I2C总线测试方法，测试装置及计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种I2C总线测试方法，测试装置及计算机可读存储介质，I2C总线测试装置与示波器通信连接，示波器包括第一探针与第二探针，待测设备包括I2C总线，I2C总线包括串行数据线与串行时钟线，第一探针与串行数据线连接，第二探针与串行时钟线连接；I2C总线测试方法包括：获取用户输入的测试路径；根据测试路径，获取测试配置文件；将配置文件发送至示波器，以供示波器根据配置文件更新配置参数；向示波器发送测试指令，并接收示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果。本发明专利技术提供一种I2C总线测试方法，测试装置及计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中I2C总线测试需要测试人员手动设置测试参数，测试效率低的问题。

I2C bus test method, test device and computer readable storage medium

【技术实现步骤摘要】
I2C总线测试方法，测试装置及计算机可读存储介质
本专利技术涉及硬件测试
，尤其涉及一种I2C总线测试方法，测试装置及计算机可读存储介质。
技术介绍
集成电路总线(InterIntegratedCircuitBus，I2C)是一种两线式串行总线，主要应用于集成电路设计中，I2C总线包括串行数据线(SerialData，SDA)与串行时钟线(SerialClock，SCL)两根数据传输线，并通过SDA与SCL在器件之间传输信息。现有技术中，在对具有I2C协议的主板进行I2C总线测试时，需要测试人员手动输入测试参数，并根据测试得到的波形进行判断获得测试数据，这要求测试人员不仅对I2C协议具有一定的了解，还需要测试人员能够熟练的掌握测试数据的确定方式，在I2C总线测试中，由于需要设置的测试参数较多，在测试人员进行设置时，需要多次对测试参数进行确认，从而影响I2C总线的测试效率。
技术实现思路
本专利技术提供一种I2C总线测试方法，测试装置及计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中I2C总线测试需要测试人员手动设置测试参数，测试效率低的问题。为实现上述目的，本专利技术提出了一种I2C总线测试方法，应用于I2C总线测试装置，所述I2C总线测试装置与示波器通信连接，所述示波器包括第一探针与第二探针，待测设备包括I2C总线，所述I2C总线包括串行数据线与串行时钟线，所述第一探针与所述串行数据线连接，所述第二探针与所述串行时钟线连接；所述I2C总线测试包括：获取用户输入的测试路径；根据所述测试路径，获取测试配置文件；将所述配置文件发送至所述示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数；向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果。可选的，所述将所述配置文件发送至所述示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数的步骤，包括：根据所述配置文件，确定所述示波器的第一配置参数与所述I2C测试通道；根据所述I2C测试通道，确定所述I2C测试测试通道关联的第二配置参数；将所述第一配置参数与所述第二配置参数发送至所述示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数。可选的，所述向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果的步骤包括：向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试波形；根据所述测试波形，获取所述测试波形的特征参数；根据所述特征参数，确定所述测试数据；根据所述测试数据及预设合格范围进行对比，输出测试结果。可选的，所述测试波形包括第一测试波形与第二测试波形，所述向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果的步骤，包括：向所述示波器发送测试指令，并同时接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的所述第一测试波形与所述第二测试波形；根据所述第一测试波形获取第一测试参数，以及根据所述第二测试波形获取第二测试参数；根据所述第一特征参数与所述第二测试参数，确定所述测试数据；根据所述测试数据及预设合格范围进行对比，输出测试结果。可选的，所述根据所述测试数据及预设合格范围进行对比，输出测试结果的步骤，包括：当所述测试数据位于所述预设合格范围内时，输出测试合格的所述测试结果；当所述测试数据位于所述预设合格范围外时，输出测试不合格的所述测试结果。可选的，所述测试参数包括串行时钟信号的数据建立时间，串行时钟信号的数据保持时间，串行时钟信号的低电平时间，串行时钟信号的高电平时间，串行数据信号的低输入电压、串行数据信号的高输入电压。为实现上述目的，本申请提出一种I2C总线测试装置，所述I2C总线测试装置包括上位机与示波器，所述上位机与所述示波器通信连接，所述示波器通过探针与待测设备的I2C总线连接，所述上位机包括处理器、存储器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时还实现如上述任一项实施方式所述的I2C总线测试方法的步骤。可选的，所述探针包括第一探针与第二探针，所述I2C总线包括串行数据线和串行时钟线，所述第一探针与所述串行数据线连接，所述第二探针与串行时钟线连接。为实现上述目的，本申请提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有I2C总线测试程序，所述I2C总线测试程序被处理器执行时实现如上述任一项实施方式所述的I2C总线测试方法的步骤。本申请提出的技术方案中，所述I2C总线测试方法应用于I2C总线测试装置，所述I2C总线测试装置与示波器通信连接，所述I2C总线测试装置包括上位机与示波器，所述示波器包括第一探针与第二探针，待测设备包括I2C总线，所述I2C总线包括串行数据线与串行时钟线，所述第一探针与所述串行数据线连接，所述第二探针与所述串行时钟线连接；在对待测设备进行I2C总线测试时，首先获取用户输入的测试路径，并在所述测试路径中获取关联的测试配置文件，并在获取所述配置文件后，将所述配置文件发送至示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数；向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果，通过调用所述测试配置文件，能够使测试人员在对I2C总线测试时，自动获取与待测设备关联的测试参数，并自动执行对应的测试程序，从而解决了现有技术中I2C总线测试需要测试人员手动设置测试参数，测试效率低的问题。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。图1是本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的终端结构示意图；图2是本专利技术I2C总线测试方法实施例1的流程示意图；图3是本专利技术I2C总线测试方法实施例2的流程示意图；图4是本专利技术I2C总线测试方法实施例3的流程示意图；图5是本专利技术I2C总线测试方法实施例4的流程示意图；图6是本专利技术I2C总线测试方法实施例5的流程示意图。本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。需要说明，本专利技术实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种I2C总线测试方法，其特征在于，应用于I2C总线测试装置，所述I2C总线测试装置与示波器通信连接，所述示波器包括第一探针与第二探针，待测设备包括I2C总线，所述I2C总线包括串行数据线与串行时钟线，所述第一探针与所述串行数据线连接，所述第二探针与所述串行时钟线连接；所述I2C总线测试包括：/n获取用户输入的测试路径；/n根据所述测试路径，获取测试配置文件；/n将所述配置文件发送至所述示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数；/n向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种I2C总线测试方法，其特征在于，应用于I2C总线测试装置，所述I2C总线测试装置与示波器通信连接，所述示波器包括第一探针与第二探针，待测设备包括I2C总线，所述I2C总线包括串行数据线与串行时钟线，所述第一探针与所述串行数据线连接，所述第二探针与所述串行时钟线连接；所述I2C总线测试包括：
获取用户输入的测试路径；
根据所述测试路径，获取测试配置文件；
将所述配置文件发送至所述示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数；
向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果。


2.如权利要求1所述的I2C总线测试方法，其特征在于，所述将所述配置文件发送至所述示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数的步骤，包括：
根据所述配置文件，确定所述示波器的第一配置参数与所述I2C测试通道；
根据所述I2C测试通道，确定所述I2C测试测试通道关联的第二配置参数；
将所述第一配置参数与所述第二配置参数发送至所述示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数。


3.如权利要求1所述的I2C总线测试方法，其特征在于，所述向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果的步骤包括：
向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试波形；
根据所述测试波形，获取所述测试波形的特征参数；
根据所述特征参数，确定所述测试数据；
根据所述测试数据及预设合格范围进行对比，输出测试结果。


4.如权利要求2所述的I2C总线测试方法，其特征在于，所述测试波形包括第一测试波形与第二测试波形，所述向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果的步骤，包括：
向所述示波器发送测试指令...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡浩，
申请(专利权)人：深圳宝龙达信创科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44