眼科装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种眼科装置，其具有波长扫描型的光源、参照光学系统、校正光学系统、接收对由校正光学系统引导的校正光和由参照光学系统引导的参照光进行合波的校正用干涉光的受光元件、对当接收到校正用干涉光时被从受光元件输出的校正用干涉信号进行采样的信号处理部和运算部。信号处理部在光的频率变化1个周期时的全频带中的第1频带对校正用干涉信号进行采样，且在与第1频带不同的第2频带对校正用干涉信号进行采样。运算部计算在第1频带中被采样且经傅里叶变换后的校正用干涉信号的第1波形、与在第2频带中被采样且经傅里叶变换后的校正用干涉信号的第2波形之间的偏移量。据此，能抑制在不同频带对干涉信号进行采样时发生的干涉信号失真。

Ophthalmic device

【技术实现步骤摘要】
眼科装置
本说明书所公开的技术涉及一种眼科装置。详细而言，涉及一种使用光干涉来测定受检眼的眼科装置。
技术介绍
开发出拍摄受检眼内部的层析图像(tomographicimage)的眼科装置。例如，专利文献1所记载的眼科装置具有：测定光学系统，其向受检眼的内部照射来自光源的光且引导其反射光；和参照光学系统，其向参照面照射来自光源的光且引导其反射光。在测定时，根据对由测定光学系统引导的反射光(测定光)和由参照光学系统引导的反射光(参照光)进行合波(multiplexes)而形成的干涉光来生成受检眼的层析图像。现有技术文献专利文献专利文献1：日本专利技术专利公开公报特开2016-41218号
技术实现思路
【专利技术要解决的技术问题】当使用专利文献1那样的眼科装置来测定受检眼时，根据干涉光来获取表示沿测定光轴的深度方向的位置与信号强度的关系的层析信息(所谓的A扫描信息)。例如，在获取受检眼的层析图像的情况下，使用测定光进行扫描来获取多个A扫描信息，并使用这些多个A扫描信息生成受检眼的层析图像。或者，为了提高测定精度，在同一位置获取多次层析信息的情况下，也一边向同一位置照射测定光一边获取多个A扫描信息。为了获取多个A扫描信息，需要多次对干涉信号进行采样。另一方面，用于这样的眼科装置的波长扫描型的光源输出的光的波长被周期性进行扫描，与此对应，光的频率也周期性变化。一般而言，为了缩短测定时间，期望高速获取A扫描信息。例如，通过加快从光源输出的光的波长的扫描速度，能够缩短受检眼的测定时间，但产生在技术上难以实现和成本增高的问题。因此，正在研究每当从光源输出的光的频率变化1个周期时，在不同的频带获取多个A扫描信息。然而，当在不同的频带采样(获取)干涉信号时，波长(频带)按所采样的每一干涉信号而不同，因此有时按每一干涉信号而发生位置偏移和信号强度的偏移。例如，当使用这样的干涉信号来生成层析图像时发生图像失真(图像畸变)或亮度不均。本说明书公开了抑制当在不同的频带对干涉信号进行采样时发生的干涉信号失真的技术。【用于解决技术问题的方式】本说明书所公开的眼科装置使用光干涉来测定受检眼。眼科装置具有波长扫描型的光源、参照光学系统、校正光学系统、受光元件、信号处理部和运算部，其中，所述参照光学系统引导来自光源的光作为参照光；所述校正光学系统引导来自光源的光作为校正光；所述受光元件接收校正用干涉光，该校正用干涉光是对由校正光学系统所引导的校正光和由参照光学系统所引导的参照光进行合波(multiplexes)的光；所述信号处理部对当接收到校正用干涉光时从受光元件输出的校正用干涉信号进行采样。来自光源的光的频率周期性变化。信号处理部至少在来自光源的光的频率变化1个周期时的全频带中的第1频带对校正用干涉信号进行采样，并且在来自光源的光的频率变化1个周期时的全频带中的与第1频带不同的第2频带对校正用干涉信号进行采样。运算部计算第1波形与第2波形之间的偏移量，其中，所述第1波形为在第1频带中被采样且经傅里叶变换后的校正用干涉信号的波形；所述第2波形为在第2频带中被采样且经傅里叶变换后的校正用干涉信号的波形。在上述眼科装置中，通过使用由被同一校正光学系统引导的校正光获取到的校正用干涉信号，即使在不同的频带对干涉信号进行多次采样，也能计算出干涉信号间的波形的偏移量。即，在第1频带中被采样的校正用干涉信号的第1波形与在第2频带中被采样的校正用干涉信号的第2波形是表示同一对象(校正光)的波形，因此应该在同一位置以同一波形(形状)被检测到。因此，通过计算第1波形和第2波形的偏移量，能够检测出在不同的频带被采样的干涉信号(校正用干涉信号)的偏移量。通过根据被检测出的偏移量对干涉信号进行修正，能够抑制测定到受检眼时的干涉信号的失真。附图说明图1是表示实施例1所涉及的眼科装置的光学系统的概略结构的图。图2是表示实施例1所涉及的眼科装置的控制系统的框图。图3是用于说明零点、参照光程、测定光程和校正光程的关系的图。图4是用于说明在从光源装置输出的光的波长变化1个周期期间多次对干涉信号进行采样的时刻的图(采样的波长区域独立的情况)。图5是用于说明使光的波长变化1个周期的速度与改变扫描角的速度的关系的图，(a)表示本实施例所涉及的眼科装置的测定光的照射位置与时间的关系、和波长与时间的关系，(b)表示(a)的时间t1～t2的测定光的照射位置与时间的关系，(c)表示比较例的眼科装置的时间t1～t2的测定光的照射位置与时间的关系。图6是用于说明处理干涉信号波形的步骤的图。图7表示是修正在不同的频带对干涉信号进行采样时发生的干涉信号的失真的处理一例的流程图。图8是用于说明在从光源装置输出的光的波长变化1个周期期间多次对干涉信号进行采样的时刻的图(采样的波长区域部分重叠的情况)。图9是表示使用获取到的A扫描信息生成的层析图像的示意图，(a)是使用没有发生干涉信号的位置偏移和信号强度的偏移的A扫描信息生成的层析图像的示意图，(b)是使用发生干涉信号的位置偏移的A扫描信息生成的层析图像的示意图。图10是表示实施例2所涉及的眼科装置的光学系统的概略结构的图。具体实施方式下面列举所说明的实施例的主要特征。另外，以下所记载的技术要素是分别独立的技术要素，单独或者通过各种组合来发挥技术上的有用性，并不限定于申请时技术方案所记载的组合。(特征1)在本说明书所公开的眼科装置中，运算部也可以计算第1波形与第2波形之间在深度方向上的位置的偏移量。根据该结构，通过根据计算出的深度方向上的偏移量修正干涉信号，能够适当修正在不同的频带被采样的干涉信号在深度方向上的偏移量。(特征2)在本说明书所公开的眼科装置中，运算部也可以计算第1波形的形状与第2波形的形状之间的偏移量。根据这样的结构，根据计算出的波形的形状的偏移量来修正干涉信号，据此，能够适当修正在不同的频带被采样的干涉信号的信号强度的偏移量。(特征3)本说明书所公开的眼科装置还可以具有测定光学系统，该测定光学系统向受检眼照射来自光源的光，并且引导来自受检眼的反射光。校正光学系统也可以具有校正部件，该校正部件具有反射来自光源的光的反射面。校正部件也可以以可拆卸的方式被配置在测定光学系统的光路上。当校正部件未被配置在测定光学系统的光路上时，能够在测定光学系统的光路上配置受检眼。根据这样的结构，校正部件以可拆卸的方式被配置在测定光学系统的光路上。例如，校正部件被配置在当获取校正用干涉信号时与测定时受检眼所位置的位置大致一致的位置。当没有将校正部件设置在眼科装置内时，能够易于构成眼科装置。(特征4)本说明书所公开的眼科装置也可以具有测定光学系统，该测定光学系统向受检眼照射来自光源的光，并且引导来自受检眼的反射光。校正光学系统也可以具有校正部件，该校正部件具有反射来自光源的光的反射面。也可以构成为，使测定光学系统的光路和校正光学系统的光路的至少一部分不同。校正部件也可以被配置在校本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种眼科装置，其使用光干涉来测定受检眼，其特征在于，/n具有波长扫描型的光源、参照光学系统、校正光学系统、受光元件、信号处理部和运算部，其中，/n所述参照光学系统引导来自所述光源的光作为参照光；/n所述校正光学系统引导来自所述光源的光作为校正光；/n所述受光元件接收校正用干涉光，该校正用干涉光是对由所述校正光学系统所引导的所述校正光和由所述参照光学系统所引导的所述参照光进行合波的光；/n所述信号处理部对当接收到所述校正用干涉光时从所述受光元件输出的校正用干涉信号进行采样，/n来自所述光源的光的频率周期性变化，/n所述信号处理部至少在来自所述光源的光的频率变化1个周期时的全频带中的第1频带对所述校正用干涉信号进行采样，并且在来自所述光源的光的频率变化1个周期时的全频带中的与所述第1频带不同的第2频带对所述校正用干涉信号进行采样，/n所述运算部计算第1波形与第2波形之间的偏移量，其中，所述第1波形为在所述第1频带中被采样且经傅里叶变换后的所述校正用干涉信号的波形；所述第2波形为在所述第2频带中被采样且经傅里叶变换后的所述校正用干涉信号的波形。/n

【技术特征摘要】
20181205 JP 2018-2281261.一种眼科装置，其使用光干涉来测定受检眼，其特征在于，
具有波长扫描型的光源、参照光学系统、校正光学系统、受光元件、信号处理部和运算部，其中，
所述参照光学系统引导来自所述光源的光作为参照光；
所述校正光学系统引导来自所述光源的光作为校正光；
所述受光元件接收校正用干涉光，该校正用干涉光是对由所述校正光学系统所引导的所述校正光和由所述参照光学系统所引导的所述参照光进行合波的光；
所述信号处理部对当接收到所述校正用干涉光时从所述受光元件输出的校正用干涉信号进行采样，
来自所述光源的光的频率周期性变化，
所述信号处理部至少在来自所述光源的光的频率变化1个周期时的全频带中的第1频带对所述校正用干涉信号进行采样，并且在来自所述光源的光的频率变化1个周期时的全频带中的与所述第1频带不同的第2频带对所述校正用干涉信号进行采样，
所述运算部计算第1波形与第2波形之间的偏移量，其中，所述第1波形为在所述第1频带中被采样且经傅里叶变换后的所述校正用干涉信号的波形；所述第2波形为在所述第2频带中被采样且经傅里叶变换后的所述校正用干涉信号的波形。


2.根据权利要求1所述的眼科装置，其特征在于，
所述运算部计算所述第1波形与所述第2波形之间在深度方向上的位置的偏移量。


3.根据权利要求1或2所述的眼科装置，其特征在于，
所述运算部计算所述第1波形的形状与所述第2波形的形状之间的偏移量。


4.根据权利要求1～3中任一项所述的眼科装置，其特征在于，
还具有测定光学系统，该测定光学系统向受检眼照射来自所述光源的光，并且引导来自所述受检眼的反射光，
所述校正光学系...

【专利技术属性】
技术研发人员：野泽有司，山成正宏，加茂考史，
申请(专利权)人：株式会社多美，
类型：发明
国别省市：日本;JP