本发明专利技术公开了一种磁瓦检测装置,包括沿磁瓦传送方向依次布置有进料传送带、第一导板机构、第一检测盘、第二导板机构、翻转机构、第三导板机构、第二检测盘,还包括:合格品传送机构,位于第一和第二检测盘之间且靠近第二检测盘的一侧,与第二检测盘的盘面落差在设定范围内,用于接收由第二检测盘的吹送机构所吹落的合格品;以及瑕疵品传送机构,位于第二检测盘的盘面下部,其起始端与至少一滑道衔接,用于接收由第一检测盘的第一剔除机构和由第二检测盘的第二剔除机构所剔除的瑕疵品/未检品。本发明专利技术实现了对不合格物料的分流,能够适应更快的分拣速度,物料通过性更好,杜绝混料、便于设备安装和维护,同时两检测盘的盘面利用率也伴随提升。
A magnetic tile testing device
【技术实现步骤摘要】
一种磁瓦检测装置
本专利技术涉及磁瓦表面缺陷和尺寸检测领域,尤其涉及一种磁瓦检测装置。
技术介绍
由铁氧体磁性材料、铷铁硼磁性材料等磁性材料制得的磁瓦在生产加工过程中可能存在缺陷,例如裂纹、掉块、杂质、打楞(打印)、气孔等,需要对每块磁瓦进行检查。目前普遍采用人工目检方式,由于人工目检劳动强度大,分拣效率低,漏检率高,针对磁瓦表面缺陷检测,趋向于采用机器视觉方法进行检测。为满足磁瓦的机器视觉检测的商业需求,本申请人提供了一种磁瓦检测装置(CN110639823A),如图16所示,其包括进料传送带10’、第一导板机构20’、第二导板机构40’、第三导板机构60’、第一检测盘30’和第二检测盘70’、翻转机构50’、以及集料传送机构80’,其中,第一检测盘30’和第二检测盘70’上分别设置有一组检测机构,该翻转机构50’包括上层传送带510’、下层传送带520’和翻转导引结构530’,用于磁瓦置放姿态的翻转。磁瓦在所述第一检测盘30’上为正面朝上的置放姿态,在第二检测盘70’上为背面朝上的第二置放姿态,且磁瓦在所述第一检测盘、翻转机构和第二检测盘上的形位取向与其传送的速度/线速度方向保持一致。上述磁瓦检测装置解决了磁瓦在传送检测过程中姿态稳定的问题,实现磁瓦的连续顺畅传输,进而满足磁瓦的机器视觉检测的商业需求。随着新能源电机技术的发展,衍生了较多种类和尺寸规格的磁瓦,如此各种磁瓦的检测项目不相同,同时磁瓦检测速率要求也不一致,如此需要磁瓦检测装置具有较好的通用性。现有的磁瓦检测装置均是针对特定种类和规格的磁瓦而开发的,在通用性上有待进一步提高。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种磁瓦检测装置,以提高磁瓦检测装置的通用性。为此,本专利技术提供了一种磁瓦检测装置,包括沿磁瓦传送方向依次布置有进料传送带、第一导板机构、第一检测盘、第二导板机构、翻转机构、第三导板机构、以及第二检测盘,还包括:合格品传送机构,位于第一检测盘和第二检测盘二者之间且靠近第二检测盘的一侧,与所述第二检测盘的盘面落差在设定范围内,用于接收由所述第二检测盘的吹送机构所吹落的合格品;以及瑕疵品传送机构,位于第二检测盘的盘面下部,其起始端与至少一滑道的下端口衔接,用于接收由第一检测盘的第一剔除机构和由所述第二检测盘的第二剔除机构二者所剔除的瑕疵品或未检品。进一步地,上述合格品出料机构的传送带和瑕疵品出料机构的传送带二者相互垂直布置,且二者的出料口相互远离。进一步地,上述视觉检测机构包括光源、相机和镜头,用于对磁瓦进行全方位视觉检测。进一步地,上述吹送机构和第三导板机构二者在所述第二检测盘上的圆周位置间隔小于1/4圆周盘面。进一步地,上述瑕疵品出料机构包括传送带、挡料槽和在所述挡料槽中设置的防撞短隔板,所述防撞短隔板用于将所述挡料槽沿宽度方向分为两个物料隔道。进一步地,上述滑道上敷设有缓冲防撞层。进一步地,上述传送带的起始端设有端口罩,其中,所述端口罩与滑道的下端口衔接。进一步地,上述第一检测盘和/或第二检测盘上设置有激光轮廓扫描仪。进一步地,上述第一导板机构、第二导板机构和第三导板机构均包括一对直角支架、连接至所述一对直角支架上的顶板、连接至所述顶板下方的导引部和取向部,其中,所述一对直角支架上设有高度调节结构,用于与传送带之间的间隙。进一步地,上述合格品传送机构包括传送带和侧护罩。与现有技术相比,本专利技术为不合格物料单独增设瑕疵品传送机构,实现对不合格物料的分流,能够适应更快的分拣速度,物料通过性更好,杜绝混料、便于设备安装和维护,并且伴随着对第二检测盘的圆周盘面的利用率的提升。除了上面所描述的目的、特征和优点之外,本专利技术还有其它的目的、特征和优点。下面将参照图,对本专利技术作进一步详细的说明。附图说明构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本专利技术的进一步理解,本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术,并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中:图1是待检测的磁瓦样品的立体结构示意图;图2示出了磁瓦处于正面朝上的置放状态;图3示出了磁瓦处于背面朝上的置放状态;图4示出了磁瓦的圆弧形的截面;图5是根据本专利技术的磁瓦检测装置的立体结构示意图一,其中,去除了成像检测设备;图6是根据本专利技术的磁瓦检测装置的立体结构示意图二,其中,去除了成像检测设备;图7是根据本专利技术的磁瓦检测装置的平面布局示意图;图8是根据本专利技术的磁瓦检测装置的第一导向机构的示意图;图9是根据本专利技术的磁瓦检测装置的第二导向机构的示意图;图10示出了图9所示的第二导向机构的背面结构;图11是根据本专利技术的磁瓦检测装置的第三导向机构的示意图;图12是根据本专利技术的磁瓦检测装置的合格品出料机构的示意图;图13是根据本专利技术的磁瓦检测装置中的合格品出料机构和瑕疵品出料机构的布局示意图;图14示出了磁瓦样品在磁瓦检测装置上连续传输流向;图15示出了根据本专利技术的磁瓦检测装置的结构示意图,其中,安装了成像检测设备;以及图16示出了现有技术的磁瓦检测装置的结构示意图。具体实施方式需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术。图1至图15示出了根据本专利技术的一些实施例。本专利技术的磁瓦检测装置用于连续快速检测磁瓦1,该磁瓦的结构在图1中示出,该磁瓦具有两种置放姿态,图2示出了磁瓦呈正面朝上放置时的第一置放姿态,此时磁瓦位姿稳定。图3示出了磁瓦在背面朝上放置时的第二置放姿态,此时位姿不稳定。图4示出了磁瓦的端面结构。上述磁瓦的检测部位包括:外弧面1b、内弧面1c、端面1d、侧面1e、倒角1f、R角。磁瓦1为块状固体,在水平面上具有两种置放姿态,对于每种置放姿态而言,磁瓦1的方位不定,在端面1a理论上可指向360°内任一方位。这样会给磁瓦各部分检测带来困难。在本专利技术中,为表示磁瓦的方位,定义了磁瓦的形位取向,该磁瓦的形位取向能够唯一指示磁瓦在传送过程中相对于传送带和检测盘的方位。在长度L≥宽度W的磁瓦中(如图1所示),将与磁瓦外弧面的中心轴线平行的长度方向1a定义为瓷瓦的形位取向;在宽度W>长度L的其他外形磁瓦中,将与磁瓦外弧面弦长方向平行的宽度方向定义为磁瓦的形位取向。结合参照图5至图15,本磁瓦检测装置包括进料传送带10、第一导板机构20、第一检测盘30、第二导板机构40、翻转机构50、第三导板机构60、第二检测盘70、合格品出料机构80、瑕疵品出料机构90、第一组检测机构110、以及第二组检测机构120。如图8所示,该第一导板机构20安装在送料传送带的机架上,包括导引部21和取向部22/23,该导引部21迫使磁瓦由进料传送带10滑移至第一检测盘30,该取向部22/23用于对磁瓦进行取向,使得磁瓦的形位取向与传送的线速度方本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种磁瓦检测装置,包括沿磁瓦传送方向依次布置有进料传送带(10)、第一导板机构(20)、第一检测盘(30)、第二导板机构(40)、翻转机构(50)、第三导板机构(60)、以及第二检测盘(70),其中,所述第一检测盘(30)和/或第二检测盘(70)上设置有视觉检测机构,其特征在于,还包括:/n合格品传送机构(80),位于第一检测盘(30)和第二检测盘(70)二者之间且靠近第二检测盘(70)的一侧,与所述第二检测盘(70)的盘面落差在设定范围内,用于接收由所述第二检测盘(70)的吹送机构(710)所吹落的合格品;以及/n瑕疵品传送机构(90),位于第二检测盘(70)的盘面下部,其起始端与至少一滑道(91)的下端口衔接,用于接收由第一检测盘(30)的第一剔除机构(310)和由所述第二检测盘(70)的第二剔除机构(720)二者所剔除的瑕疵品或未检品。/n
【技术特征摘要】
20200119 CN 20201005988811.一种磁瓦检测装置,包括沿磁瓦传送方向依次布置有进料传送带(10)、第一导板机构(20)、第一检测盘(30)、第二导板机构(40)、翻转机构(50)、第三导板机构(60)、以及第二检测盘(70),其中,所述第一检测盘(30)和/或第二检测盘(70)上设置有视觉检测机构,其特征在于,还包括:
合格品传送机构(80),位于第一检测盘(30)和第二检测盘(70)二者之间且靠近第二检测盘(70)的一侧,与所述第二检测盘(70)的盘面落差在设定范围内,用于接收由所述第二检测盘(70)的吹送机构(710)所吹落的合格品;以及
瑕疵品传送机构(90),位于第二检测盘(70)的盘面下部,其起始端与至少一滑道(91)的下端口衔接,用于接收由第一检测盘(30)的第一剔除机构(310)和由所述第二检测盘(70)的第二剔除机构(720)二者所剔除的瑕疵品或未检品。
2.根据权利要求1所述的磁瓦检测装置,其特征在于,所述合格品出料机构(80)的传送带(810)和瑕疵品出料机构(90)的传送带(910)二者相互垂直布置,且二者的出料口相互远离。
3.根据权利要求1所述的磁瓦检测装置,其特征在于,所述视觉检测机构包括光源、相机和镜头,用于对磁瓦进行全方位视觉检测。
4.根据权利要求1所述的磁...
【专利技术属性】
技术研发人员:孙旭,钱昊,刘勇,陈宏伟,李文浩,韦文波,李维,
申请(专利权)人:合肥市雅视智能科技有限公司,
类型:发明
国别省市:安徽;34
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