本公开提供了一种产品抽样检测方法，包括：在生产方对质量特性变量总体均值的下限μ
Product sampling and testing methods and devices, electronic equipment, computer-readable media
【技术实现步骤摘要】
产品抽样检测方法及装置、电子设备、计算机可读介质
本公开实施例涉及计算机
，特别涉及一种产品抽样检测方法及装置、电子设备、计算机可读介质。
技术介绍
商品的质量是企业和消费者关注的重要重点，不仅影响消费者的消费热情，还影响企业的形象。因此，在将商品推向市场前，需要对商品的质量进行抽样检查(简称“抽检”)。目前，抽检方式主要有计数抽检和计量抽检，其中，计数抽样是按照抽检出不合格数量判定该批次是否合格，其具有较大的漏判风险，无法保障总体产品的质量，起不到预想的效果，无法守护产品的质量安全。计量抽检是根据样本质量特性的均值或标准差作为判定。其中，k法是产品抽样检验中的常用方法之一。在总体方差已知时的双侧法计量检验方案，公式复杂，需要附带表格，操作程序繁琐，且仅限于上限下限对称的特殊情形。公开内容本公开实施例提供一种产品抽样检测方法及装置、电子设备、计算机可读介质。第一方面，本公开实施例提供一种产品抽样检测方法，包括：在生产方对质量特性变量总体均值的下限μ′0和购买方对质量特性变量总体均值的下限μ″0之间设定下限变量k′；在生产方对质量特性变量总体均值的上限μ′1和购买方对质量特性变量总体均值的上限μ″1之间设定上限变量k″；并且，当样本均值满足时，判定产品质量合格；否则，判定产品质量不合格。在一些实施例中，在抽检产品时，判定产品合格的规则包括：当μ＝μ″0时，判定产品合格的接收概率当μ＝μ′0时，判定产品合格的接收概率当μ＝μ′1时，判定产品合格的接收概率当μ＝μ″1时，判定产品合格的接收概率其中，μ为质量特性变量的总体均值，μ′0、μ′1分别为生产方对质量特性变量总体均值的下限和上限，μ″0、μ″1分别购买方对质量特性变量总体均值的下限和上限，为样本均值，P为判定产品合格的接收概率，k′和k″分别为下限变量和上限变量；β0为μ＝μ″0时的容许最大取伪下限概率，β1为μ＝μ″1时的容许最大取伪上限概率；1-α0是μ＝μ′0时的容许最大弃真下限概率，1-α1是μ＝μ′1时的容许最大弃真上限概率。在一些实施例中，所述下限变量k′按照以下公式计算：和/或，所述上限变量k″按照以下公式计算：和/或，样本量n按照以下公式计算：其中，k′和k″分别为下限变量和上限变量；μ′0、μ′1分别为生产方对质量特性变量总体均值的下限和上限，μ″0、μ″1分别购买方对质量特性变量总体均值的下限和上限，为1-α0所对应的正态分布的上侧分位数，为1-α1所对应的正态分布的上侧分位数，为β0所对应的正态分布的上侧分位数，为β1所对应的正态分布的上侧分位数，σ2为方差。在一些实施例中，当所述容许最大取伪下限概率β0和所述容许最大取伪上限概率β1相等，且β0＝β1＝β时；所述样本量n按照以下公式计算：和/或，所述下限变量k′按照以下公式计算：和/或，所述上限变量k″按照以下公式计算：其中，μ′0、μ′1分别为生产方对质量特性变量总体均值的下限和上限，μ″0、μ″1分别购买方对质量特性变量总体均值的下限和上限，为1-α0所对应的正态分布的上侧分位数，为1-α1所对应的正态分布的上侧分位数，zβ为β所对应的正态分布的上侧分位数，σ2为方差。在一些实施例中，当容许最大弃真下限概率1-α0和容许最大弃真上限概率1-α1相等，且α0＝α1＝α时；所述样本量n按照以下公式计算：和/或，所述下限变量k′按照以下公式计算：和/或，上限变量k″按照以下公式计算：其中，μ′0、μ′1分别为生产方对质量特性变量总体均值的下限和上限，μ″0、μ″1分别购买方对质量特性变量总体均值的下限和上限，zα/2为1-α所对应的正态分布的上侧分位数，为β0所对应的正态分布的上侧分位数，为β1所对应的正态分布的上侧分位数，σ2为方差。在一些实施例中，当所述容许最大取伪下限概率β0和所述容许最大取伪上限概率β1相等，且β0＝β1＝β时；同时，容许最大弃真下限概率1-α0和容许最大弃真上限概率1-α1相等，且α0＝α1＝α时；所述样本量n按照以下公式计算：和/或，下限变量k′按照以下公式计算：和/或，所述上限变量k″按照以下公式计算：其中，μ′0、μ′1分别为生产方对质量特性变量总体均值的下限和上限，μ″0、μ″1分别购买方对质量特性变量总体均值的下限和上限，zα/2为1-α所对应的正态分布的上侧分位数，zβ为β所对应的正态分布的上侧分位数，σ2为方差。第二方面，本公开实施例提供一种产品抽样检测装置，包括：变量设定模块，用于在生产方对质量特性变量总体均值的下限μ10和购买方对质量特性变量总体均值的下限μ″0之间设定下限变量k′；以及，用于在生产方对质量特性变量总体均值的上限μ′1和购买方对质量特性变量总体均值的上限μ″1之间设定上限变量k″；判定模块，用于当样本均值满足时，判定产品质量合格；否则，判定产品质量不合格。在一些实施例中，所述设定模块判定产品合格的规则包括：当μ＝μ″0时，判定产品合格的接收概率当μ＝μ′0时，判定产品合格的接收概率当μ＝μ′1时，判定产品合格的接收概率当μ＝μ″1时，判定产品合格的接收概率其中，μ为质量特性变量的总体均值，μ′0、μ′1分别为生产方对质量特性变量总体均值的下限和上限，μ″0、μ″1分别购买方对质量特性变量总体均值的下限和上限，y为样本均值，P为判定产品合格的接收概率，k′和k″分别为下限变量和上限变量；β0为μ＝μ″0时的容许最大取伪下限概率，β1为μ＝μ″1时的容许最大取伪上限概率；1-α0是μ＝μ′0时的容许最大弃真下限概率，1-α1是μ＝μ′1时的容许最大弃真上限概率。在一些实施例中，所述下限变量k′按照以下公式计算：和/或，所述上限变量k″按照以下公式计算：和/或，样本量n按照以下公式计算：其中，k′和k″分别为下限变量和上限变量；μ′0、μ′1分别为生产方对质量特性变量总体均值的下限和上限，μ″0、μ″1分别购买方对质量特性变量总体均值的下限和上限，为1-α0所对应的正态分布的上侧分位数，为1-α1所对应的正态分布的上侧分位数，为β0所对应的正态分布的上侧分位数，为β1所对应的正态分布的上侧分位数，σ2为方差。第三方面，本公开实施例提供一种电子设备，其包括：一个或多个处理器；存储器，其上存储有一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器上述任意一种产品抽样检测的方法；一个或多个I/O接口，连接在所述处理器与存储器之间，配置为实现所述处理器与存储器的信息交互。第四方面，本公开实施例提供一种计算机可读本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种产品抽样检测方法，包括：/n在生产方对质量特性变量总体均值的下限μ′
【技术特征摘要】
1.一种产品抽样检测方法，包括：
在生产方对质量特性变量总体均值的下限μ′0和购买方对质量特性变量总体均值的下限μ″0之间设定下限变量k′；
在生产方对质量特性变量总体均值的上限μ′1和购买方对质量特性变量总体均值的上限μ″1之间设定上限变量k″；
并且，当样本均值满足时，判定产品的质量合格；否则，判定产品的质量不合格。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，在抽检产品时，产品的质量合格的判定规则包括：
当μ＝μ″0时，判定产品合格的接收概率
当μ＝μ′0时，判定产品合格的接收概率
当μ＝μ′1时，判定产品合格的接收概率
当μ＝μ″1时，判定产品合格的接收概率
其中，μ为质量特性变量的总体均值，μ′0、μ′1分别为生产方对质量特性变量总体均值的下限和上限，μ″0、μ″1分别购买方对质量特性变量总体均值的下限和上限，为样本均值，P为判定产品合格的接收概率，k′和k″分别为下限变量和上限变量；β0为μ＝μ″0时的容许最大取伪下限概率，β1为μ＝μ″1时的容许最大取伪上限概率；1-α0是μ＝μ′0时的容许最大弃真下限概率，1-α1是μ＝μ′1时的容许最大弃真上限概率。
3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述下限变量k′按照以下公式计算：
和/或，所述上限变量k″按照以下公式计算：
和/或，样本量n按照以下公式计算：
其中，k′和k″分别为下限变量和上限变量；μ′0、μ′1分别为生产方对质量特性变量总体均值的下限和上限，μ″0、μ″1分别购买方对质量特性变量总体均值的下限和上限，为1-α0所对应的正态分布的上侧分位数，为1-α1所对应的正态分布的上侧分位数，为β0所对应的正态分布的上侧分位数，为β1所对应的正态分布的上侧分位数，σ2为方差。
4.根据权利要求2所述的方法，其中，当所述容许最大取伪下限概率β0和所述容许最大取伪上限概率β1相等，且β0＝β1＝β时；
所述样本量n按照以下公式计算：
和/或，所述下限变量k′按照以下公式计算：
和/或，所述上限变量k″按照以下公式计算：
其中，μ′0、μ′1分别为生产方对质量特性变量总体均值的下限和上限，μ″0、μ″1分别购买方对质量特性变量总体均值的下限和上限，为1-α0所对应的正态分布的上侧分位数，为1-α1所对应的正态分布的上侧分位数，zβ为β所对应的正态分布的上侧分位数，σ2为方差。
5.根据权利要求2所述的方法，其中，当容许最大弃真下限概率1-α0和容许最大弃真上限概率1-α1相等，且α0＝α1＝α时；
所述样本量n按照以下公式计算：
和/或，所述下限变量k′按照以下公式计算：
和/或，上限变量k″按照以下公式计算：
其中，μ′0、μ′1分别为生产方对质量特性变量总体均值的下限和上限，μ″0、μ″1分别购买方对质量特性变量总体均值的下限和上限，zα/2为1-α所对应的正态分布的上侧分位数，为β0所对应的正态分布的上侧分位数，为β1所对应的正态分布的上侧分...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘亚文，杜子芳，
申请(专利权)人：刘亚文，杜子芳，
类型：发明
国别省市：北京;11
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。