平整度检测设备、检测件和平整度检测方法技术

本发明专利技术公开一种平整度检测设备、检测件和平整度检测方法。平整度检测设备用于对待测表面进行平整度检测，其包括光网装置和检测件，光网装置用于提供光网，光网由若干条交错的光线构成网状，检测件至少包括抵靠部和遮挡部，抵靠部用于抵靠在待测表面上，遮挡部用于置于光网内，遮挡部构造为，当抵靠部抵靠在待测表面的具有不同平整度的位置时，遮挡部对光线的有效遮挡数量不同。本发明专利技术的平整度检测设备、检测件和平整度检测方法，将检测件置于光网中，检测件因检测位置的高度不同，实际遮挡光网中的光线的数量不同，通过遮挡光网中的光线的数量可以得到检测位置的高度，这种平整度的检测设备结构简单，制备成本低，平整度检测方法简单易操作。

Flatness testing equipment, parts and methods

【技术实现步骤摘要】
平整度检测设备、检测件和平整度检测方法
本专利技术涉及屏幕质量检测
，尤其涉及一种平整度检测设备、检测件和平整度检测方法。
技术介绍
现今，随着科技的发展，电子产品普及度越来越高，尤其是红外触控设备，红外触控设备通过在屏幕的侧边位置设置发射红外线的发射灯和接收红外线的接收器，进而在物体遮挡某些红外线的时候，得到触控位置。现有技术中，一方面，为了降低成本，增加红外触控设备的竞争力，发射灯和接收器由原来的圆头插件式灯珠更改为扁头插件式灯珠或者扁头贴片式灯珠，灯管的发射功率下降，灯珠内的灯管位置更加靠近玻璃；另一方面，玻璃的厚度越来越薄，越薄的玻璃在安装、使用过程中，极易变形，大尺寸的超薄的玻璃在安装在设备上时，也会因搬运、颠簸发生变形，为此，在安装玻璃的时候直接挤压玻璃使得玻璃在安装状态下呈内凹状态，进而减小玻璃的变形，提升触控体验。现有技术中，一方面，没有针对玻璃的平整度进行平整度测试，而是直接将玻璃安装在设备上，由于灯珠距离玻璃很近，一但出现因玻璃自身平整度造成的遮挡光线，即造成不合格产品，没有直接从原料的源头减小不合格产品的概率；另一方面，对于内凹安装的玻璃，现有技术没有对内凹玻璃进行平整度测试的设备，一旦当玻璃的内凹程度不在合理范围内，合格的产品也会在后期的颠簸、运输等使用过程中，造成产品不合格，进而降低用户体验。
技术实现思路
基于上述现状，本专利技术的主要目的在于提供一种平整度检测设备、检测件和平整度检测方法，以解决现有技术没有针对电子屏幕的原料和成品进行平整度检测的设备的问题。为实现上述目的，本专利技术采用的技术方案如下：一种平整度检测设备，用于对待测表面进行平整度检测，其包括光网装置和检测件，所述光网装置用于提供光网，所述光网由若干条交错的光线构成网状，所述检测件至少包括抵靠部和遮挡部，所述抵靠部用于抵靠在所述待测表面上，所述遮挡部用于置于所述光网内，所述遮挡部构造为，当所述抵靠部抵靠在所述待测表面的具有不同平整度的位置时，所述遮挡部对所述光线的有效遮挡数量不同。优选地，所述光网为纵横交错的直扫光网或者扇形光网。优选地，所述检测件包括锥形结构，所述锥形结构的侧面构成所述遮挡部，所述锥形结构的大端的端面构成所述抵靠部。优选地，还包括便于握持的手柄，所述手柄与所述锥形结构的小端相连。优选地，所述手柄包括呈杆状的手柄部和凸出部，所述凸出部沿所述手柄部的周向设置且凸出方向与所述手柄部的延伸方向呈夹角设置，所述凸出部用于标示握持的极限位置。优选地，所述待测表面包括多个检测位置，每个所述检测位置的所述光网的疏密程度一致。为实现上述目的，本专利技术还采用的技术方案如下：一种检测件，用于对红外触摸显示屏中的玻璃进行平整度检测，所述红外触摸显示屏能够形成红外光网，所述检测件包括抵靠部和遮挡部，所述抵靠部用于抵靠在所述玻璃表面上，所述遮挡部用于置于所述红外光网内，所述红外光网由若干条交错的红外光线构成网状，所述遮挡部构造为，当所述抵靠部抵靠在所述待测表面的具有不同平整度的位置时，所述遮挡部对所述红外光线的有效遮挡数量不同。优选地，所述检测件包括锥形结构，所述锥形结构的侧面构成所述遮挡部，所述锥形结构的大端的端面构成所述抵靠部。为实现上述目的，本专利技术采用的技术方案如下：一种平整度检测方法，用于对待测表面进行平整度检测，提供光网和检测件，所述光网由若干条交错的光线构成网状，所述检测件至少包括抵靠部和遮挡部，所述抵靠部用于抵靠在所述待测表面上，所述遮挡部用于置于所述光网内，所述遮挡部构造为，当所述抵靠部抵靠在所述待测表面的具有不同平整度的位置时，所述遮挡部对所述光线的有效遮挡数量不同；所述方法包括以下步骤：S1：将待测表面置于所述光网的一侧；S2：将所述遮挡部置于所述光网中，并使得所述抵靠部置于所述待测表面的检测位置；S3：获取在所述检测位置所述遮挡部遮挡的所述光网的光线数量；S4：根据步骤S3中获取的所述光线数量，得到所述待测表面的平整度。优选地，所述检测件包括锥形结构，所述锥形结构的侧面构成所述遮挡部，所述锥形结构的大端的端面构成所述抵靠部；所述步骤S4具体包括：S41：根据步骤S3中获取的所述光线数量，得到在所述检测位置所述遮挡部遮挡光线的位置距离锥顶的距离；S42：根据步骤S41得到的所述遮挡部遮挡光线的位置距离所述锥顶的距离，得到所述检测位置的高度；S43：根据步骤S42得到的多个所述检测位置的高度，得到所述待测表面的平整度。优选地，步骤S41中，所述遮挡部遮挡光线的位置距离锥顶的距离H2具体通过如下公式计算：H2＝H1*[(N1/N2)1/2]；其中，H1为大端距离锥顶的实际高度；N1为大端实际能够遮挡的光网的光线数量；N2为所述遮挡部遮挡光线的位置实际能够遮挡的光网的光线数量。优选地，还包括位于步骤S3后步骤S4前的步骤S5：步骤S5：判断步骤S3中获取的所述光线数量N2是否大于N1，若小于则执行S4，若大于，则退出。优选地，所述待测表面的外轮廓为矩形，所述检测位置距离所述矩形的某一侧边的距离大于或者等于所述一侧边与所述一侧边的相对的侧边之间的距离的四分之一。优选地，所述平整度检测方法使用上述平整度检测设备或者所述检测件为上述检测件。本专利技术的平整度检测设备、检测件和平整度检测方法，将检测件置于光网中，检测件因检测位置的高度不同，实际遮挡光网中的光线的有效面积不同，进而导致实际遮挡光网中的光线的数量不同，通过遮挡光网中的光线的数量可以得到检测位置的高度，这种平整度的检测设备结构简单，制备成本低，平整度检测方法简单易操作。附图说明以下将参照附图对根据本专利技术的平整度检测设备、检测件和平整度检测方法的优选实施方式进行描述。图1为根据本专利技术的一种优选实施方式的检测件的结构示意图；图2为根据本专利技术的一种优选实施方式的平整度检测方法的测试原理图；图3为与图2对应的俯视图；图4为与图2对应的计算原理示意图；图5为根据本专利技术的一种优选实施方式的光网装置形成的扇形光网的结构示意图；图6为根据本专利技术的一种优选实施方式的检测位置的结构示意图。图中：1、检测位置一；2、检测件；21、遮挡部；22、手柄；221、手柄部；222、凸出部；23、抵靠部；3、检测位置二；4、光网；5、待测表面。具体实施方式针对现有技术没有针对电子屏幕的原料和成品进行平整度检测的设备的问题，本专利技术提供一种平整度检测设备。本专利技术的平整度检测设备，其用于对待测件的待测表面的平整度进行检测，例如，检测玻璃表面的平整度，再例如，检测屏幕表面的平整度，换句话说，可以在将玻璃组装在电子产品上之前对玻璃进行平整度测试，也可以在将玻璃组装在电子产品上之后对玻璃形成的屏幕进行平整度测试。...

【技术保护点】
1.一种平整度检测设备，用于对待测表面进行平整度检测，其特征在于，包括光网装置和检测件，所述光网装置用于提供光网，所述光网由若干条交错的光线构成网状，所述检测件至少包括抵靠部和遮挡部，所述抵靠部用于抵靠在所述待测表面上，所述遮挡部用于置于所述光网内，所述遮挡部构造为，当所述抵靠部抵靠在所述待测表面的具有不同平整度的位置时，所述遮挡部对所述光线的有效遮挡数量不同。/n

【技术特征摘要】
1.一种平整度检测设备，用于对待测表面进行平整度检测，其特征在于，包括光网装置和检测件，所述光网装置用于提供光网，所述光网由若干条交错的光线构成网状，所述检测件至少包括抵靠部和遮挡部，所述抵靠部用于抵靠在所述待测表面上，所述遮挡部用于置于所述光网内，所述遮挡部构造为，当所述抵靠部抵靠在所述待测表面的具有不同平整度的位置时，所述遮挡部对所述光线的有效遮挡数量不同。


2.根据权利要求1所述的平整度检测设备，其特征在于，所述光网为纵横交错的直扫光网或者扇形光网。


3.根据权利要求1所述的平整度检测设备，其特征在于，所述检测件包括锥形结构，所述锥形结构的侧面构成所述遮挡部，所述锥形结构的大端的端面构成所述抵靠部。


4.根据权利要求3所述的平整度检测设备，其特征在于，还包括便于握持的手柄，所述手柄与所述锥形结构的小端相连。


5.根据权利要求4所述的平整度检测设备，其特征在于，所述手柄包括呈杆状的手柄部和凸出部，所述凸出部沿所述手柄部的周向设置且凸出方向与所述手柄部的延伸方向呈夹角设置，所述凸出部用于标示握持的极限位置。


6.根据权利要求1-5任一项所述的平整度检测设备，其特征在于，所述待测表面包括多个检测位置，每个所述检测位置的所述光网的疏密程度一致。


7.一种检测件，用于对红外触摸显示屏中的玻璃进行平整度检测，所述红外触摸显示屏能够形成红外光网，其特征在于，所述检测件包括抵靠部和遮挡部，所述抵靠部用于抵靠在所述玻璃表面上，所述遮挡部用于置于所述红外光网内，所述红外光网由若干条交错的红外光线构成网状，所述遮挡部构造为，当所述抵靠部抵靠在所述待测表面的具有不同平整度的位置时，所述遮挡部对所述红外光线的有效遮挡数量不同。


8.根据权利要求7所述的检测件，其特征在于，所述检测件包括锥形结构，所述锥形结构的侧面构成所述遮挡部，所述锥形结构的大端的端面构成所述抵靠部。


9.一种平整度检测方法，用于对待测表面进行平整度检测，其特征在于，提供光网和检测件，所述光网由若干条交错的光线构成网状，所述检测件至少包括抵靠部和遮挡部，所述抵靠部用于抵靠在所述待测表面上，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：于子鹏，
申请(专利权)人：深圳市鸿合创新信息技术有限责任公司，
类型：发明
国别省市：广东;44