最后一个部件工位即下料位置取下。最后所应说明的是，以上具体实施方式仅用以说明本专利技术的技术方案而非限制，尽管参照实例对本专利技术进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本专利技术的技术方案进行修改或者等同本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光通道测量机，其特征在于，包括：测量装置(1)、入料辊道(2)、合格辊道(3)、不合格辊道(4)、侧推机构、以及配套的电控装置；/n所述入料辊道(2)与合格辊道(3)装配成沿直线方向布设；在入料辊道(2)与合格辊道(3)相衔接位置设置测量工位，测量装置(1)安装在所述测量工位；/n在合格辊道(3)的所述测量工位下游的一侧设置不合格辊道(4)，并且在另一侧设置侧推机构；/n所述测量装置(1)用于对待测部件的内孔道进行光检测。/n

【技术特征摘要】
1.一种光通道测量机，其特征在于，包括：测量装置(1)、入料辊道(2)、合格辊道(3)、不合格辊道(4)、侧推机构、以及配套的电控装置；
所述入料辊道(2)与合格辊道(3)装配成沿直线方向布设；在入料辊道(2)与合格辊道(3)相衔接位置设置测量工位，测量装置(1)安装在所述测量工位；
在合格辊道(3)的所述测量工位下游的一侧设置不合格辊道(4)，并且在另一侧设置侧推机构；
所述测量装置(1)用于对待测部件的内孔道进行光检测。


2.如权利要求1所述的光通道测量机，其特征在于，
所述测量装置(1)包括升降框架(101)、上部升降机构(102)、下部升降机构(103)、上测头组(104)、下测头组(105)；
所述上部升降机构(102)和下部升降机构(103)分别安装在升降框架(101)上；下部升降机构(103)位于上部升降机构(102)的下方；
上测头组(104)安装在上安装部件(106)上，上安装部件(106)连接在上部升降机构(102)；
下测头组(105)安装在下安装部件(107)上，下安装部件(107)连接在下部升降机构(103)；
上测头组(104)和下侧头组(105)中均包括多个测头；上测头组(104)和下侧头组(105)中的测头按照待测部件的检测需要...

【专利技术属性】
技术研发人员：周丰伟，康信坤，徐彬，
申请(专利权)人：无锡富瑞德测控仪器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32